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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
DC 2022-03-01
14:20
東京 機械振興会館
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
信号値遷移確率を用いた高消費電力エリア特定技術の計算処理評価に関する研究
星野 龍宇都宮大喜宮瀬紘平温 暁青梶原誠司九工大DC2021-73
近年,LSIの高速化・微細化が進み, LSIが故障しているかどうかを判断するLSIのテストが困難になっている.LSIテス... [more] DC2021-73
pp.51-56
DC 2021-02-05
12:00
ONLINE オンライン開催 メモリのサイズおよび形状に起因するロジック部の高消費電力エリア特定に関する研究
高藤大輝星野 龍宮瀬紘平温 暁青梶原誠司九工大DC2020-72
 [more] DC2020-72
pp.18-23
VLD, DC, RECONF, ICD, IPSJ-SLDM
(連催)
(併催) [詳細]
2020-11-17
10:30
ONLINE オンライン開催 LSIの領域毎の信号値遷移確率に基づく電力評価に関する研究
大庭 涼星野 竜宮瀬紘平温 暁青梶原誠司九工大VLD2020-13 ICD2020-33 DC2020-33 RECONF2020-32
LSIテストでは通常動作時に比べて信号値遷移が多く発生するため,消費電力が増加する.消費電力が増加すると過度なIR-dr... [more] VLD2020-13 ICD2020-33 DC2020-33 RECONF2020-32
pp.12-17
DC 2020-02-26
14:35
東京 機械振興会館 メモリ搭載LSIに対するロジック部の消費電力解析に関する研究
児玉優也宮瀬紘平高藤大輝温 暁青梶原誠司九工大DC2019-93
LSIのテスト時は,通常動作時と比べて消費電力が大きくなる.過度なIRドロップは,過度な遅延値を引き起こし,特に実速度テ... [more] DC2019-93
pp.43-48
DC 2020-02-26
15:00
東京 機械振興会館 LSIの高消費電力エリアに対する信号値遷移制御率向上に関する研究
史 傑宮瀬紘平温 暁青梶原誠司九工大DC2019-94
LSI テスト時は,通常動作より多くの信号値遷移が起こることで過度なIRドロップが発生し,LSI回路内部の信号伝搬遅延時... [more] DC2019-94
pp.49-54
DC 2019-02-27
10:15
東京 機械振興会館 LSIのホットスポット分布の解析に関する研究
河野雄大宮瀬紘平九工大)・呂 學坤台湾科技大)・温 暁青梶原誠司九工大DC2018-74
LSIの通常動作時におけるIR-drop増加に起因する性能低下などの問題は,電源供給ネットワークを強化するなどの手段で設... [more] DC2018-74
pp.19-24
DC 2018-02-20
11:00
東京 機械振興会館 正当化操作を用いたレイアウト上のホットスポット特定に関する研究
河野雄大宮瀬紘平梶原誠司温 暁青九工大DC2017-80
LSIのテスト時は,通常動作より多くの信号値遷移を伴うため消費電力が増大する.特に実速度スキャンテストにおける過度な消費... [more] DC2017-80
pp.19-24
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
CPM, ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2017-11-07
09:25
熊本 くまもと県民交流館パレア On Avoiding Test Data Corruption by Optimal Scan Chain Grouping
Yucong ZhangStefan HolstXiaoqing WenKohei MiyaseSeiji KajiharaKIT)・Jun QianAMDVLD2017-42 DC2017-48
 [more] VLD2017-42 DC2017-48
pp.91-94
DC 2017-02-21
10:55
東京 機械振興会館 電源ネットワークに対するIR-Dropの影響範囲特定に関する研究
宮瀬紘平濱崎機一九工大)・ザウアー マティアスフライブルク大)・ポリアン イリアパッサウ大)・ベッカー ベルンドフライブルク大)・温 暁青梶原誠司九工大DC2016-75
LSIの微細化や低消費電力化はLSIテストを非常に困難にしている.今後のさらなる微細化は配線幅の縮小を可能にし,低消費電... [more] DC2016-75
pp.7-10
DC 2016-02-17
10:25
東京 機械振興会館 論理パスとクロックパスを考慮した実速度スキャンテスト生成手法について
李 富強温 暁青ホルスト シュテファン宮瀬紘平梶原誠司九工大DC2015-87
スキャンキャプチャ時に発生するIR-Dropは論理パスのみならず、クロックパスにも影響を与える。本稿では、論理パスとクロ... [more] DC2015-87
pp.7-12
DC 2015-06-16
15:00
東京 機械振興会館 地下3階2号室 レイアウトデータを用いたテスト時の高消費電力エリア特定手法に関する研究
宮瀬紘平九工大)・ザウアー マティアスベッカー ベルンドフライブルク大)・温 暁青梶原誠司九工大DC2015-18
実速度スキャンテストにおける消費電力増大に関する問題は年々深刻化している.特に,瞬間的な過度の消費電力の増加は,過度なI... [more] DC2015-18
pp.13-18
DC 2014-06-20
14:05
東京 機械振興会館 低キャプチャ電力スキャンテスト生成のためのX埋め込み手法
李 富強温 暁青宮瀬紘平ホルスト シュテファン梶原誠司九工大DC2014-12
低キャプチャ電力のスキャンテストパターンを生成するため,セルの実効電圧降下
(IR-Drop)との関わりの強いローカル... [more]
DC2014-12
pp.15-20
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2012-11-28
14:55
福岡 九州大学百年講堂 マルチサイクルBISTにおけるスキャン出力の電力低減手法
王 森レイ佐藤康夫梶原誠司宮瀬紘平九工大VLD2012-102 DC2012-68
論理BISTにおけるテスト時の電力消費低減が課題である.スキャン入力時の電力やキャプチャ時の電力は様々な制御手法が提案さ... [more] VLD2012-102 DC2012-68
pp.249-254
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2012-11-28
16:00
福岡 九州大学百年講堂 ネットリストを用いたドントケアビット数の見積り手法に関する研究
宮瀬紘平梶原誠司温 暁青九工大VLD2012-104 DC2012-70
テストパターンの故障検出能力に加えて,テストデータ量削減,低消費電力,テスト品質向上などの新しい特性を与える場合,テスト... [more] VLD2012-104 DC2012-70
pp.261-266
DC 2012-06-22
15:45
東京 機械振興会館 論理BISTの電力低減手法と評価
佐藤康夫王 森レイ加藤隆明宮瀬紘平梶原誠司九工大DC2012-14
論理BISTのテスト時電力は通常のスキャンテストよりも高く電力低減が必要であるが,発生パターンのランダム性から,その制御... [more] DC2012-14
pp.33-38
DC 2012-02-13
11:05
東京 機械振興会館 パターンマージングによる遷移遅延故障用テストのパス遅延故障検出能力向上手法
田中広彬宮瀬紘平榎元和成温 暁青梶原誠司九工大DC2011-78
LSIの信号値伝搬が遅延する欠陥を検出するために,遅延テストが広く用いられている.本稿では,遷移遅延故障テストにおけるパ... [more] DC2011-78
pp.13-18
DC 2012-02-13
11:55
東京 機械振興会館 低電力BISTにおけるシフトトグル率低減手法について
加藤隆明王 森レイ宮瀬紘平佐藤康夫梶原誠司九工大/JSTDC2011-80
スキャン設計を用いた組込み自己テスト(BIST)では,テスト時の高い電力消費が問題である.本研究では,スキャンBISTに... [more] DC2011-80
pp.25-29
DC 2012-02-13
16:20
東京 機械振興会館 フィールドテストのための温度・電圧推定回路の試作評価
三宅庸資佐藤康夫梶原誠司宮瀬紘平九工大/JST)・三浦幸也首都大東京/JSTDC2011-86
VLSIの高機能化や高性能化,製造プロセスの微細化に伴い,劣化等により生じるVLSIの故障を事前に検知し,障害発生による... [more] DC2011-86
pp.61-66
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2011-11-30
10:05
宮崎 ニューウェルシティ宮崎 マルチサイクルテスト構造を用いたキャプチャ電力の低減
山口久登・○松薗 誠宮瀬紘平佐藤康夫梶原誠司九工大/JSTVLD2011-83 DC2011-59
組込み自己テスト(BIST)では,テスト時の消費電力が通常動作時より多いため,電圧降下による誤動作や,発熱による性能劣化... [more] VLD2011-83 DC2011-59
pp.179-183
DC 2011-06-24
16:20
東京 機械振興会館 テストベクトル変換手法を用いた低消費電力LOS 実速度テスト
宮瀬紘平内之段裕太榎元和成九工大)・大和勇太奈良先端大)・温 暁青梶原誠司九工大)・Fangmei WuLuigi DililloAlberto BosioPatrick GirardArnaud VerazelLirmmDC2011-13
LSIの実速度テスト方式の一つであるLOS方式に対する低消費電力テスト手法を提案する.本稿では,X判定技術とX割当技術を... [more] DC2011-13
pp.29-34
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