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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| OFT | 2017-05-25 14:55 |
島根 | 島根大学（松江キャンパス） | 偏波ダイバーシティを用いたブリルアン光相関領域反射計測法による歪み測定の速度改善 ○古川 靖・志田秀夫・手塚信一郎・松浦 聡・足立正二（横河電機）  OFT2017-3 |
我々は，偏波ダイバーシティを用いたブリルアン光相関領域反射計測法(BOCDR)システムを開発した．偏波ダイバーシティはシ... [more] | OFT2017-3 pp.11-16 |
| VLD | 2010-09-27 16:30 |
京都 | 京都工繊大 60周年記念館 | ［招待講演］ディジタルアシストアナログ回路向けの自動テスト生成フレームワーク ○小松 聡・Mohamed Abbas（東大）・古川靖夫（アドバンテスト）・浅田邦博（東大） VLD2010-46 |
本稿では、高速シリアルリンク内の適応型イコライザを題材としてディジタルアシストアナログ回路技術を用いた回路向けの自動テス... [more] | VLD2010-46 pp.25-30 |
| ICD, CPM (共催) |
2005-01-28 16:15 |
東京 | 機械振興会館 | 65nm時代以降のSoCデバイステスト技術 ～ Low-k/Cu配線技術対応の試験および解析手法 ～ ○山崎 眞・古川靖夫（アドバンテスト） |
高性能化するSoCデバイスにおける歩留まり向上とテスト品質の確保という課題を両立するため、デバイス毎に試験条件を最適化す... [more] | CPM2004-173 ICD2004-218 pp.65-70 |
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