| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 研究会 開催スケジュール |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
すべての研究会開催スケジュール (検索条件: すべての年度)
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2023-02-28 16:40 |
東京 | 機械振興会館 (東京都, オンライン) （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
論理回路内のホットスポット特定のための効率的な 信号値遷移確率計算に関する研究 ○宇都宮大喜・宮瀬紘平・星野 龍（九工大）・ルー シュエクン（国立台湾科技大）・温 暁青・梶原誠司（九工大）  DC2022-92 |
LSIテストにおいて消費電力が大きい場合，過度のIR-dropを引き起こすことがある．過度のIR-dropは過度の遅延を... [more] | DC2022-92 pp.56-61 |
| DC | 2022-03-01 10:55 |
東京 | 機械振興会館 (東京都, オンライン) （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
オンチップ遅延測定における温度電圧の影響補正について ○加藤隆明（九工大）・三宅庸資（プリバテック）・梶原誠司（九工大） DC2021-67 |
論理回路の経年劣化の問題に対して，フィールドで定期的に遅延測定することが有効である．フィールド測定した遅延値は測定時の温... [more] | DC2021-67 pp.18-23 |
| DC | 2022-03-01 14:20 |
東京 | 機械振興会館 (東京都, オンライン) （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
信号値遷移確率を用いた高消費電力エリア特定技術の計算処理評価に関する研究 ○星野 龍・宇都宮大喜・宮瀬紘平・温 暁青・梶原誠司（九工大） DC2021-73 |
近年，LSIの高速化・微細化が進み, LSIが故障しているかどうかを判断するLSIのテストが困難になっている．LSIテス... [more] | DC2021-73 pp.51-56 |
| DC | 2021-02-05 12:00 |
ONLINE | オンライン開催 (オンライン) | メモリのサイズおよび形状に起因するロジック部の高消費電力エリア特定に関する研究 ○高藤大輝・星野 龍・宮瀬紘平・温 暁青・梶原誠司（九工大） DC2020-72 |
[more] | DC2020-72 pp.18-23 |
| DC | 2020-12-11 13:00 |
兵庫 | 洲本市文化体育館 （淡路島） (兵庫県, オンライン) （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
勾配降下法を用いた回路遅延の劣化予測について ○森 誠一郎・権藤昌之・三宅庸資・加藤隆明・梶原誠司（九工大） DC2020-59 |
最先端のVLSIでは経年劣化に起因する故障の発生が懸念されており，高信頼システムに使用される場合，回路の劣化による故障が... [more] | DC2020-59 pp.1-6 |
| VLD, DC, RECONF, ICD, IPSJ-SLDM (連催) (併催) [詳細] |
2020-11-17 10:30 |
ONLINE | オンライン開催 (オンライン) | LSIの領域毎の信号値遷移確率に基づく電力評価に関する研究 ○大庭 涼・星野 竜・宮瀬紘平・温 暁青・梶原誠司（九工大） VLD2020-13 ICD2020-33 DC2020-33 RECONF2020-32 |
LSIテストでは通常動作時に比べて信号値遷移が多く発生するため，消費電力が増加する．消費電力が増加すると過度なIR-dr... [more] | VLD2020-13 ICD2020-33 DC2020-33 RECONF2020-32 pp.12-17 |
| DC | 2020-02-26 10:00 |
東京 | 機械振興会館 (東京都) | 機械学習を用いたデジタル温度電圧センサの精度向上について ○権藤昌之・三宅庸資・梶原誠司（九工大） DC2019-86 |
VLSI稼働時のチップの温度と電圧を測定するため，リングオシレータ（RO: Ring Oscillator）を利用したデ... [more] | DC2019-86 pp.1-6 |
| DC | 2020-02-26 14:35 |
東京 | 機械振興会館 (東京都) | メモリ搭載LSIに対するロジック部の消費電力解析に関する研究 ○児玉優也・宮瀬紘平・高藤大輝・温 暁青・梶原誠司（九工大） DC2019-93 |
LSIのテスト時は，通常動作時と比べて消費電力が大きくなる．過度なIRドロップは，過度な遅延値を引き起こし，特に実速度テ... [more] | DC2019-93 pp.43-48 |
| DC | 2020-02-26 15:00 |
東京 | 機械振興会館 (東京都) | LSIの高消費電力エリアに対する信号値遷移制御率向上に関する研究 ○史 傑・宮瀬紘平・温 暁青・梶原誠司（九工大） DC2019-94 |
LSI テスト時は，通常動作より多くの信号値遷移が起こることで過度なIRドロップが発生し，LSI回路内部の信号伝搬遅延時... [more] | DC2019-94 pp.49-54 |
| DC | 2019-12-20 16:30 |
和歌山 | 南紀くろしお商工会 (和歌山県) | 長期信頼性試験におけるオンチップ遅延測定による劣化観測 ○三宅庸資・加藤隆明・梶原誠司（九工大）・麻生正雄・二見治司・松永恵士（シスウェーブ）・三浦幸也（首都大東京） DC2019-85 |
最先端のVLSIでは経年劣化に起因する故障の増加が懸念されている．回路の劣化による遅延の増加を検出するには，フィールドで... [more] | DC2019-85 pp.37-42 |
| DC | 2019-02-27 10:15 |
東京 | 機械振興会館 (東京都) | LSIのホットスポット分布の解析に関する研究 ○河野雄大・宮瀬紘平（九工大）・呂 學坤（国立台湾科技大）・温 暁青・梶原誠司（九工大） DC2018-74 |
LSIの通常動作時におけるIR-drop増加に起因する性能低下などの問題は，電源供給ネットワークを強化するなどの手段で設... [more] | DC2018-74 pp.19-24 |
| DC | 2018-12-14 13:00 |
沖縄 | 沖縄県立宮古青少年の家 (沖縄県) | FPGAにおける周期的なフィールドテストのためのオンチップ遅延測定 ○三宅庸資・佐藤康夫・梶原誠司（九工大） DC2018-58 |
最先端のVLSIでは経年劣化に起因する故障の増加が懸念されている．劣化現象として回路遅延の増加が知られているが，劣化によ... [more] | DC2018-58 pp.1-6 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) CPM, ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2018-12-06 13:25 |
広島 | サテライトキャンパスひろしま (広島県) | 論理BISTのテスト電力制御手法とTEG評価について ○加藤隆明（九工大）・王 森レイ（愛媛大）・佐藤康夫・梶原誠司（九工大） VLD2018-57 DC2018-43 |
スキャンベースの論理BISTでは，過度のテスト時消費電力が問題となる．一方，電力削減は故障検出率向上及びテスト時間削減と... [more] | VLD2018-57 DC2018-43 pp.125-130 |
| DC | 2018-02-20 11:00 |
東京 | 機械振興会館 (東京都) | 正当化操作を用いたレイアウト上のホットスポット特定に関する研究 ○河野雄大・宮瀬紘平・梶原誠司・温 暁青（九工大） DC2017-80 |
LSIのテスト時は，通常動作より多くの信号値遷移を伴うため消費電力が増大する．特に実速度スキャンテストにおける過度な消費... [more] | DC2017-80 pp.19-24 |
| DC | 2018-02-20 15:05 |
東京 | 機械振興会館 (東京都) | デジタル温度電圧センサにおける特定温度電圧領域の推定精度向上手法 ○井上賢二・三宅庸資・梶原誠司（九工大） DC2017-85 |
VLSI稼働時のチップの温度と電圧を測定するため，リングオシレータ(RO：Ring Oscillator)を用いたデジタ... [more] | DC2017-85 pp.49-54 |
| DC | 2017-12-15 15:30 |
秋田 | 放送大学秋田学習センター (秋田県) | FPGAの自己テストのためのTDCを用いたテストクロック観測手法の検討 ○三宅庸資・佐藤康夫・梶原誠司（九工大） DC2017-75 |
FPGAの自己テストによるフィールド高信頼化のため，論理BISTと可変なテストクロックを組み合わせた遅延測定手法が提案さ... [more] | DC2017-75 pp.37-42 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) CPM, ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2017-11-07 09:00 |
熊本 | くまもと県民交流館パレア (熊本県) | スキャンベース論理BISTにおけるマルチサイクルテストの中間観測FF選出手法について ○大島繁之・加藤隆明（九工大）・王 森レイ（愛媛大）・佐藤康夫・梶原誠司（九工大） VLD2017-41 DC2017-47 |
論理BISTにおける故障検出率向上のために，マルチサイクルテストにおけるフリップフロップ(FF)値の中間観測手法が提案さ... [more] | VLD2017-41 DC2017-47 pp.85-90 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) CPM, ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2017-11-07 09:25 |
熊本 | くまもと県民交流館パレア (熊本県) | On Avoiding Test Data Corruption by Optimal Scan Chain Grouping ○Yucong Zhang・Stefan Holst・Xiaoqing Wen・Kohei Miyase・Seiji Kajihara（KIT）・Jun Qian（AMD） VLD2017-42 DC2017-48 |
[more] | VLD2017-42 DC2017-48 pp.91-94 |
| CPSY, IPSJ-ARC (連催) DC (併催) [詳細] |
2017-07-26 16:15 |
秋田 | 秋田アトリオンビル（秋田） (秋田県) | デジタル温度電圧センサにおける温度2点補正手法の検討 ○三宅庸資・佐藤康夫・梶原誠司（九工大） DC2017-19 |
VLSI稼働時のチップの温度と電圧を測定するため，リングオシレータ（RO: Ring Oscillator）を利用したデ... [more] | DC2017-19 pp.19-24 |
| DC | 2017-02-21 10:55 |
東京 | 機械振興会館 (東京都) | 電源ネットワークに対するIR-Dropの影響範囲特定に関する研究 ○宮瀬紘平・濱崎機一（九工大）・ザウアー マティアス（フライブルク大）・ポリアン イリア（パッサウ大）・ベッカー ベルンド（フライブルク大）・温 暁青・梶原誠司（九工大） DC2016-75 |
LSIの微細化や低消費電力化はLSIテストを非常に困難にしている．今後のさらなる微細化は配線幅の縮小を可能にし，低消費電... [more] | DC2016-75 pp.7-10 |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]