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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2011-11-28
13:50
宮崎 ニューウェルシティ宮崎 A Dynamically Configurable NoC Test Access Mechanism
Takieddine SbiaiKazuteru NambaHideo ItoChiba Univ.VLD2011-60 DC2011-36
 [more] VLD2011-60 DC2011-36
pp.49-54
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2011-11-29
10:15
宮崎 ニューウェルシティ宮崎 2枚のFPGAボードとPCを使用したUAV搭載CP-SAR画像処理システム
大石航志難波一輝伊藤秀男ヨサファット テトォコ スリ スマンティヨ千葉大RECONF2011-47
我々のプロジェクトでは小型衛星において円偏波合成開口レーダ(CP-SAR)の運用を目指している.現在SAR画像処理は地上... [more] RECONF2011-47
pp.37-41
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2011-11-29
09:25
宮崎 ニューウェルシティ宮崎 スキャンチェーンの再構成による千葉大スキャンテストデータ圧縮率向上手法
赤川慎人難波一輝伊藤秀男千葉大VLD2011-72 DC2011-48
テスト容易化設計のうち近年増加している遅延故障の検出に対応した手法の1種にスキャン設計がある.このスキャン設計の1つとし... [more] VLD2011-72 DC2011-48
pp.121-126
DC, CPSY
(共催)
2010-04-13
15:40
東京 東京工業大学(大岡山) ソフトエラー訂正機能を有するBILBOフリップフロップ
難波一輝伊藤秀男千葉大CPSY2010-4 DC2010-4
本論文ではソフトエラー訂正機能を有するBILBOフリップフロップの構成を示している.提案フリップフロップは既存のソフトエ... [more] CPSY2010-4 DC2010-4
pp.15-20
DC 2010-02-15
13:20
東京 機械振興会館 差分による遅延測定法の実行時間と面積の削減
田辺 融湊 浩久加藤健太郎難波一輝伊藤秀男千葉大DC2009-71
近年のVLSIにおける微細化や高集積化,高速化に伴い,回路内の信号伝播時間がわずかに変化する微小遅延欠陥が問題視されてい... [more] DC2009-71
pp.39-44
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2009-12-03
10:20
高知 高知市文化プラザ ソフトエラー検出機能を有するBILBOレジスタ
菅澤正弘難波一輝伊藤秀男千葉大VLD2009-50 DC2009-37
近年,LSIの微細化,低電力化に伴い,ソフトエラーの発生が重大な問題となっている.ソフトエラーはメモリだけでなく,論理回... [more] VLD2009-50 DC2009-37
pp.61-66
DC 2008-12-12
14:50
山口 サンライフ萩 インターネット利用システムにおけるIntegrityの定量的評価
今野 宏北神正人難波一輝伊藤秀男千葉大DC2008-63
インターネットを利用したシステムは社会に広く普及しており,その信頼性の評価はますます重要になっている. ところが,信頼性... [more] DC2008-63
pp.21-26
DC, CPSY
(共催)
2008-04-23
15:30
東京 東大・武田ホール 耐ソフトエラーラッチの検出不可能な固定故障の影響
中島健吾難波一輝伊藤秀男千葉大CPSY2008-8 DC2008-8
近年のVLSIの微細化に伴い,ソフトエラーの発生率が増加し,ソフトエラー対策技術が重要となってきている.ソフトエラー対策... [more] CPSY2008-8 DC2008-8
pp.43-48
DC, CPSY
(共催)
2008-04-23
16:15
東京 東大・武田ホール 幅の広いエラーパルス検出機能を有する耐ソフトエラーFF
阮 双玉難波一輝伊藤秀男千葉大CPSY2008-9 DC2008-9
VLSI の微細化および低電力化に伴い論理回路におけるソフトエラーが問題となってきている.近年では,メモリ部やラッチ回路... [more] CPSY2008-9 DC2008-9
pp.49-54
DC 2008-02-08
13:00
東京 機械振興会館 二線式論理を用いたFPGAのソフトエラーに対するフォールトセキュア性
三浦健宏難波一輝伊藤秀男千葉大DC2007-74
近年,回路の微細化,高集積化に伴いソフトエラー発生率が増加している.ソフトエラーが記憶素子に発生した場合,新しい値が書き... [more] DC2007-74
pp.45-50
DC 2007-12-07
13:15
山口 下関市勤労福祉会館 インターネット利用遠隔システムの信頼性評価法
片多昭裕北神正人難波一輝伊藤秀男千葉大DC2007-60
近年,通信インフラの発達によって遠隔システムが増えてきた.それらのうち,インターネットを通信路として利用しているものも多... [more] DC2007-60
pp.1-6
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(共催)
CPSY, RECONF, IPSJ-ARC
(併催) [詳細]
2007-11-20
10:05
福岡 北九州国際会議場 遅延故障テスト容易化FF方式の下での縮退故障テストデータ圧縮法
加藤健太郎難波一輝伊藤秀男千葉大VLD2007-70 DC2007-25
本論文では,遅延故障テスト容易化フリップフロップ( 以下FF と略記) 方式の下での縮退故障テストデータ圧縮法を提案する... [more] VLD2007-70 DC2007-25
pp.1-6
CPSY, DC
(共催)
2007-04-20
13:45
東京 産総研臨海副都心センター 遅延故障テスト容易化耐ソフトエラーラッチの設計
池田卓史難波一輝伊藤秀男千葉大CPSY2007-1 DC2007-1
近年,LSIの微細化,高集積化に伴い,回路の臨界電荷量が減少し,また,動作周波数が増加している.臨界電荷量の低下はソフト... [more] CPSY2007-1 DC2007-1
pp.1-6
PRMU, HIP
(共催)
2007-02-23
10:30
神奈川 東工大(すずかけ台キャンパス) 情報家電間の親和性・競合性に基づく連携動作支援手法
星野大輔難波一輝北神正人伊藤秀男千葉大
 [more] PRMU2006-226 HIP2006-119
pp.29-34
CPSY, DC
(共催)
2006-04-14
10:40
東京 東大武田ホール 粗粒度動的再構成可能デバイスのPE部テストのためのDFT
加藤健太郎姚 玉敏難波一輝伊藤秀男千葉大
本論文ではマルチコンテキストベース動的再構成可能デバイスのPE(Processing Element)部のBIST(組み... [more] CPSY2006-4 DC2006-4
pp.19-24
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