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 5件中 1~5件目  /   
研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
QIT
(第二種研究会)
2021-05-24
13:30
ONLINE オンライン開催 [ポスター講演]極微ナノダイヤモンド中へのSiVセンターの作製
嶋﨑幸之介川口洋生高島秀聡京大)・Takuya F. SegawaETH Zurich)・Frederick T.-K. So寺田大紀京大)・小野田 忍大島 武量研機構)・白川昌宏竹内繁樹京大
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QIT
(第二種研究会)
2017-11-16
13:50
埼玉 埼玉大学 [ポスター講演]シリコン欠陥中心内包ナノダイヤモンドの作製
岩端祐介福田 純高島秀聡京大)・Andreas W. SchellICFO)・阿部浩之小野田 忍大島 武QST)・竹内繁樹京大
ダイヤモンド中のカラーセンターは量子情報や量子計測、バイオセンシング等への応用が期待されている。カラーセンターの一種であ... [more]
SDM 2012-12-07
10:30
京都 京都大学(桂) 電子線照射によるSiCの正孔の各種散乱機構の変化
村田耕司森根達也松浦秀治阪電通大)・小野田 忍大島 武原子力機構SDM2012-117
Si (Silicon) に比べ,放射線耐性及び絶縁破壊電界が大きいSiC (Silicon Carbide) は,次世... [more] SDM2012-117
pp.13-18
SDM 2010-12-17
14:30
京都 京都大学(桂) 200keV電子線照射による4H-SiCエピ膜中の多数キャリア密度の変化
野尻琢慎西野公三柳澤英樹松浦秀治阪電通大)・小野田 忍大島 武原子力機構SDM2010-195
添加量の異なるAl-doped 4H-SiC及びN-doped 4H-SiCエピ膜に200 keVの電子線を照射した場合... [more] SDM2010-195
pp.57-62
SANE 2008-06-26
16:30
茨城 JAXA筑波宇宙センター 宇宙用論理LSIで発生する放射線誘起スパイクノイズの研究(仮)
牧野高紘総研大)・柳川善光東大)・小林大輔総研大/JAXA)・福田盛介JAXA)・廣瀬和之池田博一総研大/JAXA)・斎藤宏文東大/JAXA)・小野田 忍平尾敏雄大島 武原子力機構)・高橋大輔石井 茂草野将樹池淵 博黒田能克三菱重工SANE2008-25
放射線によって論理LSI内に誘起されるスパイクノイズがソフトエラー源として顕在化してきている.
論理LSIはチップ内部... [more]
SANE2008-25
pp.67-72
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