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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2020-02-26 16:35 |
東京 | 機械振興会館 | 耐電源ノイズ用ラッチのソフトエラー耐性 ○木下湧矢・三浦幸也（首都大東京）  DC2019-97 |
近年，VLSI回路の微細化や電源電圧の低下に伴い，ソフトエラーによる信頼性の低下が問題となっている．ソフトエラーの影響は... [more] | DC2019-97 pp.67-72 |
| DC | 2019-02-27 15:35 |
東京 | 機械振興会館 | 電源ノイズの影響を考慮したフリップフロップの耐性改善 ○木下湧矢・三浦幸也（首都大東京） DC2018-82 |
近年，VLSI回路の微細化や電源電圧の低下に伴い，IR-dropのような電源ノイズによる回路動作への影響が問題となってい... [more] | DC2018-82 pp.67-72 |
| DC | 2018-02-20 11:40 |
東京 | 機械振興会館 | kサイクルテストに基づく有限状態機械のテスト生成法 ○木下湧矢・細川利典（日大）・藤原秀雄（阪学院大） DC2017-81 |
半導体集積技術の発達に伴い，VLSIの大規模化，複雑化が急速に進んでいる．これに伴い，効率の良い順序回路のテスト生成技術... [more] | DC2017-81 pp.25-30 |
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