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講演検索結果
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 61件中 1~20件目  /  [次ページ]  
研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
RECONF, VLD
(共催)
2024-01-29
14:40
神奈川 新川崎 創造のもり AIRBIC 会議室1~4
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
極低温下で動作する信号処理ASICの実現に向けたFPGA向けデザインのマイグレーション
今川隆司明大)・小山雄輝小林和淑京都工繊大)・三好健文キュエルVLD2023-85 RECONF2023-88
我々は,大規模汎用量子コンピュータの実現を目標に,極低温下で動作する信号処理ASICの開発を進めており,現在は,常温環境... [more] VLD2023-85 RECONF2023-88
pp.31-34
VLD, DC, RECONF, ICD
(共催)
IPSJ-SLDM
(連催) [詳細]
2023-11-15
13:10
熊本 くまもと市民会館シアーズホーム夢ホール
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
アルファ線と重イオンによるソフトエラー率の周波数依存性の測定
杉崎春斗中島隆一杉谷昇太郎古田 潤小林和淑京都工繊大VLD2023-33 ICD2023-41 DC2023-40 RECONF2023-36
 [more] VLD2023-33 ICD2023-41 DC2023-40 RECONF2023-36
pp.19-24
VLD, DC, RECONF, ICD
(共催)
IPSJ-SLDM
(連催) [詳細]
2023-11-15
13:35
熊本 くまもと市民会館シアーズホーム夢ホール
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
フローティングゲートおよびチャージトラップTLC NANDフラッシュメモリにおけるトータルドーズ効果のデータパターン依存性
小澤太希古田 潤小林和淑京都工繊大VLD2023-34 ICD2023-42 DC2023-41 RECONF2023-37
 [more] VLD2023-34 ICD2023-42 DC2023-41 RECONF2023-37
pp.25-30
VLD, DC, RECONF, ICD
(共催)
IPSJ-SLDM
(連催) [詳細]
2023-11-15
14:00
熊本 くまもと市民会館シアーズホーム夢ホール
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
α線照射による65nmバルクプロセスにおけるPMOS及びNMOSトランジスタのSEU感度
吉田圭汰中島隆一杉谷昇太郎伊藤貴史古田 潤小林和淑京都工繊大VLD2023-35 ICD2023-43 DC2023-42 RECONF2023-38
 [more] VLD2023-35 ICD2023-43 DC2023-42 RECONF2023-38
pp.31-36
VLD, DC, RECONF, ICD
(共催)
IPSJ-SLDM
(連催) [詳細]
2023-11-15
15:30
熊本 くまもと市民会館シアーズホーム夢ホール
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
誤り耐性量子コンピュータに向けた22nmバルクプロセスによる表面符号用エラー訂正復号器の設計
青山 連京都工繊大)・門本淳一郎東大)・小林和淑京都工繊大VLD2023-38 ICD2023-46 DC2023-45 RECONF2023-41
実用的な計算をできる量子コンピュータの実現には誤り訂正機能が必要である.
表面符号は代表的な誤り訂正手法のひとつで... [more]
VLD2023-38 ICD2023-46 DC2023-45 RECONF2023-41
pp.49-53
ICD 2023-04-10
09:55
神奈川 川崎市産業振興会館10階第4会議室
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
[依頼講演]間欠動作を行うIoT向けプロセッサに適したFiCCを用いた不揮発ストレージセル
阿部佑貴小林和淑京都工繊大)・塩見 準阪大)・越智裕之立命館大ICD2023-1
エネルギーハーベスティングはInternet of Things (IoT) デバイスへの電源供給技術として注目されてい... [more] ICD2023-1
pp.1-6
HWS, VLD
(共催)
2023-03-01
11:00
沖縄 沖縄県青年会館
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
同一の回路構造のリングオシレータを用いた65nm FDSOIプロセスに発生するBTI劣化の実測評価
菊田大輔京都工繊大)・岸田 亮富山県立大)・小林和淑京都工繊大VLD2022-73 HWS2022-44
集積回路の微細化に伴いBTI (Bias Temperature Instability) などの経年劣化現象により回路... [more] VLD2022-73 HWS2022-44
pp.1-6
RECONF, VLD
(連催)
IPSJ-SLDM
(連催) [詳細]
2023-01-24
10:30
神奈川 慶応義塾大学 日吉キャンパス 来往舎2階大会議室
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
LPDDR4 SDRAMとGDDR5 SDRAMのソフトエラー耐性の実測評価
上林幹宜小林和淑京都工繊大)・橋本昌宜京大VLD2022-65 RECONF2022-88
近年,コンピュータシステムに搭載されるメモリの大容量化に伴い,信頼性の低下が問題になっている.信頼性低下の一因としてソフ... [more] VLD2022-65 RECONF2022-88
pp.34-39
VLD, HWS
(共催) [詳細]
2022-03-07
14:05
ONLINE オンライン開催 間欠動作を行うIoT向けプロセッサに適したFiCC型不揮発フリップフロップの実測評価
阿部佑貴小林和淑京都工繊大)・越智裕之立命館大VLD2021-85 HWS2021-62
近年, IoT (Internet of Things)やモバイルデバイスの普及に伴い, そのバッテリ駆動時間延長のため... [more] VLD2021-85 HWS2021-62
pp.45-50
VLD, DC, RECONF, ICD, IPSJ-SLDM
(連催)
(併催) [詳細]
2021-12-01
09:20
ONLINE オンライン開催 TCADを用いた回路とレイアウト構造によるフリップフロップのソフトエラー耐性の評価
小谷萌香中島隆一京都工繊大)・井置一哉ローム)・古田 潤小林和淑京都工繊大VLD2021-17 ICD2021-27 DC2021-23 RECONF2021-25
本稿では130 nmプロセスのフリップフロップ(FF)とトランジスタと配線を追加した面積,遅延,電力オーバーヘッドの小さ... [more] VLD2021-17 ICD2021-27 DC2021-23 RECONF2021-25
pp.1-6
SIP, CAS, VLD, MSS
(共催)
2021-07-05
13:30
ONLINE オンライン開催 [パネル討論][パネル討論]システムと信号処理サブソサイエティの役割 ~ IoT(Internet of Things)の課題への挑戦 ~
岡崎秀晃湘南工科大)・佐藤弘樹ソニー)・小林和淑京都工繊大)・尾崎敦夫阪工大)・林 和則京大)・田中聡久東京農工大CAS2021-4 VLD2021-4 SIP2021-14 MSS2021-4
システムと信号処理サブソサイエティ4研専(回路とシステム研究会,VLSI 設計技術研究会,信号処理
研究会,システム数... [more]
CAS2021-4 VLD2021-4 SIP2021-14 MSS2021-4
pp.16-18
VLD, DC, RECONF, ICD, IPSJ-SLDM
(連催)
(併催) [詳細]
2020-11-17
09:30
ONLINE オンライン開催 SONOS Flashセルを用いた不揮発SRAMの設計と回路シミュレーションによる評価
浦部孝樹新居浩二小林和淑京都工繊大VLD2020-11 ICD2020-31 DC2020-31 RECONF2020-30
本稿では SONOS Flash を用いた不揮発の SRAM メモリについてレイアウト設計を行い, その特性について回路... [more] VLD2020-11 ICD2020-31 DC2020-31 RECONF2020-30
pp.1-5
VLD, DC, RECONF, ICD, IPSJ-SLDM
(連催)
(併催) [詳細]
2020-11-18
14:00
ONLINE オンライン開催 宇宙機用集積回路に適した薄膜BOX FDSOIプロセスで試作したリングオシレータのトータルドーズ効果の実測評価
吉田高士古田 潤小林和淑京都工繊大VLD2020-30 ICD2020-50 DC2020-50 RECONF2020-49
宇宙で用いられる機器には半導体を用いた集積回路が必要不可欠であるが,宇宙空間で長期運用が求めら れる半導体デバイスでは宇... [more] VLD2020-30 ICD2020-50 DC2020-50 RECONF2020-49
pp.110-114
IPSJ-SLDM, IPSJ-ARC
(共催)
RECONF, VLD, CPSY
(共催)
(連催) [詳細]
2020-01-24
15:25
神奈川 慶応義塾大学 日吉キャンパス 来往舎 シフトレジスタによるSRAM型とフラッシュメモリ型FPGAのソフトエラー耐性の比較
河野雄哉附田悠人古田 潤小林和淑京都工繊大VLD2019-90 CPSY2019-88 RECONF2019-80
 [more] VLD2019-90 CPSY2019-88 RECONF2019-80
pp.217-222
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2019-11-14
09:15
愛媛 愛媛県男女共同参画センター 単発DCストレス測定による負バイアス温度不安定性のAC特性を再現可能なモデル
保坂 巧埼玉大)・西澤真一福岡大)・岸田 亮東京理科大)・松本高士東大)・小林和淑京都工繊大VLD2019-35 DC2019-59
本論文ではコンパクトな負バイアス温度不安定性(NBTI)モデルを提案する.提案モデルは反応拡散(tn)およびホールトラッ... [more] VLD2019-35 DC2019-59
pp.57-62
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
CPM, ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2018-12-07
14:10
広島 サテライトキャンパスひろしま FPGAとマイコンを用いたリングオシレータの超長期経年劣化の実測評価
中野洋希京都工繊大)・岸田 亮東京理科大)・古田 潤小林和淑京都工繊大CPM2018-95 ICD2018-56 IE2018-74
 [more] CPM2018-95 ICD2018-56 IE2018-74
pp.31-36
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
CPM, ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2018-12-07
13:45
広島 サテライトキャンパスひろしま 遅延を抑えたスタック構造によるSOIプロセス向け耐ソフトエラーFFの提案および実測評価
榎原光則山田晃大古田 潤小林和淑京都工繊大VLD2018-69 DC2018-55
 [more] VLD2018-69 DC2018-55
pp.203-208
SDM, ICD
(共催)
ITE-IST
(連催) [詳細]
2018-08-07
11:30
北海道 北海道大学大学院情報科学研究科 M棟M151 FDSOIプロセスにおけるスタック構造を用いたNMOSおよびPMOSトランジスタのソフトエラー耐性の実測による比較
山田晃大古田 潤小林和淑京都工繊大SDM2018-28 ICD2018-15
集積回路素子の微細化に伴いソフトエラーによる集積回路の信頼性低下が問題となっている.本研究では,65nm FDSOI (... [more] SDM2018-28 ICD2018-15
pp.15-20
VLD, HWS
(併催)
2018-02-28
17:20
沖縄 沖縄県青年会館 FDSOIに適したスタック構造におけるソフトエラー対策手法の提案・評価と微細化による影響の評価
丸岡晴喜山田晃大榎原光則古田 潤小林和淑京都工繊大VLD2017-103
トランジスタサイズの微細化に伴い、ソフトエラーにより集積回路の信頼性が低下している。本稿では65 nm FDSOI プロ... [more] VLD2017-103
pp.85-90
VLD, HWS
(併催)
2018-02-28
17:45
沖縄 沖縄県青年会館 65 nm FDSOIプロセスのトランジスタモデルの違いによるフリップフロップのソフトエラー耐性の実測と評価
榎原光則丸岡晴喜山田晃大古田 潤小林和淑京都工繊大VLD2017-104
ムーアの法則に従い, 集積回路 (LSI)が微細化することで, PCやスマートフォン
といった高性能な製品を作れるよう... [more]
VLD2017-104
pp.91-96
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