お知らせ 研究会の開催と会場に参加される皆様へのお願い(2022年6月開催~)
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
研究会 開催スケジュール
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
    [Japanese] / [English] 
研究会名/開催地/テーマ  )→
 
講演検索  検索語:  /  範囲:題目 著者 所属 抄録 キーワード )→

すべての研究会開催スケジュール  (すべての年度)

講演検索結果
 登録講演(開催プログラムが公開されているもの)  (日付・降順)
 5件中 1~5件目  /   
研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
HWS, VLD
(共催) [詳細]
2020-03-04
16:50
沖縄 沖縄県青年会館
(開催中止,技報発行あり)
リソグラフィホットスポット検出用既存訓練データの修正による訓練データの追加生成
片岡 岳稲木雅人永山 忍若林真一広島市大VLD2019-107 HWS2019-80
半導体製造工程のリソグラフィにおいて発生する,異常な短絡や開放を引き起こす確率の高い回路パターンをホットスポットと呼ぶ.... [more] VLD2019-107 HWS2019-80
pp.77-82
HWS, VLD
(共催) [詳細]
2020-03-04
17:15
沖縄 沖縄県青年会館
(開催中止,技報発行あり)
リソグラフィホットスポット検出のための画像スペクトルに基づく特徴量についての一検討
稲木雅人片岡 岳永山 忍若林真一広島市大VLD2019-108 HWS2019-81
 [more] VLD2019-108 HWS2019-81
pp.83-88
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2019-11-15
15:45
愛媛 愛媛県男女共同参画センター 配線幅および配線間距離を考慮した特徴量によるリソグラフィホットスポット検出
片岡 岳稲木雅人永山 忍若林真一広島市大VLD2019-51 DC2019-75
半導体製造工程の一つであるリソグラフィにおいて発生する,異常な短絡や開放を引き起こす確率の高い回路パターンのことをホット... [more] VLD2019-51 DC2019-75
pp.185-190
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
CPM, ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2018-12-07
14:35
広島 サテライトキャンパスひろしま 最適ハイパーパラメータ下での機械学習に基づくリソグラフィホットスポット検出手法の比較検討
片岡 岳稲木雅人永山 忍若林真一広島市大VLD2018-71 DC2018-57
 [more] VLD2018-71 DC2018-57
pp.215-220
VLD, HWS
(併催)
2018-03-01
09:00
沖縄 沖縄県青年会館 配線間距離を考慮した特徴量に基づくリソグラフィホットスポット検出手法の検討
片岡 岳稲木雅人永山 忍若林真一広島市大VLD2017-105
LSI 製造工程のひとつであるリソグラフィにおいて,故障を引き起こす確率が高いレイアウトパターンをホットスポットと呼ぶ.... [more] VLD2017-105
pp.97-102
 5件中 1~5件目  /   
ダウンロード書式の初期値を指定してください NEW!!
テキスト形式 pLaTeX形式 CSV形式 BibTeX形式
著作権について : 以上の論文すべての著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会