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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| EMCJ, ITE-BCT (連催) |
2013-03-08 09:55 |
東京 | 機械振興会館 | 基板接触放電の解析モデルと伝播メカニズム ○小宮泰麿・横田 等・原 敦・大坂英樹・須賀 卓（日立）  EMCJ2012-124 |
回路基板の接触放電試験を模擬した電磁界解析モデルの精度の向上を行った．解析モデルは放電ガンの先端の放電チップ形状と基板の... [more] | EMCJ2012-124 pp.7-12 |
| EMCJ, ITE-BCT (連催) |
2013-03-08 10:15 |
東京 | 機械振興会館 | 印加点と同一基板面上にある伝送線路に伝播する基板接触放電ノイズの伝播挙動 ○原 敦・小宮泰麿・須賀 卓・大坂英樹・横田 等（日立） EMCJ2012-125 |
基板に直接接触放電で印加した静電気ノイズが，印加点と同一基板面上にあるマイクロストリップラインに伝播する挙動を，実験及び... [more] | EMCJ2012-125 pp.13-18 |
| ICD, CPM (共催) |
2005-01-27 13:00 |
東京 | 機械振興会館 | ＬＳＩ断線箇所診断手法 ○小宮泰麿・菊地修司（日立）・嶋瀬 朗・向川一也（ルネサステクノロジ） |
近年の微細化や高集積化に伴い、LSIの断線不良箇所特定を目的に、LSIに変動電界を印加してオープンゲートを活性化し、発生... [more] | CPM2004-155 ICD2004-200 pp.1-6 |
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