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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
SDM 2022-06-21
13:00
愛知 名古屋大学 VBL3F [招待講演]酸化膜/4H-SiC界面特性に基づくカウンタードープMOSFETの優位性
柴山茂久土井拓馬坂下満男田岡紀之名大)・清水三聡産総研)・中塚 理名大SDM2022-24
4H-SiCパワーMOSFETのオン状態における可動自由電子比率向上およびクーロン散乱抑制において,界面準位密度(Dit... [more] SDM2022-24
pp.1-4
SDM 2018-06-25
15:35
愛知 名古屋大学 VBL3F 酸素ラジカル照射によるAl2O3/SiC MOS界面の改質効果
土井拓馬名大)・竹内和歌奈愛知工大)・坂下満男名大)・田岡紀之産総研)・中塚 理財満鎭明名大SDM2018-23
SiCを用いたパワーMOSFETの省電力化には、絶縁膜/SiC界面の界面準位密度の低減が必須である。本研究では、現在主流... [more] SDM2018-23
pp.33-36
SDM 2017-06-20
16:30
東京 キャンパス・イノベーションセンター東京 508(AB) Ge1-xSnxゲートスタック構造における欠陥の物性評価
金田裕一池 進一兼松正行坂下満男竹内和歌奈中塚 理財満鎭明名大SDM2017-29
Ge1-xSnxチャネルデバイスの実現には絶縁膜/Ge1-xSnx界面およびGe1-xSnx層中の欠陥制御が必要不可欠で... [more] SDM2017-29
pp.39-42
SDM 2016-06-29
13:50
東京 キャンパス・イノベーションセンター東京 Ge基板上エピタキシャルGeSn膜の電気的活性な欠陥の評価
金田裕一兼松正行坂下満男竹内和歌奈中塚 理財満鎭明名大SDM2016-39
 [more] SDM2016-39
pp.37-41
SDM, OME
(共催)
2016-04-08
14:20
沖縄 沖縄県立博物館・美術館 博物館講座室 [招待講演]Sn系IV族半導体混晶薄膜の成長と物性評価
志村洋介静岡大)・竹内和歌奈坂下満男黒澤昌志中塚 理財満鎭明名大SDM2016-5 OME2016-5
Si基板上への電子デバイスおよび光学デバイス集積に、Siプロセスへの親和性が高く、歪およびエネルギーバンドギャップの制御... [more] SDM2016-5 OME2016-5
pp.23-26
SDM 2015-06-19
11:30
愛知 名古屋大学 ベンチャー・ビジネス・ラボラトリー [依頼講演]SiO2/SiC MOS界面の欠陥特性に酸窒化処理が与える影響
竹内和歌奈名大)・山本建策デンソー)・坂下満男名大)・金村髙司デンソー)・中塚 理財満鎭明名大SDM2015-43
SiO2/4H-SiC界面特性に対するNOガス雰囲気熱処理の効果を調べた。NOガス雰囲気熱処理MOSキャパシタ試料の電気... [more] SDM2015-43
pp.27-30
SDM 2015-06-19
14:35
愛知 名古屋大学 ベンチャー・ビジネス・ラボラトリー 金属/Ge界面への超高Sn組成SnxGe1-x層導入による界面電気伝導特性の制御
鈴木陽洋柴山茂久坂下満男竹内和歌奈中塚 理財満鎭明名大SDM2015-49
GeチャネルCMOSの実現に向けて、金属/Geコンタクト抵抗の低減は必要不可欠である。しかしながら、金属/n-Ge界面の... [more] SDM2015-49
pp.57-61
SDM 2015-06-19
14:55
愛知 名古屋大学 ベンチャー・ビジネス・ラボラトリー Ge1-xSnxエピタキシャル層中の欠陥へ及ぼす熱処理の効果
浅野孝典柴山茂久竹内和歌奈坂下満男中塚 理財満鎭明名大SDM2015-50
Ge1-xSnx半導体のキャリア密度の制御のためには、禁制帯中にacceptor-likeな準位を形成する欠陥の理解と制... [more] SDM2015-50
pp.63-68
OME, SDM
(共催)
2015-04-30
10:00
沖縄 大濱信泉記念館多目的ホール [招待講演]高Sn組成SiSnの形成とバンド構造 ~ 直接遷移構造化を目指して ~
黒澤昌志竹内和歌奈坂下満男中塚 理財満鎭明名大SDM2015-9 OME2015-9
光通信帯域(波長: 1.5 $mu$m)に合致する光学材料として,我々はシリコンスズ(SiSn)半導体に着目している.格... [more] SDM2015-9 OME2015-9
pp.35-37
SDM 2015-03-02
11:35
東京 機械振興会館 [招待講演]エピタキシャル金属/ゲルマニウム接合の形成による界面電気伝導特性の制御
中塚 理鄧 云生鈴木陽洋坂下満男田岡紀之財満鎭明名大SDM2014-165
省電力・高速Geデバイスの実現には、金属/Ge接合のコンタクト抵抗低減に向けた界面電子物性の制御が必要不可欠である。本研... [more] SDM2014-165
pp.17-22
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