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すべての研究会開催スケジュール (検索条件: すべての年度)
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC, CPSY (共催) IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC (共催) (連催) [詳細] |
2023-03-23 16:25 |
鹿児島 | 天城町防災センター（徳之島） （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
CapsNetを用いた高解像度ウェハマップの欠陥パターン分類法におけるScratch再構成に関する考察 ○山中祐輝・永村美一（都立大）・新井雅之（日大）・福本 聡（都立大）  CPSY2022-41 DC2022-100 |
[more] | CPSY2022-41 DC2022-100 pp.43-48 |
| DC | 2023-02-28 11:00 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
レイアウト起因LSI欠陥検出のためのFSGANを用いたデータ拡張に関する検討 ○杉岡拓海・永村美一（都立大）・新井雅之（日大）・福本 聡（都立大） DC2022-82 |
[more] | DC2022-82 pp.1-5 |
| DC | 2023-02-28 14:50 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
2パターン並列テストのためのコントローラの制御信号のドントケア割当て法 徐 浩豊・○細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大） DC2022-88 |
[more] | DC2022-88 pp.33-38 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-ARC (連催) [詳細] |
2022-10-12 10:00 |
新潟 | 湯沢東映ホテル （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
CapsNetを用いた高解像度ウェハマップの欠陥パターン分類法に関する考察 ○山中祐輝・永村美一（都立大）・新井雅之（日大）・福本 聡（都立大） CPSY2022-22 DC2022-22 |
[more] | CPSY2022-22 DC2022-22 pp.26-30 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-ARC (連催) [詳細] |
2022-10-12 14:00 |
新潟 | 湯沢東映ホテル （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
並列テストのためのコントローラの制御信号のドントケア割当てアルゴリズム ○徐 浩豊・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大） CPSY2022-24 DC2022-24 |
近年，VLSIのテストコスト増大に伴い，テストパターン数の削減が重要になっている．そのため，テスト並列化を考慮したテスト... [more] | CPSY2022-24 DC2022-24 pp.37-42 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-ARC (連催) [詳細] |
2022-07-27 10:15 |
山口 | 海峡メッセ下関 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
故障励起条件を用いた低消費電力指向テスト生成法の高速化 ○三浦 怜・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大） CPSY2022-2 DC2022-2 |
[more] | CPSY2022-2 DC2022-2 pp.7-12 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-ARC (連催) [詳細] |
2022-07-28 11:00 |
山口 | 海峡メッセ下関 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
時空間冗長に基づくCOTSベースクラウド型鉄道信号システムの信頼性評価 ○高松純貴・遠山 喬・大原 衛（都立大）・新井雅之（日大）・福本 聡（都立大） CPSY2022-6 DC2022-6 |
近年，計算資源を集約させた遠隔地の中央装置から，無線ネットワークを介して現場機器を制御する，クラウド型鉄道信号システムが... [more] | CPSY2022-6 DC2022-6 pp.31-34 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC (共催) (連催) [詳細] |
2022-03-10 10:10 |
ONLINE | オンライン開催 | AIによるLSI レイアウト上の欠陥検出のための新しい欠陥モデルの検討 ○川口大樹・藤田 樹・永村美一（都立大）・新井雅之（日大）・福本 聡（都立大） CPSY2021-55 DC2021-89 |
現在，半導体集積回路は様々な製品やシステムの構成に必要不可欠な存在であり，その信頼性を確保することは重要である．本研究で... [more] | CPSY2021-55 DC2021-89 pp.61-66 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC (共催) (連催) [詳細] |
2022-03-10 10:30 |
ONLINE | オンライン開催 | 論理故障テスト並列化のための制御信号のドントケア割当て法 ○徐 浩豊・細川利典・山崎紘史・新井雅之（日大）・吉村正義（京都産大） CPSY2021-56 DC2021-90 |
近年，VLSIのテストコスト増大に伴い，テストパターン数の削減が重要になっている．テストパターン数を削減するために，テス... [more] | CPSY2021-56 DC2021-90 pp.67-72 |
| DC | 2022-03-01 16:10 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
ニューラルネットワークと故障検出情報を用いたマルチサイクルキャプチャテストにおける論理故障に関する欠陥種類推定法 ○太田菜月・細川利典（日大）・山崎浩二（明大）・新井雅之・山内ゆかり（日大） DC2021-77 |
[more] | DC2021-77 pp.75-80 |
| DC | 2022-03-01 16:35 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
CapsNetを用いた多重欠陥ウェハマップ不良パターンの分類に関する一考察 藤田 樹（都立大）・○新井雅之・松田忠勝（日大）・永村美一・福本 聡（都立大） DC2021-78 |
[more] | DC2021-78 pp.81-86 |
| DC | 2021-12-10 13:00 |
香川 | 国民宿舎小豆島（ふるさと荘交流センター） （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
低消費電力指向多重目標故障テスト生成法 ○三浦 怜・細川利典・山崎紘史（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大） DC2021-55 |
近年，超大規模集積回路の実速度テスト時におけるキャプチャ消費電力の増大に伴い，低消費電力指向テスト生成手法が提案されてい... [more] | DC2021-55 pp.1-6 |
| DC | 2021-12-10 13:40 |
香川 | 国民宿舎小豆島（ふるさと荘交流センター） （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
クラウド型鉄道信号における同期ラウンドモデル上の非同期処理 ○遠山 喬・大原 衛（都立大）・新井雅之（日大）・福本 聡（都立大） |
[more] | |
| DC, CPSY (共催) IPSJ-ARC (連催) [詳細] |
2021-10-12 11:00 |
ONLINE | オンライン開催 | LSIレイアウト画像の分類におけるLight-Weight GANを用いたデータ拡張手法の検討 ○川口大樹・永村美一（都立大）・新井雅之（日大）・福本 聡（都立大） CPSY2021-16 DC2021-16 |
現在，半導体集積回路は様々な製品やシステムの構成に必要不可欠な存在であり，その信頼性を確保することは重要である．本研究で... [more] | CPSY2021-16 DC2021-16 pp.25-30 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC (共催) (連催) [詳細] |
2021-03-26 11:00 |
ONLINE | オンライン開催 | ニューラルネットワークを用いた被疑論理故障信号線の欠陥種類推定法 ○太田菜月・細川利典（日大）・山崎浩二（明大）・山内ゆかり・新井雅之（日大） CPSY2020-61 DC2020-91 |
特定の故障モデルの故障診断は誤診断や解なしという診断を起こす可能性があるため，スキャン設計回路を対象としたマルチサイクル... [more] | CPSY2020-61 DC2020-91 pp.67-72 |
| DC | 2021-02-05 12:25 |
ONLINE | オンライン開催 | CNNによるLSIレイアウト画像分類におけるデータ拡張手法の検討 村川 魁・永村美一（都立大）・○新井雅之（日大）・福本 聡（都立大） DC2020-73 |
[more] | DC2020-73 pp.24-29 |
| DC | 2021-02-05 14:00 |
ONLINE | オンライン開催 | RTLハードウェア要素のテストスケジューリング情報を用いた多重目標故障テスト生成法 ○浅見竜輝・細川利典・山崎紘史（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大） DC2020-74 |
近年，大規模集積回路のテストコスト増大伴い，テストパターン数削減のためのテスト並列化手法が提案されている．従来手法ではコ... [more] | DC2020-74 pp.30-35 |
| DC, CPSY (連催) IPSJ-ARC (連催) [詳細] |
2020-10-12 15:20 |
ONLINE | オンライン開催 | CNNに基づくLSIレイアウト上の欠陥位置推定法に関する一考察 永村美一（都立大）・○新井雅之（日大）・福本 聡（都立大） CPSY2020-20 DC2020-20 |
[more] | CPSY2020-20 DC2020-20 pp.16-21 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-ARC (連催) [詳細] |
2020-07-31 15:45 |
ONLINE | オンライン開催 | テストパターン数削減のためのゲート網羅故障の多重目標故障テスト生成法 ○浅見竜輝・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大） CPSY2020-12 DC2020-12 |
近年，集積回路の高集積化・複雑化に伴い，セル内の欠陥が増加し，セル内の故障モデルのテスト生成法やゲート網羅故障モデルのテ... [more] | CPSY2020-12 DC2020-12 pp.75-80 |
| HWS, VLD (共催) [詳細] |
2020-03-06 14:30 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 （開催中止，技報発行あり） |
パーシャルMAX-SATを用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法 ○山崎紘史・石山悠太・松田竜馬・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） VLD2019-131 HWS2019-104 |
従来，VLSIのテストでは，縮退故障モデルや遷移故障モデルが広く用いられてきた．しかしながら，半導体微細化技術の進展に伴... [more] | VLD2019-131 HWS2019-104 pp.215-220 |
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