| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 研究会 開催スケジュール |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
すべての研究会開催スケジュール (検索条件: すべての年度)
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2025-02-18 13:40 |
東京 | 機械振興会館 (東京都) | 深層強化学習を用いたテストポイント挿入法に対する特徴解析 ○佐々木翔也・王 森レイ・甲斐 博・高橋 寛（愛媛大） |
[more] | |
| DC | 2024-02-28 13:40 |
東京 | 機械振興会館 (東京都) | 深層強化学習によるマルチサイクルBIST向けテストポイント選定法 ○塩谷晃平・西川竜矢・魏 少奇・王 森レイ・甲斐 博・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大）  DC2023-98 |
マルチサイクルBISTは，スキャンパターンごとに複数回のキャプチャを実行するテスト方式であり、インシステムテストにおける... [more] | DC2023-98 pp.23-28 |
| VLD, DC, RECONF, ICD (共催) IPSJ-SLDM (連催) [詳細] |
2023-11-16 16:45 |
熊本 | くまもと市民会館シアーズホーム夢ホール (熊本県, オンライン) （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
メモリズムパターンマッチングアクセラレータのFPGA実装と性能評価 ○本田志遠・西川竜矢・周 細紅・王 森レイ・甲斐 博・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大）・井上克己（エイ・オー・テクノロジーズ） VLD2023-61 ICD2023-69 DC2023-68 RECONF2023-64 |
[more] | VLD2023-61 ICD2023-69 DC2023-68 RECONF2023-64 pp.162-167 |
| DC | 2023-02-28 14:25 |
東京 | 機械振興会館 (東京都, オンライン) （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
グラフニューラルネットワークと深層強化学習による論理回路のテストポイント選択法 ○魏 少奇・塩谷晃平・王 森レイ・甲斐 博・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大） DC2022-87 |
大規模集積回路のテスト品質を向上するためには，回路の中に可観測性や可制御性を向上できるテストポイント（Test Poin... [more] | DC2022-87 pp.27-32 |
| VLD, DC, RECONF, ICD (共催) IPSJ-SLDM (連催) [詳細] |
2022-11-30 15:10 |
熊本 | 金沢市文化ホール (熊本県, オンライン) （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
軽量なワンタイムパスワード認証方式を用いたJTAGアクセス機構のFPGA実装と面積評価 ○岡本 悠・馬 竣・王 森レイ・甲斐 博・高橋 寛（愛媛大）・清水明宏（高知工科大） VLD2022-48 ICD2022-65 DC2022-64 RECONF2022-71 |
サイバーフィジカルシステム(CPS)を実現するためには，実世界におけるエッジデバイスの耐故障およびセキュリティの保証が必... [more] | VLD2022-48 ICD2022-65 DC2022-64 RECONF2022-71 pp.168-173 |
| DC | 2021-02-05 14:25 |
ONLINE | オンライン開催 (オンライン) | マルチサイクルテストにおける故障検出率の推定法 ○中岡典弘・王 森レイ・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大）・岩田浩幸・前田洋一・松嶋 潤（ルネサス エレクトロニクス） DC2020-75 |
[more] | DC2020-75 pp.36-41 |
| VLD, DC, RECONF, ICD, IPSJ-SLDM (連催) (併催) [詳細] |
2020-11-17 11:20 |
ONLINE | オンライン開催 (オンライン) | マルチサイクルテストにおけるスキャンパターン削減指向制御ポイントの選定法 ○環 輝・王 森レイ・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大）・岩田浩幸・前田洋一・松嶋 潤（ルネサス エレクトロニクス） VLD2020-15 ICD2020-35 DC2020-35 RECONF2020-34 |
[more] | VLD2020-15 ICD2020-35 DC2020-35 RECONF2020-34 pp.24-29 |
| DC | 2020-02-26 11:35 |
東京 | 機械振興会館 (東京都) | マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのテストポイント挿入法 ○青野智己・中岡典弘・周 細紅・王 森レイ・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大）・岩田浩幸・前田洋一・松嶋 潤（ルネサス エレクトロニクス） DC2019-89 |
車載システムの機能安全を保障するためには，システムの起動時に回路を検査するパワーオンセルフテスト(POST)が必要である... [more] | DC2019-89 pp.19-24 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2019-11-14 16:10 |
愛媛 | 愛媛県男女共同参画センター (愛媛県) | 確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出能力低下問題の解析 中岡典弘・青野智己・○工藤壮司・王 森レイ・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大）・岩田浩幸・前田洋一・松嶋 潤（ルネサス エレクトロニクス） VLD2019-45 DC2019-69 |
先進自動運転システムの機能安全を保障するために , システムの起動時に論理組込み自己テスト (LBIST) 機構を用い... [more] |
VLD2019-45 DC2019-69 pp.145-150 |
| DC | 2019-02-27 14:05 |
東京 | 機械振興会館 (東京都) | マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのFFトグル制御ポイントの選択法 ○青野智己・Hanan T.Al-Awadhi・王 森レイ・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大）・岩田浩幸・前田洋一・松嶋 潤（ルネサス エレクトロニクス） DC2018-79 |
車載システムの機能安全を保証するためには,システムの起動時にテストを実行するパワーオンセルフテスト(POST)が必要とな... [more] | DC2018-79 pp.49-54 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) CPM, ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2018-12-06 13:25 |
広島 | サテライトキャンパスひろしま (広島県) | 論理BISTのテスト電力制御手法とTEG評価について ○加藤隆明（九工大）・王 森レイ（愛媛大）・佐藤康夫・梶原誠司（九工大） VLD2018-57 DC2018-43 |
スキャンベースの論理BISTでは，過度のテスト時消費電力が問題となる．一方，電力削減は故障検出率向上及びテスト時間削減と... [more] | VLD2018-57 DC2018-43 pp.125-130 |
| DC | 2018-02-20 16:10 |
東京 | 機械振興会館 (東京都) | メモリベース再構成デバイスMRLDにおけるブリッジ接続故障のテスト方法 ○王 森レイ・小川達也・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大）・佐藤正幸・勝 満徳（TRL）・関口象一（太陽誘電） DC2017-87 |
MRLD とは、メモリ機能も備える新しい再構成可能論理デバイスである。MRLD の基本要素となるMLUT（Multipl... [more] | DC2017-87 pp.61-66 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) CPM, ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2017-11-07 09:00 |
熊本 | くまもと県民交流館パレア (熊本県) | スキャンベース論理BISTにおけるマルチサイクルテストの中間観測FF選出手法について ○大島繁之・加藤隆明（九工大）・王 森レイ（愛媛大）・佐藤康夫・梶原誠司（九工大） VLD2017-41 DC2017-47 |
論理BISTにおける故障検出率向上のために，マルチサイクルテストにおけるフリップフロップ(FF)値の中間観測手法が提案さ... [more] | VLD2017-41 DC2017-47 pp.85-90 |
| DC | 2017-02-21 11:35 |
東京 | 機械振興会館 (東京都) | 論理回路の組込み自己診断に関する提案 ○香川敬祐・矢野郁也・王 森レイ・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大）・大竹哲史（大分大） DC2016-76 |
近年，自動車の機能安全を実現するために車載集積回路が果たす役割が増加している．自動車の機能安全を保証するためには，フィー... [more] | DC2016-76 pp.11-16 |
| DC | 2017-02-21 16:35 |
東京 | 機械振興会館 (東京都) | 三次元積層ICのTSV相互接続の評価容易化設計DFE ～ アナログバウンダリスキャンによる接続抵抗評価 ～ ○亀山修一（愛媛大/富士通）・王 森レイ・高橋 寛（愛媛大） DC2016-83 |
本稿では製品の品質評価のための回路をLSIやボードに組込む設計手法，評価容易化設計（Design for Evaluat... [more] | DC2016-83 pp.53-58 |
| DC | 2016-02-17 15:15 |
東京 | 機械振興会館 (東京都) | 三次元積層後のTSV抵抗の精密計測法のアナログ回路設計について ○王 森レイ・香川敬祐（愛媛大）・亀山修一（富士通）・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大） DC2015-94 |
[more] | DC2015-94 pp.49-54 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2015-12-03 11:40 |
長崎 | 長崎県勤労福祉会館 (長崎県) | アナログバウンダリスキャンを用いた三次元積層後のTSV抵抗の精密計測法の実装について ○王 森レイ・香川敬祐（愛媛大）・亀山修一（富士通）・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大） VLD2015-65 DC2015-61 |
[more] | VLD2015-65 DC2015-61 pp.177-182 |
| DC | 2015-02-13 16:25 |
東京 | 機械振興会館 (東京都) | IR-dropを考慮した抵抗性オープン故障の診断用パターンの選択手法 ○王 森レイ・井上大画・ハナン ティ アル アワディー・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大） DC2014-87 |
[more] | DC2014-87 pp.55-60 |
| DC | 2014-06-20 14:30 |
東京 | 機械振興会館 (東京都) | 低電力BIST手法におけるキャプチャ電力のTEG評価 ○西田敏也（九工大）・王 森レイ（愛媛大）・佐藤康夫・梶原誠司（九工大） DC2014-13 |
スキャンベーステストのキャプチャ時の瞬間的な電流による電圧降下は，テスト対象パスの遅延増加等をもたらし，テスト精度低下の... [more] | DC2014-13 pp.21-26 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2012-11-28 14:55 |
福岡 | 九州大学百年講堂 (福岡県) | マルチサイクルBISTにおけるスキャン出力の電力低減手法 ○王 森レイ・佐藤康夫・梶原誠司・宮瀬紘平（九工大） VLD2012-102 DC2012-68 |
論理BISTにおけるテスト時の電力消費低減が課題である．スキャン入力時の電力やキャプチャ時の電力は様々な制御手法が提案さ... [more] | VLD2012-102 DC2012-68 pp.249-254 |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]