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すべての研究会開催スケジュール (検索条件: 最近10年)
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2025-02-18 10:55 |
東京 | 機械振興会館 | 制御信号のドントケア割当てに基づく診断容易化設計のためのヒューリスティックアルゴリズム ○大塚裕衣・細川利典（日大）・山崎浩二（明大）・吉村正義（京都産大）  DC2024-107 |
VLSI の故障診断において，その診断分解能を向上させるために，レジスタ転送レベルにおける診断容易化設計手法が提案されて... [more] | DC2024-107 pp.7-12 |
| DC | 2024-12-06 14:25 |
大分 | ふれあい広場・サザンクロス（別府） | 診断容易化レジスタバインディング手法 ○久保倉修司・細川利典（日大）・山崎浩二（明大）・吉村正義（京都産大） DC2024-99 |
故障診断では，診断分解能を向上させるために識別可能故障ペア数を増加させることが重要である．これを実現するために，できる限... [more] | DC2024-99 pp.7-12 |
| CPSY, DC, RECONF (共催) IPSJ-ARC (連催) [詳細] |
2024-08-08 09:50 |
徳島 | あわぎんホール （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
完全故障検出効率と完全診断分解能を両立するテストパターン置換法 ○青野竜弥・細川利典（日大）・吉村正義（京産大）・山崎浩二（明大） CPSY2024-17 DC2024-17 RECONF2024-17 |
故障診断に用いるテスト集合は，高故障検出効率かつ多数の故障ペアが識別可能であることが重要である．これを実現するために，診... [more] | CPSY2024-17 DC2024-17 RECONF2024-17 pp.5-10 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-ARC (連催) [詳細] |
2023-08-03 11:20 |
北海道 | 函館アリーナ （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
識別可能重み付きハードウェア要素ペア数最大化のためのコントローラの制御信号のドントケア割当て法 ○大塚裕衣・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・山崎浩二（明大） CPSY2023-12 DC2023-12 |
[more] | CPSY2023-12 DC2023-12 pp.25-30 |
| DC | 2023-02-28 11:25 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
故障診断分解能向上のための複数故障ペア識別パターン生成法 ○千田祐弥・細川利典（日大）・山崎浩二（明大） DC2022-83 |
故障診断において，高故障検出率かつ多数の故障ペアが識別可能であることが重要である．このことを実現するために，レジスタ転送... [more] | DC2022-83 pp.6-11 |
| VLD, DC, RECONF, ICD (共催) IPSJ-SLDM (連催) [詳細] |
2022-11-29 09:15 |
熊本 | 金沢市文化ホール （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
識別可能ハードウェア要素ペア数最大化のためのコントローラの制御信号のドントケア割当て法 ○大塚裕衣・千田祐弥・徐 浩豊・細川利典（日大）・山崎浩二（明大） VLD2022-25 ICD2022-42 DC2022-41 RECONF2022-48 |
[more] | VLD2022-25 ICD2022-42 DC2022-41 RECONF2022-48 pp.37-42 |
| VLD, DC, RECONF, ICD (共催) IPSJ-SLDM (連催) [詳細] |
2022-11-29 09:40 |
熊本 | 金沢市文化ホール （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
RTL故障診断容易化設計に基づくテスト生成法 ○千田祐弥・細川利典（日大）・山崎浩二（明大） VLD2022-26 ICD2022-43 DC2022-42 RECONF2022-49 |
故障診断において，高故障検出率かつ多数の故障ペアが識別可能であることが重要である．このことを実現するために，レジスタ転送... [more] | VLD2022-26 ICD2022-43 DC2022-42 RECONF2022-49 pp.43-48 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC (共催) (連催) [詳細] |
2022-03-10 10:50 |
ONLINE | オンライン開催 | 故障活性化率に基づく診断分解能向上指向テスト生成法 ○千田祐弥・細川利典（日大）・山崎浩二（明大） CPSY2021-57 DC2021-91 |
高い欠陥検出率を達成するテスト生成法の１つとして，n回検出テスト生成法が提案されている．さらに，テスト品質尺度として故障... [more] | CPSY2021-57 DC2021-91 pp.73-78 |
| DC | 2022-03-01 15:45 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
レジスタ転送レベル回路における故障診断容易化のための コントローラの制御信号のドントケア割当て法の評価 ○土渕航平・徐 浩豊・千田裕弥・細川利典（日大）・山崎浩二（明大） DC2021-76 |
[more] | DC2021-76 pp.69-74 |
| DC | 2022-03-01 16:10 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
ニューラルネットワークと故障検出情報を用いたマルチサイクルキャプチャテストにおける論理故障に関する欠陥種類推定法 ○太田菜月・細川利典（日大）・山崎浩二（明大）・新井雅之・山内ゆかり（日大） DC2021-77 |
[more] | DC2021-77 pp.75-80 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC (共催) (連催) [詳細] |
2021-03-26 11:00 |
ONLINE | オンライン開催 | ニューラルネットワークを用いた被疑論理故障信号線の欠陥種類推定法 ○太田菜月・細川利典（日大）・山崎浩二（明大）・山内ゆかり・新井雅之（日大） CPSY2020-61 DC2020-91 |
特定の故障モデルの故障診断は誤診断や解なしという診断を起こす可能性があるため，スキャン設計回路を対象としたマルチサイクル... [more] | CPSY2020-61 DC2020-91 pp.67-72 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC (共催) (連催) [詳細] |
2021-03-26 11:20 |
ONLINE | オンライン開催 | レジスタ転送レベル回路における故障診断容易化のためのコントローラの制御信号のドントケア割当て法 ○土渕航平・細川利典（日大）・山崎浩二（明大） CPSY2020-62 DC2020-92 |
近年の半導体微細化技術の進歩に伴い，超大規模集積回路において，故障解析は歩留まりの向上のために重要である．被疑故障を事前... [more] | CPSY2020-62 DC2020-92 pp.73-78 |
| DC | 2016-02-17 14:00 |
東京 | 機械振興会館 | 故障励起条件解析を用いたユニバーサル論理故障診断のための被疑故障ランキング法 ○高野秀之・細川利典・山崎紘史（日大）・山崎浩二（明大） DC2015-91 |
[more] | DC2015-91 pp.31-36 |
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