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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
VLD, DC
(共催)
CPM, ICD, IE
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2016-11-28
15:30
大阪 立命館大学大阪いばらきキャンパス 40 nm SiONプロセスにおけるランダムテレグラフノイズ複合欠陥モデルを用いた回路解析手法
籔内美智太郎大島 梓駒脇拓弥小林和淑岸田 亮古田 潤京都工繊大)・Pieter WeckxKUL/IMEC)・Ben KaczerIMEC)・松本高士東大)・小野寺秀俊京大VLD2016-52 DC2016-46
複合欠陥を考慮したランダムテレグラフノイズ (RTN: Random Telegraph Noise) モデルを用いた回... [more] VLD2016-52 DC2016-46
pp.49-54
ICD, CPSY
(共催)
2015-12-17
09:40
京都 京都工芸繊維大学 40nmプロセスリングオシレータにおける複合モード欠陥を用いたRTNのモデル化
大島 梓京都工繊大)・Pieter WeckxBen KaczerIMEC)・松本高士東大)・小林和淑京都工繊大)・小野寺秀俊京大ICD2015-63 CPSY2015-76
 [more] ICD2015-63 CPSY2015-76
pp.1-6
ICD, CPSY
(共催)
2015-12-17
16:00
京都 京都工芸繊維大学 [ポスター講演]40nmプロセスリングオシレータにおける複合モード欠陥を用いたRTNのモデル化
大島 梓京都工繊大)・Pieter WeckxBen KaczerIMEC)・松本高士東大)・小林和淑京都工繊大)・小野寺秀俊京大
 [more]
ICD, CPSY
(共催)
2014-12-02
14:50
東京 機械振興会館 65 nmプロセスにおけるアンテナダメージによる経年劣化の測定と評価
岸田 亮大島 梓小林和淑京都工繊大ICD2014-106 CPSY2014-118
近年の集積回路の微細化により,アンテナダメージによる信頼性の低下が懸念されている.本稿では,アンテナダメージによる経年劣... [more] ICD2014-106 CPSY2014-118
pp.123-128
ICD, SDM
(共催)
2014-08-05
14:55
北海道 北海道大学 情報教育館(札幌市) 65nmSOTBプロセスで試作したリングオシレータを用いたアンテナダメージによる初期発振周波数劣化の測定と評価
大島 梓岸田 亮籔内美智太郎小林和淑京都工繊大SDM2014-79 ICD2014-48
近年の集積回路の微細化に伴い, BTIやアンテナダメージの影響が深刻化してい
る。本研究では, 65nm バルク・S... [more]
SDM2014-79 ICD2014-48
pp.93-98
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2013-11-28
13:20
鹿児島 鹿児島県文化センター バルクとSOTBにおけるアンテナダメージによるリングオシレータの発振周波数ばらつきの評価
岸田 亮籔内美智太郎大島 梓小林和淑京都工繊大VLD2013-83 DC2013-49
近年の集積回路の微細化により、アンテナダメージによる信頼性の低下が懸念されている。
本稿ではリングオシレータにおいて発... [more]
VLD2013-83 DC2013-49
pp.159-164
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