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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
ICD, SDM
(共催)
2008-07-18
15:05
東京 機械振興会館 極微細TaCx/HfSiONデバイスの性能および歪み効果に対するTaCx組成の影響
後藤正和辰村光介川中 繁中嶋一明市原玲華吉水康人小野田裕之長友浩二佐々木俊行福島 崇野町映子犬宮誠治青山知憲小山正人豊島義明東芝SDM2008-147 ICD2008-57
ゲートファーストプロセスにより作製した極微細TaCx/HfSiONデバイスにおいて、TaCx組成がもたらすデバイス特性へ... [more] SDM2008-147 ICD2008-57
pp.109-114
ICD, SDM
(共催)
2007-08-24
14:50
北海道 北見工業大学 ストレス技術を加えた不純物偏析Schottkyソース/ドレイントランジスタを用いた0.7VにおけるSRAM特性
小野田裕之宮下 桂中山武雄木下朋子西村尚志東 篤志山田誠司松岡史倫東芝SDM2007-165 ICD2007-93
ストレス技術を加えた不純物偏析Schottkyソース/ドレイントランジスタ(Dopant Segregated Scho... [more] SDM2007-165 ICD2007-93
pp.131-134
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