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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
NLP 2011-03-11
16:35
東京 東京理科大学森戸記念館 いくつかの加振機構による電気接点の劣化現象に関する研究 ~ 接触抵抗変動のモデリング ~
和田真一越田圭治サインダー ノロブリン川述真裕小田部正能久保田洋彰TMCシステム)・池口 徹埼玉大)・堀尾喜彦東京電機大)・澤 孝一郎日本工大NLP2010-196
著者らは,電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検... [more] NLP2010-196
pp.187-192
EMD 2011-01-28
15:40
東京 日本航空電子工業株式会社 タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 ~ タッピング・デバイスの試作(1) ~
和田真一越田圭治サインダー ノロブリン川述真裕石塚大貴柳 国男小田部正能久保田洋彰TMCシステム)・久我宣裕横浜国大)・澤 孝一郎慶大名誉教授/日本工大EMD2010-141
著者らは,ハンマリング加振機構(HOM),摺動接触機構(SCM),および3次元加振機構(3DOM)によって外部微小振動が... [more] EMD2010-141
pp.35-40
EMD 2011-01-28
16:05
東京 日本航空電子工業株式会社 タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 ~ タッピング・デバイスの試作(2) ~
越田圭治和田真一サインダー ノロブリン川述真裕小田部正能久保田洋彰TMCシステム)・久我宣裕横浜国大)・澤 孝一郎慶大名誉教授/日本工大EMD2010-142
著者らは,専用のステージが必要なく,また,ある程度の定量性をもつ,ハンディな"タッピング・デバイス(TPD)"を開発し試... [more] EMD2010-142
pp.41-46
EMD 2010-12-17
14:30
東京 玉川大学 ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~ 接触抵抗について (14) ~
和田真一サインダー ノロブリン越田圭治川述真裕小田部正能久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎慶大名誉教授/日本工大EMD2010-132
著者らは,ハンマリング加振機構によって電気接点における鉛直方向の微小振動が接触抵抗に与える影響を検討してきた.本報告にお... [more] EMD2010-132
pp.17-22
EMD 2010-11-12
13:15
海外 西安交通大学(中国、西安) ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象の研究 ~ モデリング (10) ~
和田真一越田圭治サインダー ノロブリン小田部正能久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎日本工大EMD2010-111
 [more] EMD2010-111
pp.185-188
EMD 2010-10-15
14:35
東京 NTT武蔵野研究開発センタ ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~ 接触抵抗について(13) ~
和田真一越田圭治サインダー ノロブリン小田部正能久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎慶大名誉教授/日本工大EMD2010-65
著者らは,摺動接触機構を用いて,摩擦力2.0Nおよび0.3N,摺動振幅±5.0μmおよび±10.0μmの条件で,それぞれ... [more] EMD2010-65
pp.13-18
EMD, OPE, LQE, CPM
(共催)
2010-08-26
09:20
北海道 千歳アルカディアプラザ ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~ 加振機構のモデリング(9) ~
和田真一越田圭治サインダー ノロブリン小田部正能久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎日本工大EMD2010-26 CPM2010-42 OPE2010-51 LQE2010-24
電気接点に実用的振動を与えうるハンマリング加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討してき... [more] EMD2010-26 CPM2010-42 OPE2010-51 LQE2010-24
pp.1-6
EMCJ, EMD
(共催)
2010-07-16
12:35
東京 機械振興会館 ハンマリング加振機構による電気接点劣化現象 ~ 接触抵抗について(その13) ~
和田真一・○園田健人越田圭治サインダー ノロブリン小田部正能久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎日本工大EMCJ2010-32 EMD2010-17
著者らは,鉛直方向においてハンマリング加振機構によって電気接点に対する微小振動が接触抵抗に与える影響を検討してきた.本研... [more] EMCJ2010-32 EMD2010-17
pp.1-6
EMD, CPM, OME
(共催)
2010-06-25
16:20
東京 機械振興会館 地下3階研修2号室 ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~ 接触抵抗について(12) ~
和田真一・○越田圭治園田健人サインダー ノロブリン小田部正能久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎慶大名誉教授/日本工大EMD2010-14 CPM2010-28 OME2010-33
著者らは,摺動接触機構を用いて,摺動力2.0Nおよび0.3N,摺動振幅±5.0μmおよび±10.0μmの条件で,それぞれ... [more] EMD2010-14 CPM2010-28 OME2010-33
pp.31-36
EMD, CPM, OME
(共催)
2010-06-25
16:45
東京 機械振興会館 地下3階研修2号室 ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~ 摺動機構のモデリング(1) ~
和田真一越田圭治園田健人サインダー ノロブリン小田部正能久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎慶大名誉教授/日本工大EMD2010-15 CPM2010-29 OME2010-34
著者らは,摺動接触機構において,摺動力2.0N/pinおよび0.3N/pin,摺動振幅±5.0μmおよび±10.0μmの... [more] EMD2010-15 CPM2010-29 OME2010-34
pp.37-42
EMD 2010-05-21
14:50
秋田 秋田大学 ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~ 加振機構のモデリング(その8) ~
和田真一越田圭治園田健人サインダー ノロブリン小田部正能久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎日本工大EMD2010-4
電気接点に実用的振動を与えうるハンマリング加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討してき... [more] EMD2010-4
pp.19-24
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