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講演検索結果
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 81件中 1~20件目  /  [次ページ]  
研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
VLD, DC, RECONF, ICD
(共催)
IPSJ-SLDM
(連催) [詳細]
2022-11-28
15:00
石川 金沢市文化ホール
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
FALL攻撃に耐性のあるSFLL-HDの秘密鍵の特定手法
野口葉平吉村正義京都産大)・三浦 怜細川利典日大
 [more]
VLD, DC, RECONF, ICD
(共催)
IPSJ-SLDM
(連催) [詳細]
2022-11-29
10:20
石川 金沢市文化ホール
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
組込み自己テストにおける複数ランダムレジスタント縮退故障のシード生成法
三浦 怜細川利典日大)・吉村正義京都産大
 [more]
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-ARC
(連催) [詳細]
2022-10-12
14:00
新潟 湯沢東映ホテル
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
並列テストのためのコントローラの制御信号のドントケア割当てアルゴリズム
徐 浩豊細川利典日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大
(ご登録済みです.開催日以降に掲載されます) [more]
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-ARC
(連催) [詳細]
2022-07-27
09:45
山口 海峡メッセ下関
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
擬似ブール最適化を用いたFFR出力信号線遷移とWSAの相関に基づく低消費電力指向ドントケア割当て法
徐 雁レイ三浦 怜細川利典日大)・吉村正義京都産大CPSY2022-1 DC2022-1
近年,VLSIの低消費電力化に伴い,低消費電力テストを実行するために,低消費電力指向ドントケア判定手法とドントケア割当て... [more] CPSY2022-1 DC2022-1
pp.1-6
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-ARC
(連催) [詳細]
2022-07-27
10:15
山口 海峡メッセ下関
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
故障励起条件を用いた低消費電力指向テスト生成法の高速化
三浦 怜細川利典日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大CPSY2022-2 DC2022-2
 [more] CPSY2022-2 DC2022-2
pp.7-12
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-ARC
(連催) [詳細]
2022-07-27
11:00
山口 海峡メッセ下関
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
ゲート網羅故障のテスト生成高速化のためのブロック分割手法
溝田桃菜細川利典日大)・吉村正義京都産大CPSY2022-3 DC2022-3
セル内の欠陥を網羅するゲート網羅故障モデルはゲート数と故障数が比例の関係にあるため,ゲート数が増大すると故障数やテストパ... [more] CPSY2022-3 DC2022-3
pp.13-18
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-ARC
(連催) [詳細]
2022-07-27
11:30
山口 海峡メッセ下関
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
フィールドテストのためのk連続状態遷移に基づく状態信号系列を用いたフィールドテスタビリティの評価
豊岡雄大渡辺悠樹細川利典日大)・吉村正義京都産大CPSY2022-4 DC2022-4
 [more] CPSY2022-4 DC2022-4
pp.19-24
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC
(共催)
(連催) [詳細]
2022-03-10
10:30
ONLINE オンライン開催 論理故障テスト並列化のための制御信号のドントケア割当て法
徐 浩豊細川利典山崎紘史新井雅之日大)・吉村正義京都産大CPSY2021-56 DC2021-90
近年,VLSIのテストコスト増大に伴い,テストパターン数の削減が重要になっている.テストパターン数を削減するために,テス... [more] CPSY2021-56 DC2021-90
pp.67-72
DC 2022-03-01
13:45
東京 機械振興会館
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
RTLにおけるSFLL-hdに基づいた論理暗号化手法
野口葉平吉村正義京都産大)・辻川敦也細川利典日大DC2021-72
近年,VLSIの集積度の増加に伴い,LSI設計会社は設計コスト削減のためIPベンダよりIPコアと呼ばれるある機能を持った... [more] DC2021-72
pp.45-50
DC 2022-03-01
15:10
東京 機械振興会館
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
無効状態を含んだコントローラの遷移故障検出率向上指向状態割当て法
飯塚恭平細川利典山崎紘史日大)・吉村正義京都産大DC2021-75
 [more] DC2021-75
pp.63-68
DC 2021-12-10
13:00
香川 国民宿舎小豆島(ふるさと荘交流センター)
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
低消費電力指向多重目標故障テスト生成法
三浦 怜細川利典山崎紘史日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大DC2021-55
近年,超大規模集積回路の実速度テスト時におけるキャプチャ消費電力の増大に伴い,低消費電力指向テスト生成手法が提案されてい... [more] DC2021-55
pp.1-6
DC 2021-12-10
14:00
香川 国民宿舎小豆島(ふるさと荘交流センター)
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
レジスタ転送レベルにおけるSAT攻撃とFALL攻撃に耐性のある論理暗号化手法
辻川敦也細川利典日大)・吉村正義京都産大DC2021-57
近年,大規模化に伴いVLSIを設計会社1社のみで設計を行うのが困難になり,IPベンダよりIPコアを購入し必要な部分のみを... [more] DC2021-57
pp.13-18
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC
(共催)
(連催) [詳細]
2021-03-26
11:40
ONLINE オンライン開催 コントローラの遷移故障検出率向上のためのコントローラ拡大法
飯塚恭平細川利典山崎紘史日大)・吉村正義京都産大CPSY2020-63 DC2020-93
近年,VLSIの微細化,高速化,電源電圧の低下に伴い,遷移故障モデルなどのタイミング欠陥に対するテストが必要不可欠となっ... [more] CPSY2020-63 DC2020-93
pp.79-84
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC
(共催)
(連催) [詳細]
2021-03-26
12:00
ONLINE オンライン開催 レジスタ転送レベルにおけるアンチSATに基づく論理暗号化法
辻川敦也細川利典日大)・吉村正義京都産大CPSY2020-64 DC2020-94
近年,大規模化に伴いVLSIを設計会社1社のみで設計を行うのが困難になり,IPベンダよりIPコアを購入し必要な部分のみを... [more] CPSY2020-64 DC2020-94
pp.85-90
DC 2021-02-05
14:00
ONLINE オンライン開催 RTLハードウェア要素のテストスケジューリング情報を用いた多重目標故障テスト生成法
浅見竜輝細川利典山崎紘史日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大DC2020-74
近年,大規模集積回路のテストコスト増大伴い,テストパターン数削減のためのテスト並列化手法が提案されている.従来手法ではコ... [more] DC2020-74
pp.30-35
DC 2021-02-05
15:30
ONLINE オンライン開催 レジスタ転送レベルにおける非スキャンベースフィールドテスタビリティに基づく制御信号のドントケア割当て法
池ヶ谷祐輝石山悠太細川利典日大)・吉村正義京都産大DC2020-77
VLSI の経年劣化による障害を回避する手段の一つとして,機能動作時に回路の出力や内部信号線の値を監視するフィールドテス... [more] DC2020-77
pp.48-53
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-ARC
(連催) [詳細]
2020-07-31
15:45
ONLINE オンライン開催 テストパターン数削減のためのゲート網羅故障の多重目標故障テスト生成法
浅見竜輝細川利典日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大CPSY2020-12 DC2020-12
近年,集積回路の高集積化・複雑化に伴い,セル内の欠陥が増加し,セル内の故障モデルのテスト生成法やゲート網羅故障モデルのテ... [more] CPSY2020-12 DC2020-12
pp.75-80
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-ARC
(連催) [詳細]
2020-07-31
17:30
ONLINE オンライン開催 機能等価な有限状態機械生成に基づく面積削減指向コントローラ拡大法
辻川敦也細川利典日大)・吉村正義京都産大CPSY2020-15 DC2020-15
近年,コントローラ拡大はレジスタ転送レベルにおけるテスト容易化設計やセキュリティ設計に用い られている.コントローラ... [more] CPSY2020-15 DC2020-15
pp.93-98
HWS, VLD
(共催) [詳細]
2020-03-06
14:30
沖縄 沖縄県青年会館
(開催中止,技報発行あり)
パーシャルMAX-SATを用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法
山崎紘史石山悠太松田竜馬細川利典日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大)・四柳浩之橋爪正樹徳島大VLD2019-131 HWS2019-104
従来,VLSIのテストでは,縮退故障モデルや遷移故障モデルが広く用いられてきた.しかしながら,半導体微細化技術の進展に伴... [more] VLD2019-131 HWS2019-104
pp.215-220
DC 2020-02-26
12:00
東京 機械振興会館 n入力マルチプレクサのテスト不能故障数削減のためのコントローラ拡大法
竹内勇希細川利典山崎紘史日大)・吉村正義京都産大DC2019-90
近年,VLSIの微細化,高速化にともない,遷移故障モデルなどのタイミング欠陥に対するテストが必要不可欠となっている.しか... [more] DC2019-90
pp.25-30
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