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すべての研究会開催スケジュール (検索条件: すべての年度)
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2025-02-18 14:40 |
東京 | 機械振興会館 (東京都) | ハードエラー耐性を考慮した高位合成の一手法 ○野間旭媛・大竹哲史（大分大） |
[more] | |
| DC | 2022-03-01 14:45 |
東京 | 機械振興会館 (東京都, オンライン) （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
SATを用いた遅延故障BIST向けLFSRシード生成法 ○岩本岬汰郎・大竹哲史（大分大）  DC2021-74 |
LFSRを用いたLSIのBISTにおいて，ランダムパターン耐性故障を検出するシードを求めるニーズがある．これまでに，AT... [more] | DC2021-74 pp.57-62 |
| DC | 2020-12-11 15:05 |
兵庫 | 洲本市文化体育館 （淡路島） (兵庫県, オンライン) （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
自動列車制御を支える送着ボンドの振動測定 ○越後裕貴・大竹哲史（大分大） DC2020-65 |
[more] | DC2020-65 pp.33-38 |
| DC | 2020-02-26 10:25 |
東京 | 機械振興会館 (東京都) | 畳み込みニューラルネットワークを活用したLSIテスト不良予測 ○岡 龍之介・大竹哲史（大分大）・熊木光一（ルネサス エレクトロニクス） DC2019-87 |
近年，LSI は高集積化技術の発展や低価格化を要因として信頼性を保証するテストに関するコストが増大している．これまでに，... [more] | DC2019-87 pp.7-12 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2019-11-14 15:45 |
愛媛 | 愛媛県男女共同参画センター (愛媛県) | 遅延故障向け組込み自己診断のための圧縮シード生成法 ○中野雄太・大竹哲史（大分大） VLD2019-44 DC2019-68 |
[more] | VLD2019-44 DC2019-68 pp.139-143 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2019-11-14 16:35 |
愛媛 | 愛媛県男女共同参画センター (愛媛県) | 独立経路ペアの遅延差を用いたハードウェアトロイ検出テスト生成 ○力野 英・平本悠翔郎・大竹哲史（大分大） VLD2019-46 DC2019-70 |
LSIの信頼性の向上のため，ハードウェアトロイの検出が重要である． 本稿ではハードウェアトロイが挿入された信号線におい... [more] |
VLD2019-46 DC2019-70 pp.151-155 |
| DC | 2019-02-27 11:20 |
東京 | 機械振興会館 (東京都) | 期待署名自己生成に基づく組込み自己診断機構 ○平本悠翔郎・大竹哲史（大分大）・高橋 寛（愛媛大） DC2018-76 |
[more] | DC2018-76 pp.31-36 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) CPM, ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2017-11-06 14:30 |
熊本 | くまもと県民交流館パレア (熊本県) | 遅延故障BIST高品質化のためのLFSRシード生成法 ○渡邊恭之介・大竹哲史（大分大） VLD2017-35 DC2017-41 |
大規模集積回路の微細化や高速化に伴い，遅延テストの重要性が高まっている． 遅延故障モデルとして，論理ゲートの遅延が増加... [more] |
VLD2017-35 DC2017-41 pp.49-54 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) CPM, ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2017-11-06 14:55 |
熊本 | くまもと県民交流館パレア (熊本県) | 機械学習を用いたフェールチップ判別における適用識別器と判別確度の決定法 ○柚留木大地・大竹哲史（大分大）・中村芳行（ルネサス エレクトロニクス） VLD2017-36 DC2017-42 |
今日，半導体技術の進歩によるLSIの高集積化によりLSIの低価格化が進んでいる． LSIの品質を保ちつつ，テストコスト... [more] |
VLD2017-36 DC2017-42 pp.55-60 |
| DC | 2017-02-21 11:35 |
東京 | 機械振興会館 (東京都) | 論理回路の組込み自己診断に関する提案 ○香川敬祐・矢野郁也・王 森レイ・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大）・大竹哲史（大分大） DC2016-76 |
近年，自動車の機能安全を実現するために車載集積回路が果たす役割が増加している．自動車の機能安全を保証するためには，フィー... [more] | DC2016-76 pp.11-16 |
| DC | 2017-02-21 12:00 |
東京 | 機械振興会館 (東京都) | 機械学習を用いたフェールチップ判別の性能向上に関する検討 ○柚留木大地・大竹哲史（大分大）・中村芳行（ルネサス システムデザイン） DC2016-77 |
今日，半導体技術の進歩によるLSIの高集積化によりLSIの低価格化が進んでいる． LSIの品質を保ちつつ，テストコスト... [more] |
DC2016-77 pp.17-22 |
| VLD, DC (共催) CPM, ICD, IE (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2016-11-30 10:15 |
大阪 | 立命館大学大阪いばらきキャンパス (大阪府) | オンチップ故障診断のためのLFSRシード生成法 ○南薗隼人・大竹哲史（大分大） VLD2016-64 DC2016-58 |
[more] | VLD2016-64 DC2016-58 pp.117-122 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2015-12-03 14:10 |
長崎 | 長崎県勤労福祉会館 (長崎県) | 遅延故障BIST向けLFSR/MISRシード生成 ○嶋津大地・大竹哲史（大分大） VLD2015-70 DC2015-66 |
本稿では，遅延故障に対するスキャンBIST向けのLFSR及びMISRシード生成法を提案する． 従来より使用されているシ... [more] |
VLD2015-70 DC2015-66 pp.213-218 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2015-12-03 14:35 |
長崎 | 長崎県勤労福祉会館 (長崎県) | FPGAテストのための耐ソフトエラーBIST ○上田大樹・嶋津大地・大竹哲史（大分大） VLD2015-71 DC2015-67 |
[more] | VLD2015-71 DC2015-67 pp.219-224 |
| DC | 2015-02-13 15:20 |
東京 | 機械振興会館 (東京都) | 階層BIST向けLFSRシード生成法 ○佐脇光亮・大竹哲史（大分大） DC2014-85 |
組込み自己テスト(BIST)で用いるテストパターン生成器の一つに線形フィードバックレジスタ(LFSR)がある． LFS... [more] |
DC2014-85 pp.43-48 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2014-11-28 15:10 |
大分 | ビーコンプラザ（別府国際コンベンションセンター） (大分県) | クラスタ分析を用いた教師あり学習によるLSIのバーイン不良予測の一手法 ○鉄川彰吾・宮本誠也・大竹哲史（大分大）・中村芳行（ルネサス セミコンダクタ パッケージ&テスト ソリューションズ） VLD2014-110 DC2014-64 |
LSIの製造テスト工程には，ウェハテスト，パッケージテスト，バーインテストなどがある．バーインテストには特に費用がかかる... [more] | VLD2014-110 DC2014-64 pp.251-256 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2013-11-29 08:55 |
鹿児島 | 鹿児島県文化センター (鹿児島県) | 遅延故障BIST向けLFSRシード生成法 ○本田太郎・大竹哲史（大分大） VLD2013-92 DC2013-58 |
本稿では，遅延故障に対するスキャンBIST向けのLFSRシード生成法を提案する．従来のシード生成法では，故障を検出するテ... [more] | VLD2013-92 DC2013-58 pp.227-231 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2013-11-29 09:45 |
鹿児島 | 鹿児島県文化センター (鹿児島県) | RTL情報を用いた高品質遷移故障テスト生成法 ○中島寛之・大竹哲史（大分大） VLD2013-94 DC2013-60 |
大規模集積回路(VLSI)の微細化や高速化に伴い，遅延故障のテストが重要になっている．遅延故障とは，論理ゲートや配線の遅... [more] | VLD2013-94 DC2013-60 pp.239-244 |
| DC | 2013-06-21 14:15 |
東京 | 機械振興会館 (東京都) | 制約付きテスト生成を用いたスキャンBISTのLFSRシード生成法 ○森保孝憲・大竹哲史（大分大） DC2013-11 |
本稿では，LFSRを用いたスキャンBISTのリシード向けの新しいLFSRシード生成法を提案する．従来のシード生成法は，テ... [more] | DC2013-11 pp.7-12 |
| DC | 2012-02-13 14:50 |
東京 | 機械振興会館 (東京都) | 同期式設計から変換されたQDI回路のテスト生成法 ○内田行紀・村田絵理（奈良先端大）・大竹哲史（大分大/JST）・中島康彦（奈良先端大） DC2011-83 |
Quasi-Delay-Insensitive（QDI）設計は非同期式回路の現実的な実現手法の一つとして注目されている．... [more] | DC2011-83 pp.43-48 |
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