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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2020-02-26 12:00 |
東京 | 機械振興会館 | n入力マルチプレクサのテスト不能故障数削減のためのコントローラ拡大法 ○竹内勇希・細川利典・山崎紘史（日大）・吉村正義（京都産大）  DC2019-90 |
近年，VLSIの微細化，高速化にともない，遷移故障モデルなどのタイミング欠陥に対するテストが必要不可欠となっている．しか... [more] | DC2019-90 pp.25-30 |
| DC | 2019-02-27 13:40 |
東京 | 機械振興会館 | コントローラの遷移故障検出率向上のための状態割当て手法 ○吉村正義（京都産大）・竹内勇希・山崎紘史・細川利典（日大） DC2018-78 |
近年，VLSIの微細化・高速化に伴いタイミング欠陥が増加し，遷移故障モデルにおけるテストが必要不可欠である．しかし，回路... [more] | DC2018-78 pp.43-48 |
| DC | 2018-02-20 09:55 |
東京 | 機械振興会館 | コントローラ拡大を用いた遷移故障テストパターン数削減のための演算器のテストレジスタ割当て法 ○竹内勇希・武田 俊・細川利典・山崎紘史（日大）・吉村正義（京都産大） DC2017-78 |
VLSIのテストコストを削減するためには，テストパターン数を削減することが必要である．特に動的テスト圧縮の効率を高めるた... [more] | DC2017-78 pp.7-12 |
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