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 19件中 1~19件目  /   
研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
VLD, DC, RECONF, ICD
(共催)
IPSJ-SLDM
(連催) [詳細]
2022-11-30
15:10
石川 金沢市文化ホール
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
軽量なワンタイムパスワード認証方式を用いたJTAGアクセス機構のFPGA実装と面積評価
岡本 悠馬 竣王 森レイ甲斐 博高橋 寛愛媛大)・清水明宏高知工科大
 [more]
DC 2021-02-05
14:25
ONLINE オンライン開催 マルチサイクルテストにおける故障検出率の推定法
中岡典弘王 森レイ樋上喜信高橋 寛愛媛大)・岩田浩幸前田洋一松嶋 潤ルネサス エレクトロニクスDC2020-75
 [more] DC2020-75
pp.36-41
VLD, DC, RECONF, ICD, IPSJ-SLDM
(連催)
(併催) [詳細]
2020-11-17
11:20
ONLINE オンライン開催 マルチサイクルテストにおけるスキャンパターン削減指向制御ポイントの選定法
環 輝王 森レイ樋上喜信高橋 寛愛媛大)・岩田浩幸前田洋一松嶋 潤ルネサス エレクトロニクスVLD2020-15 ICD2020-35 DC2020-35 RECONF2020-34
 [more] VLD2020-15 ICD2020-35 DC2020-35 RECONF2020-34
pp.24-29
DC 2020-02-26
11:35
東京 機械振興会館 マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのテストポイント挿入法
青野智己中岡典弘周 細紅王 森レイ樋上喜信高橋 寛愛媛大)・岩田浩幸前田洋一松嶋 潤ルネサス エレクトロニクスDC2019-89
車載システムの機能安全を保障するためには,システムの起動時に回路を検査するパワーオンセルフテスト(POST)が必要である... [more] DC2019-89
pp.19-24
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2019-11-14
16:10
愛媛 愛媛県男女共同参画センター 確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出能力低下問題の解析
中岡典弘青野智己・○工藤壮司王 森レイ樋上喜信高橋 寛愛媛大)・岩田浩幸前田洋一松嶋 潤ルネサス エレクトロニクスVLD2019-45 DC2019-69
先進自動運転システムの機能安全を保障するために , システムの起動時に論理組込み自己テスト (LBIST)
機構を用い... [more]
VLD2019-45 DC2019-69
pp.145-150
DC 2019-02-27
14:05
東京 機械振興会館 マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのFFトグル制御ポイントの選択法
青野智己Hanan T.Al-Awadhi王 森レイ樋上喜信高橋 寛愛媛大)・岩田浩幸前田洋一松嶋 潤ルネサス エレクトロニクスDC2018-79
車載システムの機能安全を保証するためには,システムの起動時にテストを実行するパワーオンセルフテスト(POST)が必要とな... [more] DC2018-79
pp.49-54
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
CPM, ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2018-12-06
13:25
広島 サテライトキャンパスひろしま 論理BISTのテスト電力制御手法とTEG評価について
加藤隆明九工大)・王 森レイ愛媛大)・佐藤康夫梶原誠司九工大VLD2018-57 DC2018-43
スキャンベースの論理BISTでは,過度のテスト時消費電力が問題となる.一方,電力削減は故障検出率向上及びテスト時間削減と... [more] VLD2018-57 DC2018-43
pp.125-130
DC 2018-02-20
16:10
東京 機械振興会館 メモリベース再構成デバイスMRLDにおけるブリッジ接続故障のテスト方法
王 森レイ小川達也樋上喜信高橋 寛愛媛大)・佐藤正幸勝 満徳TRL)・関口象一太陽誘電DC2017-87
MRLD とは、メモリ機能も備える新しい再構成可能論理デバイスである。MRLD の基本要素となるMLUT(Multipl... [more] DC2017-87
pp.61-66
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
CPM, ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2017-11-07
09:00
熊本 くまもと県民交流館パレア スキャンベース論理BISTにおけるマルチサイクルテストの中間観測FF選出手法について
大島繁之加藤隆明九工大)・王 森レイ愛媛大)・佐藤康夫梶原誠司九工大VLD2017-41 DC2017-47
論理BISTにおける故障検出率向上のために,マルチサイクルテストにおけるフリップフロップ(FF)値の中間観測手法が提案さ... [more] VLD2017-41 DC2017-47
pp.85-90
DC 2017-02-21
11:35
東京 機械振興会館 論理回路の組込み自己診断に関する提案
香川敬祐矢野郁也王 森レイ樋上喜信高橋 寛愛媛大)・大竹哲史大分大DC2016-76
近年,自動車の機能安全を実現するために車載集積回路が果たす役割が増加している.自動車の機能安全を保証するためには,フィー... [more] DC2016-76
pp.11-16
DC 2017-02-21
16:35
東京 機械振興会館 三次元積層ICのTSV相互接続の評価容易化設計DFE ~ アナログバウンダリスキャンによる接続抵抗評価 ~
亀山修一愛媛大/富士通)・王 森レイ高橋 寛愛媛大DC2016-83
本稿では製品の品質評価のための回路をLSIやボードに組込む設計手法,評価容易化設計(Design for Evaluat... [more] DC2016-83
pp.53-58
DC 2016-02-17
15:15
東京 機械振興会館 三次元積層後のTSV抵抗の精密計測法のアナログ回路設計について
王 森レイ香川敬祐愛媛大)・亀山修一富士通)・樋上喜信高橋 寛愛媛大DC2015-94
 [more] DC2015-94
pp.49-54
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2015-12-03
11:40
長崎 長崎県勤労福祉会館 アナログバウンダリスキャンを用いた三次元積層後のTSV抵抗の精密計測法の実装について
王 森レイ香川敬祐愛媛大)・亀山修一富士通)・樋上喜信高橋 寛愛媛大VLD2015-65 DC2015-61
 [more] VLD2015-65 DC2015-61
pp.177-182
DC 2015-02-13
16:25
東京 機械振興会館 IR-dropを考慮した抵抗性オープン故障の診断用パターンの選択手法
王 森レイ井上大画ハナン ティ アル アワディー樋上喜信高橋 寛愛媛大DC2014-87
 [more] DC2014-87
pp.55-60
DC 2014-06-20
14:30
東京 機械振興会館 低電力BIST手法におけるキャプチャ電力のTEG評価
西田敏也九工大)・王 森レイ愛媛大)・佐藤康夫梶原誠司九工大DC2014-13
スキャンベーステストのキャプチャ時の瞬間的な電流による電圧降下は,テスト対象パスの遅延増加等をもたらし,テスト精度低下の... [more] DC2014-13
pp.21-26
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2012-11-28
14:55
福岡 九州大学百年講堂 マルチサイクルBISTにおけるスキャン出力の電力低減手法
王 森レイ佐藤康夫梶原誠司宮瀬紘平九工大VLD2012-102 DC2012-68
論理BISTにおけるテスト時の電力消費低減が課題である.スキャン入力時の電力やキャプチャ時の電力は様々な制御手法が提案さ... [more] VLD2012-102 DC2012-68
pp.249-254
DC 2012-06-22
15:45
東京 機械振興会館 論理BISTの電力低減手法と評価
佐藤康夫王 森レイ加藤隆明宮瀬紘平梶原誠司九工大DC2012-14
論理BISTのテスト時電力は通常のスキャンテストよりも高く電力低減が必要であるが,発生パターンのランダム性から,その制御... [more] DC2012-14
pp.33-38
DC 2012-02-13
11:55
東京 機械振興会館 低電力BISTにおけるシフトトグル率低減手法について
加藤隆明王 森レイ宮瀬紘平佐藤康夫梶原誠司九工大/JSTDC2011-80
スキャン設計を用いた組込み自己テスト(BIST)では,テスト時の高い電力消費が問題である.本研究では,スキャンBISTに... [more] DC2011-80
pp.25-29
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2010-11-29
16:05
福岡 九州大学医学部百年講堂 Rotating Test and Pattern Partitioning for Field Test
Senling WangSeiji KajiharaYasuo SatoKohei MiyaseXiaoqing WenKyushu Insti. Tech.
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