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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
VLD, DC, RECONF, ICD
(共催)
IPSJ-SLDM
(連催) [詳細]
2022-11-29
09:15
石川 金沢市文化ホール
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
識別可能ハードウェア要素ペア数最大化のためのコントローラの制御信号のドントケア割当て法
大塚裕衣千田祐弥徐 浩豊細川利典日大)・山崎浩二明大VLD2022-25 ICD2022-42 DC2022-41 RECONF2022-48
 [more] VLD2022-25 ICD2022-42 DC2022-41 RECONF2022-48
pp.37-42
VLD, DC, RECONF, ICD
(共催)
IPSJ-SLDM
(連催) [詳細]
2022-11-29
09:40
石川 金沢市文化ホール
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
RTL故障診断容易化設計に基づくテスト生成法
千田祐弥細川利典日大)・山崎浩二明大VLD2022-26 ICD2022-43 DC2022-42 RECONF2022-49
 [more] VLD2022-26 ICD2022-43 DC2022-42 RECONF2022-49
pp.43-48
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC
(共催)
(連催) [詳細]
2022-03-10
10:50
ONLINE オンライン開催 故障活性化率に基づく診断分解能向上指向テスト生成法
千田祐弥細川利典日大)・山崎浩二明大CPSY2021-57 DC2021-91
高い欠陥検出率を達成するテスト生成法の1つとして,n回検出テスト生成法が提案されている.さらに,テスト品質尺度として故障... [more] CPSY2021-57 DC2021-91
pp.73-78
DC 2022-03-01
15:45
東京 機械振興会館
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
レジスタ転送レベル回路における故障診断容易化のための コントローラの制御信号のドントケア割当て法の評価
土渕航平徐 浩豊千田裕弥細川利典日大)・山崎浩二明大DC2021-76
 [more] DC2021-76
pp.69-74
DC 2022-03-01
16:10
東京 機械振興会館
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
ニューラルネットワークと故障検出情報を用いたマルチサイクルキャプチャテストにおける論理故障に関する欠陥種類推定法
太田菜月細川利典日大)・山崎浩二明大)・新井雅之山内ゆかり日大DC2021-77
 [more] DC2021-77
pp.75-80
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC
(共催)
(連催) [詳細]
2021-03-26
11:00
ONLINE オンライン開催 ニューラルネットワークを用いた被疑論理故障信号線の欠陥種類推定法
太田菜月細川利典日大)・山崎浩二明大)・山内ゆかり新井雅之日大CPSY2020-61 DC2020-91
特定の故障モデルの故障診断は誤診断や解なしという診断を起こす可能性があるため,スキャン設計回路を対象としたマルチサイクル... [more] CPSY2020-61 DC2020-91
pp.67-72
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC
(共催)
(連催) [詳細]
2021-03-26
11:20
ONLINE オンライン開催 レジスタ転送レベル回路における故障診断容易化のためのコントローラの制御信号のドントケア割当て法
土渕航平細川利典日大)・山崎浩二明大CPSY2020-62 DC2020-92
近年の半導体微細化技術の進歩に伴い,超大規模集積回路において,故障解析は歩留まりの向上のために重要である.被疑故障を事前... [more] CPSY2020-62 DC2020-92
pp.73-78
DC 2016-02-17
14:00
東京 機械振興会館 故障励起条件解析を用いたユニバーサル論理故障診断のための被疑故障ランキング法
高野秀之細川利典山崎紘史日大)・山崎浩二明大DC2015-91
 [more] DC2015-91
pp.31-36
DC 2015-02-13
16:00
東京 機械振興会館 マルチサイクルキャプチャテスト集合を用いた単一論理故障の故障診断法の評価
高野秀之山崎紘史細川利典日大)・山崎浩二明大DC2014-86
スキャンテストのテスト品質を向上させる手法としてマルチサイクルキャプチャテストが提案されている.しかしながら,マルチサイ... [more] DC2014-86
pp.49-54
DC 2014-02-10
16:00
東京 機械振興会館 マルチサイクルキャプチャテスト生成を用いた低消費電力指向遷移故障テスト生成法
山崎紘史川連裕斗西間木 淳平井淳士細川利典日大)・吉村正義九大)・山崎浩二明大DC2013-89
ディープサブミクロン時代の実速度スキャンテストにおいて,キャプチャ時の消費電力の増加が問題となっている.キャプチャ時の高... [more] DC2013-89
pp.61-66
DC 2013-02-13
13:30
東京 機械振興会館 半断線故障検出のための信号遅延の特性評価
大栗裕人四柳浩之橋爪正樹徳島大)・堤 利幸山崎浩二明大)・樋上善信高橋 寛愛媛大DC2012-84
半断線故障が発生すると,故障配線の信号遅延により回路性能が低下する場合がある. しかし,故障配線に信号遷移を与える検査入... [more] DC2012-84
pp.25-30
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2012-11-28
16:25
福岡 九州大学百年講堂 テスト圧縮効率化のためのテスト生成法の一考察
楠山友紀乃山崎達也細川利典日大)・吉村正義九大)・山崎浩二明大VLD2012-105 DC2012-71
近年,VLSIの大規模化,複雑化にともない,テスト対象となる故障モデル数と故障数の増加により,テストパターン数が増大して... [more] VLD2012-105 DC2012-71
pp.267-272
DC 2012-06-22
14:20
東京 機械振興会館 [招待講演]シグナルインティグリティ不良に対する実証的研究の試み
高橋 寛樋上喜信愛媛大)・堤 利幸山崎浩二明大)・四柳浩之橋爪正樹徳島大DC2012-12
本研究では,電磁界シミュレーションおよび半断線故障TEGの製作・測定に基づいてシグナルインティグリティ不良の原因となる配... [more] DC2012-12
pp.21-26
DC 2010-02-15
10:00
東京 機械振興会館 マルチサイクルキャプチャ遷移故障テスト生成を用いたテスト不可能故障の原因解析
小河宏志細川利典日大)・吉村正義九大)・山崎浩二明大DC2009-67
過剰テストは,歩留まり低下の原因の一つとなる.テスト不可能故障は,回路の機能動作に影響を与えない故障である.しかしながら... [more] DC2009-67
pp.13-18
DC 2010-02-15
10:25
東京 機械振興会館 抵抗性オープン故障のモデル化とそのテスト生成について
高橋 寛樋上喜信首藤祐太高棟佑司高松雄三愛媛大)・堤 利幸山崎浩二明大)・四柳浩之橋爪正樹徳島大DC2009-68
シグナルインティグリティに関する課題を解決するために,本稿では,抵抗性オープン故障検出のための拡張遅延故障モデルを提案す... [more] DC2009-68
pp.19-24
DC 2010-02-15
16:05
東京 機械振興会館 TEGチップのデジタル測定によるオープン故障のモデル化の検討
堤 利幸・○刈谷泰由紀山崎浩二明大)・橋爪正樹四柳浩之徳島大)・高橋 寛樋上喜信高松雄三愛媛大DC2009-77
LSIの微細化に伴い,LSIテストにおけるオープン故障への対策の重要性が増してきている.しかし,オープン故障の実用的なモ... [more] DC2009-77
pp.75-80
VLD, IPSJ-SLDM
(連催)
2009-05-20
15:20
福岡 北九州国際会議場 テスト不可能故障の検出数の削減のためのスキャンテスト生成法
小河宏志日大)・吉村正義九大)・細川利典日大)・山崎浩二明大VLD2009-3
LSIの製造歩留まり向上策の一つとして過剰テストが重要となってきている.過剰テストの抑制策のひとつとして,テスト不可能故... [more] VLD2009-3
pp.13-18
DC 2009-02-16
10:25
東京 機械振興会館 スキャンテストにおけるテスト不可能故障の検出を削減するためのテスト生成法
吉村正義九大)・○小河宏志日大)・大森悠翔富士通マイクロエレクトロニクス)・細川利典日大)・山崎浩二明大DC2008-69
スキャンテストは,VLSIのテスト方式として広く普及しているが,回路構造の情報のみを利用したテスト法で,シフト動作によっ... [more] DC2008-69
pp.7-12
DC 2009-02-16
10:50
東京 機械振興会館 SATを用いたATPG困難故障に対する冗長故障判定の高速化
秋山祐介細川利典日大)・吉村正義九大)・山崎浩二明大DC2008-70
近年,VLSIのテストではより100%の故障検出効率が求められている.しかしながら,VLSIの大規模化や複雑化に伴い,検... [more] DC2008-70
pp.13-18
DC 2009-02-16
14:15
東京 機械振興会館 隣接信号線を考慮したオープン故障のテストパターンについて
渡部哲也高橋 寛樋上喜信愛媛大)・堤 利幸山崎浩二明大)・四柳浩之橋爪正樹徳島大)・高松雄三愛媛大DC2008-74
配線の微細化,長距離化に伴って,配線およびビアの断線(オープン)の欠陥によって生じる故障が顕在化している.
オープン故... [more]
DC2008-74
pp.37-42
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