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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-ARC (連催) [詳細] |
2023-08-03 11:20 |
北海道 | 函館アリーナ （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
識別可能重み付きハードウェア要素ペア数最大化のためのコントローラの制御信号のドントケア割当て法 ○大塚裕衣・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・山崎浩二（明大）  CPSY2023-12 DC2023-12 |
[more] | CPSY2023-12 DC2023-12 pp.25-30 |
| DC | 2023-02-28 11:25 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
故障診断分解能向上のための複数故障ペア識別パターン生成法 ○千田祐弥・細川利典（日大）・山崎浩二（明大） DC2022-83 |
故障診断において，高故障検出率かつ多数の故障ペアが識別可能であることが重要である．このことを実現するために，レジスタ転送... [more] | DC2022-83 pp.6-11 |
| VLD, DC, RECONF, ICD (共催) IPSJ-SLDM (連催) [詳細] |
2022-11-29 09:15 |
熊本 | 金沢市文化ホール （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
識別可能ハードウェア要素ペア数最大化のためのコントローラの制御信号のドントケア割当て法 ○大塚裕衣・千田祐弥・徐 浩豊・細川利典（日大）・山崎浩二（明大） VLD2022-25 ICD2022-42 DC2022-41 RECONF2022-48 |
[more] | VLD2022-25 ICD2022-42 DC2022-41 RECONF2022-48 pp.37-42 |
| VLD, DC, RECONF, ICD (共催) IPSJ-SLDM (連催) [詳細] |
2022-11-29 09:40 |
熊本 | 金沢市文化ホール （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
RTL故障診断容易化設計に基づくテスト生成法 ○千田祐弥・細川利典（日大）・山崎浩二（明大） VLD2022-26 ICD2022-43 DC2022-42 RECONF2022-49 |
故障診断において，高故障検出率かつ多数の故障ペアが識別可能であることが重要である．このことを実現するために，レジスタ転送... [more] | VLD2022-26 ICD2022-43 DC2022-42 RECONF2022-49 pp.43-48 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC (共催) (連催) [詳細] |
2022-03-10 10:50 |
ONLINE | オンライン開催 | 故障活性化率に基づく診断分解能向上指向テスト生成法 ○千田祐弥・細川利典（日大）・山崎浩二（明大） CPSY2021-57 DC2021-91 |
高い欠陥検出率を達成するテスト生成法の１つとして，n回検出テスト生成法が提案されている．さらに，テスト品質尺度として故障... [more] | CPSY2021-57 DC2021-91 pp.73-78 |
| DC | 2022-03-01 15:45 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
レジスタ転送レベル回路における故障診断容易化のための コントローラの制御信号のドントケア割当て法の評価 ○土渕航平・徐 浩豊・千田裕弥・細川利典（日大）・山崎浩二（明大） DC2021-76 |
[more] | DC2021-76 pp.69-74 |
| DC | 2022-03-01 16:10 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
ニューラルネットワークと故障検出情報を用いたマルチサイクルキャプチャテストにおける論理故障に関する欠陥種類推定法 ○太田菜月・細川利典（日大）・山崎浩二（明大）・新井雅之・山内ゆかり（日大） DC2021-77 |
[more] | DC2021-77 pp.75-80 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC (共催) (連催) [詳細] |
2021-03-26 11:00 |
ONLINE | オンライン開催 | ニューラルネットワークを用いた被疑論理故障信号線の欠陥種類推定法 ○太田菜月・細川利典（日大）・山崎浩二（明大）・山内ゆかり・新井雅之（日大） CPSY2020-61 DC2020-91 |
特定の故障モデルの故障診断は誤診断や解なしという診断を起こす可能性があるため，スキャン設計回路を対象としたマルチサイクル... [more] | CPSY2020-61 DC2020-91 pp.67-72 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC (共催) (連催) [詳細] |
2021-03-26 11:20 |
ONLINE | オンライン開催 | レジスタ転送レベル回路における故障診断容易化のためのコントローラの制御信号のドントケア割当て法 ○土渕航平・細川利典（日大）・山崎浩二（明大） CPSY2020-62 DC2020-92 |
近年の半導体微細化技術の進歩に伴い，超大規模集積回路において，故障解析は歩留まりの向上のために重要である．被疑故障を事前... [more] | CPSY2020-62 DC2020-92 pp.73-78 |
| DC | 2016-02-17 14:00 |
東京 | 機械振興会館 | 故障励起条件解析を用いたユニバーサル論理故障診断のための被疑故障ランキング法 ○高野秀之・細川利典・山崎紘史（日大）・山崎浩二（明大） DC2015-91 |
[more] | DC2015-91 pp.31-36 |
| DC | 2015-02-13 16:00 |
東京 | 機械振興会館 | マルチサイクルキャプチャテスト集合を用いた単一論理故障の故障診断法の評価 ○高野秀之・山崎紘史・細川利典（日大）・山崎浩二（明大） DC2014-86 |
スキャンテストのテスト品質を向上させる手法としてマルチサイクルキャプチャテストが提案されている．しかしながら，マルチサイ... [more] | DC2014-86 pp.49-54 |
| DC | 2014-02-10 16:00 |
東京 | 機械振興会館 | マルチサイクルキャプチャテスト生成を用いた低消費電力指向遷移故障テスト生成法 ○山崎紘史・川連裕斗・西間木 淳・平井淳士・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・山崎浩二（明大） DC2013-89 |
ディープサブミクロン時代の実速度スキャンテストにおいて，キャプチャ時の消費電力の増加が問題となっている．キャプチャ時の高... [more] | DC2013-89 pp.61-66 |
| DC | 2013-02-13 13:30 |
東京 | 機械振興会館 | 半断線故障検出のための信号遅延の特性評価 ○大栗裕人・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大）・堤 利幸・山崎浩二（明大）・樋上善信・高橋 寛（愛媛大） DC2012-84 |
半断線故障が発生すると，故障配線の信号遅延により回路性能が低下する場合がある. しかし，故障配線に信号遷移を与える検査入... [more] | DC2012-84 pp.25-30 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2012-11-28 16:25 |
福岡 | 九州大学百年講堂 | テスト圧縮効率化のためのテスト生成法の一考察 ○楠山友紀乃・山崎達也・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・山崎浩二（明大） VLD2012-105 DC2012-71 |
近年，VLSIの大規模化，複雑化にともない，テスト対象となる故障モデル数と故障数の増加により，テストパターン数が増大して... [more] | VLD2012-105 DC2012-71 pp.267-272 |
| DC | 2012-06-22 14:20 |
東京 | 機械振興会館 | ［招待講演］シグナルインティグリティ不良に対する実証的研究の試み ○高橋 寛・樋上喜信（愛媛大）・堤 利幸・山崎浩二（明大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） DC2012-12 |
本研究では，電磁界シミュレーションおよび半断線故障TEGの製作・測定に基づいてシグナルインティグリティ不良の原因となる配... [more] | DC2012-12 pp.21-26 |
| DC | 2010-02-15 10:00 |
東京 | 機械振興会館 | マルチサイクルキャプチャ遷移故障テスト生成を用いたテスト不可能故障の原因解析 ○小河宏志・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・山崎浩二（明大） DC2009-67 |
過剰テストは，歩留まり低下の原因の一つとなる．テスト不可能故障は，回路の機能動作に影響を与えない故障である．しかしながら... [more] | DC2009-67 pp.13-18 |
| DC | 2010-02-15 10:25 |
東京 | 機械振興会館 | 抵抗性オープン故障のモデル化とそのテスト生成について ○高橋 寛・樋上喜信・首藤祐太・高棟佑司・高松雄三（愛媛大）・堤 利幸・山崎浩二（明大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） DC2009-68 |
シグナルインティグリティに関する課題を解決するために，本稿では，抵抗性オープン故障検出のための拡張遅延故障モデルを提案す... [more] | DC2009-68 pp.19-24 |
| DC | 2010-02-15 16:05 |
東京 | 機械振興会館 | TEGチップのデジタル測定によるオープン故障のモデル化の検討 堤 利幸・○刈谷泰由紀・山崎浩二（明大）・橋爪正樹・四柳浩之（徳島大）・高橋 寛・樋上喜信・高松雄三（愛媛大） DC2009-77 |
LSIの微細化に伴い，LSIテストにおけるオープン故障への対策の重要性が増してきている．しかし，オープン故障の実用的なモ... [more] | DC2009-77 pp.75-80 |
| VLD, IPSJ-SLDM (連催) |
2009-05-20 15:20 |
福岡 | 北九州国際会議場 | テスト不可能故障の検出数の削減のためのスキャンテスト生成法 ○小河宏志（日大）・吉村正義（九大）・細川利典（日大）・山崎浩二（明大） VLD2009-3 |
LSIの製造歩留まり向上策の一つとして過剰テストが重要となってきている．過剰テストの抑制策のひとつとして，テスト不可能故... [more] | VLD2009-3 pp.13-18 |
| DC | 2009-02-16 10:25 |
東京 | 機械振興会館 | スキャンテストにおけるテスト不可能故障の検出を削減するためのテスト生成法 吉村正義（九大）・○小河宏志（日大）・大森悠翔（富士通マイクロエレクトロニクス）・細川利典（日大）・山崎浩二（明大） DC2008-69 |
スキャンテストは，VLSIのテスト方式として広く普及しているが，回路構造の情報のみを利用したテスト法で，シフト動作によっ... [more] | DC2008-69 pp.7-12 |
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