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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
VLD, DC, RECONF, ICD
(共催)
IPSJ-SLDM
(連催) [詳細]
2022-11-29
09:15
石川 金沢市文化ホール
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
識別可能ハードウェア要素ペア数最大化のためのコントローラの制御信号のドントケア割当て法
大塚裕衣千田祐弥徐 浩豊細川利典日大)・山崎浩二明大VLD2022-25 ICD2022-42 DC2022-41 RECONF2022-48
 [more] VLD2022-25 ICD2022-42 DC2022-41 RECONF2022-48
pp.37-42
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-ARC
(連催) [詳細]
2022-10-12
14:00
新潟 湯沢東映ホテル
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
並列テストのためのコントローラの制御信号のドントケア割当てアルゴリズム
徐 浩豊細川利典日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大CPSY2022-24 DC2022-24
近年,VLSIのテストコスト増大に伴い,テストパターン数の削減が重要になっている.そのため,テスト並列化を考慮したテスト... [more] CPSY2022-24 DC2022-24
pp.37-42
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC
(共催)
(連催) [詳細]
2022-03-10
10:30
ONLINE オンライン開催 論理故障テスト並列化のための制御信号のドントケア割当て法
徐 浩豊細川利典山崎紘史新井雅之日大)・吉村正義京都産大CPSY2021-56 DC2021-90
近年,VLSIのテストコスト増大に伴い,テストパターン数の削減が重要になっている.テストパターン数を削減するために,テス... [more] CPSY2021-56 DC2021-90
pp.67-72
DC 2022-03-01
15:45
東京 機械振興会館
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
レジスタ転送レベル回路における故障診断容易化のための コントローラの制御信号のドントケア割当て法の評価
土渕航平徐 浩豊千田裕弥細川利典日大)・山崎浩二明大DC2021-76
 [more] DC2021-76
pp.69-74
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