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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| ICD, CPSY (共催) |
2015-12-18 09:00 |
京都 | 京都工芸繊維大学 (京都府) | 65nmバルクとThin BOX FD-SOIプロセスにおける冗長化フリップフロップのソフトエラー耐性の実測と評価 ○曽根崎詠二・久保田勘人・増田政基・神田翔平・古田 潤・小林和淑（京都工繊大）  ICD2015-83 CPSY2015-96 |
集積回路の微細化に伴って、ソフトエラーにより信頼性の低下が顕在化している。ソフトエラーの対策技術としてTMRFFのような... [more] | ICD2015-83 CPSY2015-96 pp.69-74 |
| VLD | 2013-03-06 15:35 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 (沖縄県) | レジスタビット反転を用いた経年劣化に強靭な多重化回路 ○岡田翔伍・増田政基（京都工繊大）・姚 駿・嶋田 創（奈良先端大）・小林和淑（京都工繊大） VLD2012-162 |
[more] | VLD2012-162 pp.147-152 |
| ICD | 2012-12-18 11:45 |
東京 | 東工大蔵前会館 ロイアルブルーホール (東京都) | 65 nmプロセスにおける低消費電力冗長化FF（BCDMR-ACFF）の設計と評価 ○増田政基・久保田勘人・山本亮輔（京都工繊大）・古田 潤（京大）・小林和淑（京都工繊大）・小野寺秀俊（京大） ICD2012-117 |
集積回路の微細化に伴い、ソフトエラーが問題となっている。対策として冗長化を行なうが、面積・消費電力が増大する。面積を削減... [more] | ICD2012-117 pp.109-113 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2012-11-26 16:25 |
福岡 | 九州大学百年講堂 (福岡県) | 低電力かつ省面積な耐ソフトエラー多重化フリップフロップ ～ DICE ACFF ～ ○久保田勘人・増田政基（京都工繊大）・小林和淑（京都工繊大/JST） VLD2012-71 DC2012-37 |
[more] | VLD2012-71 DC2012-37 pp.69-74 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2011-11-28 13:25 |
宮崎 | ニューウェルシティ宮崎 (宮崎県) | 冗長/非冗長化FFによる耐ソフトエラー多重化プロセッサの性能評価 ○岡田翔伍・増田政基（京都工繊大）・姚 駿（奈良先端大）・嶋田 創（奈良先端大/JST）・小林和淑（京都工繊大/JST） VLD2011-59 DC2011-35 |
近年，製造技術の進歩により微細化が進み，その影響でソフトエラー率が上昇し，様々なソフトエラー対策 がなされている。本稿... [more] |
VLD2011-59 DC2011-35 pp.43-48 |
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