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すべての研究会開催スケジュール (検索条件: すべての年度)
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| VLD, RECONF (共催) |
2025-01-16 09:50 |
神奈川 | キオクシア 横浜テクノロジーキャンパス Flagship棟 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
貪欲法を用いた表面符号向けエラー訂正復号器のRTLと動作合成によるASICへの実装 ○青山 連（京都工繊大）・門本淳一郎（東大）・小林和淑（京都工繊大） |
[more] | |
| RECONF, VLD (共催) |
2024-01-29 14:40 |
神奈川 | 新川崎 創造のもり AIRBIC 会議室1～4 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
極低温下で動作する信号処理ASICの実現に向けたFPGA向けデザインのマイグレーション ○今川隆司（明大）・小山雄輝・小林和淑（京都工繊大）・三好健文（キュエル）  VLD2023-85 RECONF2023-88 |
我々は，大規模汎用量子コンピュータの実現を目標に，極低温下で動作する信号処理ASICの開発を進めており，現在は，常温環境... [more] | VLD2023-85 RECONF2023-88 pp.31-34 |
| VLD, DC, RECONF, ICD (共催) IPSJ-SLDM (連催) [詳細] |
2023-11-15 13:10 |
熊本 | くまもと市民会館シアーズホーム夢ホール （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
アルファ線と重イオンによるソフトエラー率の周波数依存性の測定 ○杉崎春斗・中島隆一・杉谷昇太郎・古田 潤・小林和淑（京都工繊大） VLD2023-33 ICD2023-41 DC2023-40 RECONF2023-36 |
[more] | VLD2023-33 ICD2023-41 DC2023-40 RECONF2023-36 pp.19-24 |
| VLD, DC, RECONF, ICD (共催) IPSJ-SLDM (連催) [詳細] |
2023-11-15 13:35 |
熊本 | くまもと市民会館シアーズホーム夢ホール （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
フローティングゲートおよびチャージトラップTLC NANDフラッシュメモリにおけるトータルドーズ効果のデータパターン依存性 ○小澤太希・古田 潤・小林和淑（京都工繊大） VLD2023-34 ICD2023-42 DC2023-41 RECONF2023-37 |
[more] | VLD2023-34 ICD2023-42 DC2023-41 RECONF2023-37 pp.25-30 |
| VLD, DC, RECONF, ICD (共催) IPSJ-SLDM (連催) [詳細] |
2023-11-15 14:00 |
熊本 | くまもと市民会館シアーズホーム夢ホール （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
α線照射による65nmバルクプロセスにおけるPMOS及びNMOSトランジスタのSEU感度 ○吉田圭汰・中島隆一・杉谷昇太郎・伊藤貴史・古田 潤・小林和淑（京都工繊大） VLD2023-35 ICD2023-43 DC2023-42 RECONF2023-38 |
[more] | VLD2023-35 ICD2023-43 DC2023-42 RECONF2023-38 pp.31-36 |
| VLD, DC, RECONF, ICD (共催) IPSJ-SLDM (連催) [詳細] |
2023-11-15 15:30 |
熊本 | くまもと市民会館シアーズホーム夢ホール （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
誤り耐性量子コンピュータに向けた22nmバルクプロセスによる表面符号用エラー訂正復号器の設計 ○青山 連（京都工繊大）・門本淳一郎（東大）・小林和淑（京都工繊大） VLD2023-38 ICD2023-46 DC2023-45 RECONF2023-41 |
実用的な計算をできる量子コンピュータの実現には誤り訂正機能が必要である． 表面符号は代表的な誤り訂正手法のひとつで... [more] |
VLD2023-38 ICD2023-46 DC2023-45 RECONF2023-41 pp.49-53 |
| ICD | 2023-04-10 09:55 |
神奈川 | 川崎市産業振興会館10階第４会議室 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
［依頼講演］間欠動作を行うIoT向けプロセッサに適したFiCCを用いた不揮発ストレージセル ○阿部佑貴・小林和淑（京都工繊大）・塩見 準（阪大）・越智裕之（立命館大） ICD2023-1 |
エネルギーハーベスティングはInternet of Things (IoT) デバイスへの電源供給技術として注目されてい... [more] | ICD2023-1 pp.1-6 |
| HWS, VLD (共催) |
2023-03-01 11:00 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
同一の回路構造のリングオシレータを用いた65nm FDSOIプロセスに発生するBTI劣化の実測評価 ○菊田大輔（京都工繊大）・岸田 亮（富山県立大）・小林和淑（京都工繊大） VLD2022-73 HWS2022-44 |
集積回路の微細化に伴いBTI (Bias Temperature Instability) などの経年劣化現象により回路... [more] | VLD2022-73 HWS2022-44 pp.1-6 |
| RECONF, VLD (連催) IPSJ-SLDM (連催) [詳細] |
2023-01-24 10:30 |
神奈川 | 慶応義塾大学 日吉キャンパス 来往舎2階大会議室 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
LPDDR4 SDRAMとGDDR5 SDRAMのソフトエラー耐性の実測評価 ○上林幹宜・小林和淑（京都工繊大）・橋本昌宜（京大） VLD2022-65 RECONF2022-88 |
近年，コンピュータシステムに搭載されるメモリの大容量化に伴い，信頼性の低下が問題になっている．信頼性低下の一因としてソフ... [more] | VLD2022-65 RECONF2022-88 pp.34-39 |
| VLD, HWS (共催) [詳細] |
2022-03-07 14:05 |
ONLINE | オンライン開催 | 間欠動作を行うIoT向けプロセッサに適したFiCC型不揮発フリップフロップの実測評価 ○阿部佑貴・小林和淑（京都工繊大）・越智裕之（立命館大） VLD2021-85 HWS2021-62 |
近年, IoT (Internet of Things)やモバイルデバイスの普及に伴い, そのバッテリ駆動時間延長のため... [more] | VLD2021-85 HWS2021-62 pp.45-50 |
| VLD, DC, RECONF, ICD, IPSJ-SLDM (連催) (併催) [詳細] |
2021-12-01 09:20 |
ONLINE | オンライン開催 | TCADを用いた回路とレイアウト構造によるフリップフロップのソフトエラー耐性の評価 ○小谷萌香・中島隆一（京都工繊大）・井置一哉（ローム）・古田 潤・小林和淑（京都工繊大） VLD2021-17 ICD2021-27 DC2021-23 RECONF2021-25 |
本稿では130 nmプロセスのフリップフロップ（FF）とトランジスタと配線を追加した面積，遅延，電力オーバーヘッドの小さ... [more] | VLD2021-17 ICD2021-27 DC2021-23 RECONF2021-25 pp.1-6 |
| SIP, CAS, VLD, MSS (共催) |
2021-07-05 13:30 |
ONLINE | オンライン開催 | ［パネル討論］[パネル討論]システムと信号処理サブソサイエティの役割 ～ IoT(Internet of Things)の課題への挑戦 ～ ○岡崎秀晃（湘南工科大）・佐藤弘樹（ソニー）・小林和淑（京都工繊大）・尾崎敦夫（阪工大）・林 和則（京大）・田中聡久（東京農工大） CAS2021-4 VLD2021-4 SIP2021-14 MSS2021-4 |
システムと信号処理サブソサイエティ４研専(回路とシステム研究会，VLSI 設計技術研究会，信号処理 研究会，システム数... [more] |
CAS2021-4 VLD2021-4 SIP2021-14 MSS2021-4 pp.16-18 |
| VLD, DC, RECONF, ICD, IPSJ-SLDM (連催) (併催) [詳細] |
2020-11-17 09:30 |
ONLINE | オンライン開催 | SONOS Flashセルを用いた不揮発SRAMの設計と回路シミュレーションによる評価 ○浦部孝樹・新居浩二・小林和淑（京都工繊大） VLD2020-11 ICD2020-31 DC2020-31 RECONF2020-30 |
本稿では SONOS Flash を用いた不揮発の SRAM メモリについてレイアウト設計を行い, その特性について回路... [more] | VLD2020-11 ICD2020-31 DC2020-31 RECONF2020-30 pp.1-5 |
| VLD, DC, RECONF, ICD, IPSJ-SLDM (連催) (併催) [詳細] |
2020-11-18 14:00 |
ONLINE | オンライン開催 | 宇宙機用集積回路に適した薄膜BOX FDSOIプロセスで試作したリングオシレータのトータルドーズ効果の実測評価 ○吉田高士・古田 潤・小林和淑（京都工繊大） VLD2020-30 ICD2020-50 DC2020-50 RECONF2020-49 |
宇宙で用いられる機器には半導体を用いた集積回路が必要不可欠であるが，宇宙空間で長期運用が求めら れる半導体デバイスでは宇... [more] | VLD2020-30 ICD2020-50 DC2020-50 RECONF2020-49 pp.110-114 |
| IPSJ-SLDM, IPSJ-ARC (共催) RECONF, VLD, CPSY (共催) (連催) [詳細] |
2020-01-24 15:25 |
神奈川 | 慶応義塾大学 日吉キャンパス 来往舎 | シフトレジスタによるSRAM型とフラッシュメモリ型FPGAのソフトエラー耐性の比較 ○河野雄哉・附田悠人・古田 潤・小林和淑（京都工繊大） VLD2019-90 CPSY2019-88 RECONF2019-80 |
[more] | VLD2019-90 CPSY2019-88 RECONF2019-80 pp.217-222 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2019-11-14 09:15 |
愛媛 | 愛媛県男女共同参画センター | 単発DCストレス測定による負バイアス温度不安定性のAC特性を再現可能なモデル ○保坂 巧（埼玉大）・西澤真一（福岡大）・岸田 亮（東京理科大）・松本高士（東大）・小林和淑（京都工繊大） VLD2019-35 DC2019-59 |
本論文ではコンパクトな負バイアス温度不安定性（NBTI）モデルを提案する．提案モデルは反応拡散（tn）およびホールトラッ... [more] | VLD2019-35 DC2019-59 pp.57-62 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) CPM, ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2018-12-07 14:10 |
広島 | サテライトキャンパスひろしま | FPGAとマイコンを用いたリングオシレータの超長期経年劣化の実測評価 ○中野洋希（京都工繊大）・岸田 亮（東京理科大）・古田 潤・小林和淑（京都工繊大） CPM2018-95 ICD2018-56 IE2018-74 |
[more] | CPM2018-95 ICD2018-56 IE2018-74 pp.31-36 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) CPM, ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2018-12-07 13:45 |
広島 | サテライトキャンパスひろしま | 遅延を抑えたスタック構造によるSOIプロセス向け耐ソフトエラーFFの提案および実測評価 ○榎原光則・山田晃大・古田 潤・小林和淑（京都工繊大） VLD2018-69 DC2018-55 |
[more] | VLD2018-69 DC2018-55 pp.203-208 |
| SDM, ICD (共催) ITE-IST (連催) [詳細] |
2018-08-07 11:30 |
北海道 | 北海道大学大学院情報科学研究科 M棟M151 | FDSOIプロセスにおけるスタック構造を用いたNMOSおよびPMOSトランジスタのソフトエラー耐性の実測による比較 ○山田晃大・古田 潤・小林和淑（京都工繊大） SDM2018-28 ICD2018-15 |
集積回路素子の微細化に伴いソフトエラーによる集積回路の信頼性低下が問題となっている．本研究では，65nm FDSOI (... [more] | SDM2018-28 ICD2018-15 pp.15-20 |
| VLD, HWS (併催) |
2018-02-28 17:20 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | FDSOIに適したスタック構造におけるソフトエラー対策手法の提案・評価と微細化による影響の評価 ○丸岡晴喜・山田晃大・榎原光則・古田 潤・小林和淑（京都工繊大） VLD2017-103 |
トランジスタサイズの微細化に伴い、ソフトエラーにより集積回路の信頼性が低下している。本稿では65 nm FDSOI プロ... [more] | VLD2017-103 pp.85-90 |
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