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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
EMCJ, IEE-EMC
(連催)
2012-12-14
13:40
岐阜 岐阜大学 ESDガンを用いた静電気放電試験時のプリント配線板上パターンギャップ間での破壊発生現象に関する基礎検討
坪井浩太郎岩井 将大塚信也九工大EMCJ2012-95
筆者らはこれまで,ESDガンを用いて,静電気放電(ESD:Electrostatic discharge)サージ電圧に対... [more] EMCJ2012-95
pp.61-65
EMCJ, IEE-EMC
(連催)
2012-12-14
14:00
岐阜 岐阜大学 ESDガンを用いた静電気放電試験時のプリント配線板上パターンギャップ間に発生する電圧のFDTD法及びEMTPによる検討
岩井 将坪井浩太郎大塚信也九工大EMCJ2012-96
著者らはこれまでプリント配線板パターン導体間のESDフラッシオーバ電圧の検討を実施している.国際規格IEC61000-4... [more] EMCJ2012-96
pp.67-70
EMCJ, IEE-EMC
(連催)
2012-06-22
14:10
大阪 大阪大学吹田キャンパス プリント配線板上パターン導体間のESDサージに対するフラッシオーバ電圧のギャップ長依存性
岩井 将坪井浩太郎九工大)・稲見 純平林勝次富士通テン)・大塚信也九工大EMCJ2012-27
静電気放電(ESD)に対する電子機器の誤動作の問題から,プリント配線板上に侵入したESDサージに対するパターン導体間のフ... [more] EMCJ2012-27
pp.41-44
EMCJ, IEE-EMC
(連催)
2012-06-22
14:35
大阪 大阪大学吹田キャンパス 背後電極によるプリント基板上フラッシオーバの方向制御に関する基礎検討
稲見 純平林勝次富士通テン)・坪井浩太郎岩井 将大塚信也九工大EMCJ2012-28
電子機器にESD(静電気放電)が侵入すると,製品の誤動作,半導体デバイスの破壊を引き起こすことがある.ESD対策として保... [more] EMCJ2012-28
pp.45-47
EMCJ, IEE-EMC
(連催)
2012-06-22
15:00
大阪 大阪大学吹田キャンパス キセノンランプ照射時のプリント配線パターン導体間のESDサージに対するフラッシオーバ電圧特性
坪井浩太郎岩井 将大塚信也九工大EMCJ2012-29
静電気放電(ESD:Electrostatic discharge)によるサージに対するプリント配線パターン導体間のフラ... [more] EMCJ2012-29
pp.49-52
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