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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| VLD | 2016-03-01 11:20 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | タイミングエラー耐性を持つAES暗号回路の設計 ○吉田慎之介・史 又華・柳澤政生・戸川 望（早大）  VLD2015-123 |
近年，情報化の進展に伴い暗号回路の重要性が増加している．AESは理論的に安全な暗号技術として広く知られているが，クロック... [more] | VLD2015-123 pp.73-78 |
| VLD | 2016-03-01 11:45 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | 悪意ある機能を無効化する内部ハードウェアトロイ認証 ○大屋 優・史 又華・柳澤政生・戸川 望（早大） VLD2015-124 |
[more] | VLD2015-124 pp.79-84 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2015-12-02 15:55 |
長崎 | 長崎県勤労福祉会館 | 15nmプロセスにおける低電力な耐ソフトエラーラッチの設計 ○田島咲季・史 又華・戸川 望・柳澤政生（早大） VLD2015-56 DC2015-52 |
近年の微細化により，ソフトエラーによる信頼性低下が問題視されている． 従来，DICEやフリップフロップの多重化といった... [more] |
VLD2015-56 DC2015-52 pp.123-127 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2015-12-03 10:10 |
長崎 | 長崎県勤労福祉会館 | ゲートレベルネットリストの脆弱性を表現する指標 ○大屋 優・史 又華（早大）・山下哲孝・岡村利彦・角尾幸保（NEC）・柳澤政生・戸川 望（早大） VLD2015-59 DC2015-55 |
近年チップの製造をサードパーティに外注するようになり，ハードウェアトロイが挿入される可能性が高まってきた. 本稿では，... [more] |
VLD2015-59 DC2015-55 pp.141-146 |
| VLD, IPSJ-SLDM (連催) |
2015-05-14 15:25 |
福岡 | 北九州国際会議場 | クロックグリッチに基づく故障解析に耐性を持つAES暗号回路 ○平野大輔・史 又華・戸川 望・柳澤政生（早大） VLD2015-7 |
近年，暗号回路への攻撃手法として，故障解析が脅威となっている．回路への故障の発生方法には，レーザー照射や電圧変動，クロッ... [more] | VLD2015-7 pp.51-55 |
| VLD | 2015-03-03 09:15 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | 低電力耐ソフトエラーラッチの設計 ○田島咲季・史 又華・戸川 望・柳澤政生（早大） VLD2014-162 |
近年のLSIの微細化に伴い，ソフトエラーによる信頼性の低下が問題視されている． フリップフロップの多重化等の様々なソフ... [more] |
VLD2014-162 pp.55-60 |
| VLD | 2015-03-04 13:25 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | ゲートレベルネットリストを対象としたスコアに基づくハードウェアトロイ識別手法 ○大屋 優・史 又華・柳澤政生・戸川 望（早大） VLD2014-182 |
近年，企業はデジタルICの製造コストを削減するために，チップの製造をサードパーティに外注するようになった. サードパー... [more] |
VLD2014-182 pp.165-170 |
| RECONF, CPSY, VLD (共催) IPSJ-SLDM (連催) [詳細] |
2015-01-30 10:50 |
神奈川 | 慶應義塾大学 日吉キャンパス | トロイネットの特徴に基づくハードウェアトロイ検出手法 ○大屋 優・史 又華・柳澤政生・戸川 望（早大） VLD2014-137 CPSY2014-146 RECONF2014-70 |
近年，企業はチップの製造コストを削減するために，チップの製造をサードパーティに外注するようになった. サードパーティが... [more] |
VLD2014-137 CPSY2014-146 RECONF2014-70 pp.157-162 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2014-11-26 09:15 |
大分 | ビーコンプラザ（別府国際コンベンションセンター） | タイミングエラーへの耐性を持つフリップフロップ設計 ○鈴木大渡・史 又華・戸川 望（早大）・宇佐美公良（芝浦工大）・柳澤政生（早大） VLD2014-79 DC2014-33 |
集積回路の微細化の影響により，回路のばらつきが大きくなっており，設計に必要な電源電圧やクロック周波数のマージンが増大して... [more] | VLD2014-79 DC2014-33 pp.45-50 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2014-11-26 09:40 |
大分 | ビーコンプラザ（別府国際コンベンションセンター） | タイミングエラー予測回路による再構成可能デバイス上でのデータ依存最適化回路設計 ○川村一志・阿部晋矢・史 又華・柳澤政生・戸川 望（早大） VLD2014-80 DC2014-34 |
LSI内部の各パス遅延は入力データに応じて様々に変動する． この性質を利用することで，計算精度をわずかに落としながらも... [more] |
VLD2014-80 DC2014-34 pp.51-56 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2014-11-26 10:05 |
大分 | ビーコンプラザ（別府国際コンベンションセンター） | 回路面積を考慮したSuspicious Timing Error Prediction回路の挿入位置決定手法の改良と評価 ○吉田慎之介・史 又華・柳澤政生・戸川 望（早大） VLD2014-81 DC2014-35 |
近年，半導体技術の進展に伴いタイミングエラー発生の危険性が増加している．STEPはタイミングエラーを事前に予測できる手法... [more] | VLD2014-81 DC2014-35 pp.57-62 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2014-11-26 16:15 |
大分 | ビーコンプラザ（別府国際コンベンションセンター） | DTMOSを用いたサブスレッショルド回路の高速化設計 ○福留祐治・史 又華・戸川 望（早大）・宇佐美公良（芝浦工大）・柳澤政生（早大） VLD2014-88 DC2014-42 |
サブスレッショルド領域で回路を動作させることで低電力化は実現されるが，同時に速度が劣化するトレードオフの関係にある． ... [more] |
VLD2014-88 DC2014-42 pp.117-121 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2014-11-26 17:30 |
大分 | ビーコンプラザ（別府国際コンベンションセンター） | ハードウェアトロイに含まれるネットに着目したハードウェアトロイ検出手法 ○大屋 優・史 又華・柳澤政生・戸川 望（早大） VLD2014-91 DC2014-45 |
近年チップの製造をサードパーティに外注するようになり，ハードウェアトロイが挿入される可能性が高まってきた. 特に設計段... [more] |
VLD2014-91 DC2014-45 pp.135-140 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2014-11-28 15:35 |
大分 | ビーコンプラザ（別府国際コンベンションセンター） | HDR-mcvを対象とした複数クロックドメインおよび複数電源電圧による低電力化高位合成手法 ○阿部晋矢・史 又華（早大）・宇佐美公良（芝浦工大/早大）・柳澤政生・戸川 望（早大） VLD2014-102 DC2014-56 |
低電力かつ高速なLSI の設計へ向け，配線遅延を考慮しながら複数クロックドメイン，複数電源電圧を同時に適用可能なHDR-... [more] | VLD2014-102 DC2014-56 pp.203-208 |
| IE, ICD, VLD (共催) IPSJ-SLDM (連催) [詳細] |
2014-10-02 13:25 |
宮城 | 東北大学 さくらホール | 可変パイプラインのローカルなパルス生成による低消費エネルギー化手法 ○新井孝将・史 又華・戸川 望（早大）・宇佐美公良（芝浦工大）・柳澤政生（早大） VLD2014-61 ICD2014-54 IE2014-40 |
モバイル端末において性能向上による消費エネルギーの増加が問題となっており，様々な低消費エネルギー化手法が提案されている．... [more] | VLD2014-61 ICD2014-54 IE2014-40 pp.7-12 |
| VLD | 2014-03-03 16:00 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | 故障解析に耐性を持つラッチを利用したAES暗号回路 ○史 又華・谷口寛彰・戸川 望・柳澤政生（早大） VLD2013-140 |
暗号技術は複雑な数学的理論を安全性の根拠としているため安全性が高いとされている．しかし近年，暗号アルゴリズムに対してでは... [more] | VLD2013-140 pp.37-42 |
| VLD | 2014-03-03 16:25 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | 改良ランダムオーダースキャンによるセキュアスキャン設計とその評価 ○大屋 優・跡部悠太・史 又華・柳澤政生・戸川 望（早大） VLD2013-141 |
大規模集積回路のテスト容易化設計の1つであるスキャンチェインを利用したスキャンテストが一般的に行われる. 反面スキャン... [more] |
VLD2013-141 pp.43-48 |
| VLD | 2014-03-05 13:25 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | サブスレッショルド回路における遅延・エネルギーの温度依存性に関する実験および考察 ○櫛田浩樹・史 又華・戸川 望（早大）・宇佐美公良（芝浦工大）・柳澤政生（早大） VLD2013-161 |
バッテリー式の無線ネットワーク機器では，消費エネルギーの削減を重視するため， 供給電圧を下げる設計手法が広く用いられる... [more] |
VLD2013-161 pp.147-151 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2013-11-27 14:55 |
鹿児島 | 鹿児島県文化センター | チェックポイント観測によるタイミングエラー予測手法 ○五十嵐博昭・史 又華・柳澤政生・戸川 望（早大） VLD2013-67 DC2013-33 |
プロセス技術の微細化によりLSIのタイミング設計が難しくなっており，タイミングエラー対策手法の重要性が高まっている．既存... [more] | VLD2013-67 DC2013-33 pp.39-44 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2013-11-29 11:40 |
鹿児島 | 鹿児島県文化センター | HDR-mcdを対象としたクロックエネルギー優位な高位合成と実験評価 ○阿部晋矢・史 又華（早大）・宇佐美公良（芝浦工大/早大）・柳澤政生・戸川 望（早大） VLD2013-97 DC2013-63 |
LSI全体に占めるクロック信号によるエネルギー消費の割合は大きく，マルチクロックドメイン，クロックゲーティングなどが提案... [more] | VLD2013-97 DC2013-63 pp.263-268 |
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