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 31件中 1~20件目  /  [次ページ]  
研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
VLD, DC, RECONF, ICD
(共催)
IPSJ-SLDM
(連催) [詳細]
2022-11-28
15:25
石川 金沢市文化ホール
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
近似演算を用いる乗算器に対するテストパターン削減について
東海翔午赤松大地四柳浩之橋爪正樹徳島大
 [more]
VLD, DC, RECONF, ICD
(共催)
IPSJ-SLDM
(連催) [詳細]
2022-11-30
14:20
石川 金沢市文化ホール
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
遅延検査容易化設計を用いるPUF回路の周囲温度による動作性能調査
大濱瑛祐四柳浩之橋爪正樹徳島大
 [more]
VLD, DC, RECONF, ICD
(共催)
IPSJ-SLDM
(連催) [詳細]
2022-11-30
14:45
石川 金沢市文化ホール
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
3次元積層ICに実装した遅延検査容易化回路によるTSV検査能力評価
高見圭悟四柳浩之橋爪正樹徳島大
 [more]
DC 2022-03-01
11:20
東京 機械振興会館
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
遅延検査容易化回路のPUFへの適用可能性評価
大濱瑛祐知野遥香四柳浩之橋爪正樹徳島大DC2021-68
 [more] DC2021-68
pp.24-29
DC 2022-03-01
13:20
東京 機械振興会館
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
近似演算回路を用いた耐故障設計における遅延故障用テストパターン生成について
牧野紘史四柳浩之橋爪正樹徳島大DC2021-71
 [more] DC2021-71
pp.39-44
HWS, VLD
(共催) [詳細]
2020-03-06
14:30
沖縄 沖縄県青年会館
(開催中止,技報発行あり)
パーシャルMAX-SATを用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法
山崎紘史石山悠太松田竜馬細川利典日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大)・四柳浩之橋爪正樹徳島大VLD2019-131 HWS2019-104
従来,VLSIのテストでは,縮退故障モデルや遷移故障モデルが広く用いられてきた.しかしながら,半導体微細化技術の進展に伴... [more] VLD2019-131 HWS2019-104
pp.215-220
DC 2020-02-26
10:50
東京 機械振興会館 機械学習の異常検知による半断線故障判別法における温度依存性の検討
中西遼太郎四柳浩之橋爪正樹徳島大)・樋上喜信高橋 寛愛媛大DC2019-88
 [more] DC2019-88
pp.13-18
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC
(共催)
(連催) [詳細]
2019-03-18
09:00
鹿児島 西之表市民会館(種子島) 最大充足化問題を用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法
山崎紘史細川利典日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大)・四柳浩之橋爪正樹徳島大CPSY2018-117 DC2018-99
従来,VLSIのテストでは,縮退故障モデルや遷移故障モデルが広く用いられてきた.しかしながら,半導体微細化技術の進展に伴... [more] CPSY2018-117 DC2018-99
pp.315-320
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
CPM, ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2018-12-06
13:00
広島 サテライトキャンパスひろしま TDC組込み型バウンダリスキャンにおける遅延付加部の分割による検査時間の削減
平井智士四柳浩之橋爪正樹徳島大VLD2018-56 DC2018-42
ICの新たな集積方法として,TSV(Through-Silicon-Via)を用いた3次元積層技術が注目されている.
... [more]
VLD2018-56 DC2018-42
pp.119-124
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
CPM, ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2018-12-06
13:50
広島 サテライトキャンパスひろしま 自動生成パターンの微小遅延故障検査用回路への適用性検討
谷口公貴四柳浩之橋爪正樹徳島大VLD2018-58 DC2018-44
集積回路の高集積化に伴い,回路内において微小遅延故障が顕在化している.微小遅延故障の検査手法として,TDC(Time-t... [more] VLD2018-58 DC2018-44
pp.131-136
DC 2018-02-20
10:35
東京 機械振興会館 TDC組込み型バウンダリスキャンにおける遅延付加部のリオーダによる配線長の低減
平井智士四柳浩之橋爪正樹徳島大DC2017-79
3次元積層ICにおけるダイ間配線の新しい実装方法として,TSV(Through-Silicon-Via)が注目されている... [more] DC2017-79
pp.13-18
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
CPM, ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2017-11-07
11:20
熊本 くまもと県民交流館パレア IDDT出現時間に基づく検査法の断線故障検出能力向上のための設計
神原東風大谷航平四柳浩之橋爪正樹徳島大VLD2017-49 DC2017-55
IC内に発生する断線故障の増加が問題となっている.
これまでに我々はCMOS論理回路内の信号線における断線故障を検出す... [more]
VLD2017-49 DC2017-55
pp.125-130
DC 2017-02-21
14:25
東京 機械振興会館 到達不能状態を用いたSATベース順序回路のテスト不能故障判定法
二関森人細川利典日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大)・四柳浩之橋爪正樹徳島大DC2016-79
スキャン設計回路は,ハードウェアオーバヘッドやテスト実行時間の増加が課題として挙げられている.上述の課題を解決するために... [more] DC2016-79
pp.29-34
VLD, DC
(共催)
CPM, ICD, IE
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2016-11-30
09:25
大阪 立命館大学大阪いばらきキャンパス 微小遅延故障テストのためのTDC組込み型スキャンFFの設計について
河塚信吾四柳浩之橋爪正樹徳島大VLD2016-62 DC2016-56
半導体製造技術の向上により,回路の遅延時間がわずかにシフトする微小遅延故障がタイミング不良として顕在化している.
微小... [more]
VLD2016-62 DC2016-56
pp.105-110
DC 2016-02-17
10:50
東京 機械振興会館 論理値割当隣接線の選択による断線故障用テスト生成時間の削減
藤谷和依四柳浩之橋爪正樹徳島大)・樋上喜信高橋 寛愛媛大DC2015-88
半導体プロセスの微細化に伴って,配線およびビアの断線故障が増加している.断線故障は故障線論理値を隣接線間容量によって制御... [more] DC2015-88
pp.13-18
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2015-12-01
14:15
長崎 長崎県勤労福祉会館 遅延故障検査容易化回路を用いる同時検査対象経路選択条件の検討
森 亮介四柳浩之橋爪正樹徳島大VLD2015-41 DC2015-37
 [more] VLD2015-41 DC2015-37
pp.25-30
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2015-12-01
14:40
長崎 長崎県勤労福祉会館 隣接線の信号遷移による遅延変動を用いる半断線故障の判別法について
伊勢幸太郎四柳浩之橋爪正樹徳島大)・樋上喜信高橋 寛愛媛大VLD2015-42 DC2015-38
IC 内で発生する半断線故障は抵抗成分を持ち,故障の影響は微小遅延として顕在化する.また,トランジスタのばらつきの影響に... [more] VLD2015-42 DC2015-38
pp.31-36
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2014-11-26
14:45
大分 ビーコンプラザ(別府国際コンベンションセンター) TSV故障検出回路の制御部改良および観測部における面積削減の検討
宮本陽平四柳浩之橋爪正樹徳島大VLD2014-72 DC2014-26
故障TSVで発生する遅延量は極めて小さく,故障検出が困難である.そこで,隣接TSVを考慮したTSV故障検出回路が提案され... [more] VLD2014-72 DC2014-26
pp.3-8
DC 2014-02-10
09:25
東京 機械振興会館 TDC組込み型バウンダリスキャン回路による遅延検出能力評価
櫻井浩希四柳浩之橋爪正樹徳島大DC2013-80
ディープサブミクロン(DSM)ICでは,抵抗性ショート欠陥やオープン欠陥が従来の縮退故障の振る舞いをせず,遅延として現れ... [more] DC2013-80
pp.7-12
DC 2014-02-10
15:35
東京 機械振興会館 BASTにおけるスキャンシフト制御および反転信号の部分リセットによるテストデータ量削減法
森 凌太四柳浩之橋爪正樹徳島大DC2013-88
スキャンベースBIST の技術を応用した手法として,BIST 内部で発生する擬似乱数パターンをインバータブロックで反転し... [more] DC2013-88
pp.55-60
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