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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC
(連催)
(併催) [詳細]
2016-03-25
15:45
長崎 福江文化会館・勤労福祉センター LSIテストにおけるフェイル予測のためのばらつき補正に関する検討
小河 亮奈良先端大)・中村芳行ルネサス セミコンダクタパッケージ&テストソリューションズ)・井上美智子奈良先端大CPSY2015-158 DC2015-112
近年,データマイニングを用いたテストコスト削減手法が注目を集めている.LSIは多数のテスト工程を経て市場に出荷される.こ... [more] CPSY2015-158 DC2015-112
pp.271-276
DC 2014-02-10
10:30
東京 機械振興会館 DCSTP回路に対する最適電力テストパターン順序付け手法
小河 亮岩田大志山口賢一奈良高専DC2013-82
VLSIのテスト時にはオーバーテストを防ぐために消費電力を通常動作時程度にする必要がある.テスト時の電力が高いとテスト時... [more] DC2013-82
pp.19-24
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