研究会 |
発表日時 |
開催地 |
タイトル・著者 |
抄録 |
資料番号 |
DC |
2025-02-18 10:55 |
東京 |
機械振興会館 (東京都) |
制御信号のドントケア割当てに基づく診断容易化設計のためのヒューリスティックアルゴリズム ○大塚裕衣・細川利典(日大)・山崎浩二(明大)・吉村正義(京都産大) DC2024-107 |
(ご登録済みです.開催日以降に掲載されます) [more] |
DC2024-107 pp.7-12 |
DC |
2025-02-18 15:30 |
東京 |
機械振興会館 (東京都) |
楽観推定フィールドランダムテスタビリティ向上のための状態信号系列生成手法 ○廣瀬恭介・細川利典(日大)・吉村正義(京都産大) DC2024-114 |
(ご登録済みです.開催日以降に掲載されます) [more] |
DC2024-114 pp.47-52 |
DC |
2024-12-06 14:00 |
大分 |
ふれあい広場・サザンクロス(別府) (大分県) |
k時間展開モデルを用いたランダムパターンレジスタント故障のシード生成法 ○曽根隆暢・細川利典(日大)・吉村正義(京都産大)・新井雅之(日大) DC2024-98 |
近年,超大規模集積回路の大規模化により,多量化したテストパターンをテスタに保存することは非現実的になっている.組込み自己... [more] |
DC2024-98 pp.1-6 |
DC |
2024-12-06 14:25 |
大分 |
ふれあい広場・サザンクロス(別府) (大分県) |
診断容易化レジスタバインディング手法 ○久保倉修司・細川利典(日大)・山崎浩二(明大)・吉村正義(京都産大) DC2024-99 |
故障診断では,診断分解能を向上させるために識別可能故障ペア数を増加させることが重要である.これを実現するために,できる限... [more] |
DC2024-99 pp.7-12 |
CPSY, DC, RECONF (共催) IPSJ-ARC (連催) [詳細] |
2024-08-08 09:50 |
徳島 |
あわぎんホール (徳島県, オンライン) (ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催) |
完全故障検出効率と完全診断分解能を両立するテストパターン置換法 ○青野竜弥・細川利典(日大)・吉村正義(京産大)・山崎浩二(明大) CPSY2024-17 DC2024-17 RECONF2024-17 |
故障診断に用いるテスト集合は,高故障検出効率かつ多数の故障ペアが識別可能であることが重要である.これを実現するために,診... [more] |
CPSY2024-17 DC2024-17 RECONF2024-17 pp.5-10 |
CPSY, DC, RECONF (共催) IPSJ-ARC (連催) [詳細] |
2024-08-08 16:45 |
徳島 |
あわぎんホール (徳島県, オンライン) (ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催) |
楽観/悲観構造的記号シミュレーションを用いたテスト並列化のためのドントケア割当て及びテストスケジューリング法 ○徳田晴太・細川利典(日大)・吉村正義(京都産大)・新井雅之(日大) CPSY2024-25 DC2024-25 RECONF2024-25 |
近年,VLSI のテストコスト増大に伴い,テストパターン数の削減が重要になっている.テストパターン数を削減するためのレジ... [more] |
CPSY2024-25 DC2024-25 RECONF2024-25 pp.46-51 |
DC |
2024-02-28 14:05 |
東京 |
機械振興会館 (東京都) |
擬似ブール最適化を用いた2サイクルゲート網羅故障のための低消費電力指向複数目標故障テスト生成法 ○溝田桃菜・細川利典(日大)・吉村正義(京都産大)・新井雅之(日大) DC2023-99 |
[more] |
DC2023-99 pp.29-34 |
DC |
2024-02-28 15:40 |
東京 |
機械振興会館 (東京都) |
レジスタ転送レベルにおけるデータパスの推定フィールドランダムテスタビリティ改善のための追加状態信号系列生成について ○豊岡雄大・細川利典(日大)・吉村正義(京都産大) DC2023-102 |
[more] |
DC2023-102 pp.47-52 |
DC |
2023-12-08 13:50 |
長崎 |
アルカスSASEBO (長崎県, オンライン) (ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催) |
組込み自己テストにおける両立可能故障集合を用いた複数ランダムパターンレジスタント故障のシード生成法 ○曽根隆暢・細川利典(日大)・吉村正義(京都産大)・新井雅之(日大) DC2023-88 |
近年,超大規模集積回路の大規模化により,多量化したテストパターンをテスタに保存することは非現実的になっている.組込み自己... [more] |
DC2023-88 pp.7-12 |
CPSY, DC (共催) IPSJ-ARC (連催) [詳細] |
2023-08-03 10:55 |
北海道 |
函館アリーナ (北海道, オンライン) (ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催) |
フィールドテストにおけるk連続状態遷移に基づく状態信号列を用いたデータパスのランダムテスタビリティの推定値に関する評価 ○豊岡雄大・渡辺悠樹・細川利典(日大)・吉村正義(京都産大) CPSY2023-11 DC2023-11 |
[more] |
CPSY2023-11 DC2023-11 pp.19-24 |
CPSY, DC (共催) IPSJ-ARC (連催) [詳細] |
2023-08-03 11:20 |
北海道 |
函館アリーナ (北海道, オンライン) (ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催) |
識別可能重み付きハードウェア要素ペア数最大化のためのコントローラの制御信号のドントケア割当て法 ○大塚裕衣・細川利典(日大)・吉村正義(京都産大)・山崎浩二(明大) CPSY2023-12 DC2023-12 |
[more] |
CPSY2023-12 DC2023-12 pp.25-30 |
HWS, VLD (共催) |
2023-03-03 11:50 |
沖縄 |
沖縄県青年会館 (沖縄県, オンライン) (ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催) |
擬似ブール最適化を用いた論理BISTにおけるテスト実行時間最小化のためのシード選択手法 ○三浦 怜・細川利典(日大)・吉村正義(京都産大) VLD2022-105 HWS2022-76 |
[more] |
VLD2022-105 HWS2022-76 pp.173-178 |
HWS, VLD (共催) |
2023-03-03 13:50 |
沖縄 |
沖縄県青年会館 (沖縄県, オンライン) (ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催) |
論理圧縮を用いた機能修正回路による論理ロック手法 ○野口葉平・吉村正義(京都産大)・三浦 怜・細川利典(日大) VLD2022-107 HWS2022-78 |
近年,VLSIの大規模化に伴い,VLSI設計会社は,コスト削減を目的に設計データへのIPコアの利用やファブレス化の傾向が... [more] |
VLD2022-107 HWS2022-78 pp.185-190 |
DC |
2023-02-28 11:25 |
東京 |
機械振興会館 (東京都, オンライン) (ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催) |
故障診断分解能向上のための複数故障ペア識別パターン生成法 ○千田祐弥・細川利典(日大)・山崎浩二(明大) DC2022-83 |
故障診断において,高故障検出率かつ多数の故障ペアが識別可能であることが重要である.このことを実現するために,レジスタ転送... [more] |
DC2022-83 pp.6-11 |
DC |
2023-02-28 14:50 |
東京 |
機械振興会館 (東京都, オンライン) (ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催) |
2パターン並列テストのためのコントローラの制御信号のドントケア割当て法 徐 浩豊・○細川利典(日大)・吉村正義(京都産大)・新井雅之(日大) DC2022-88 |
[more] |
DC2022-88 pp.33-38 |
DC |
2023-02-28 15:15 |
東京 |
機械振興会館 (東京都, オンライン) (ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催) |
組込み自己テストのための複数ランダムパータンレジスタント遷移故障のシード生成法 徐 雁レイ・三浦 怜・○細川利典(日大)・吉村正義(京都産大) DC2022-89 |
近年超大規模集積回路の微細化,高速化,電源電圧の低電圧化により,タイミング遅延を伴う欠陥が増加している.それゆえ, 遷移... [more] |
DC2022-89 pp.39-44 |
VLD, DC, RECONF, ICD (共催) IPSJ-SLDM (連催) [詳細] |
2022-11-29 09:15 |
熊本 |
金沢市文化ホール (熊本県, オンライン) (ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催) |
識別可能ハードウェア要素ペア数最大化のためのコントローラの制御信号のドントケア割当て法 ○大塚裕衣・千田祐弥・徐 浩豊・細川利典(日大)・山崎浩二(明大) VLD2022-25 ICD2022-42 DC2022-41 RECONF2022-48 |
[more] |
VLD2022-25 ICD2022-42 DC2022-41 RECONF2022-48 pp.37-42 |
VLD, DC, RECONF, ICD (共催) IPSJ-SLDM (連催) [詳細] |
2022-11-29 09:40 |
熊本 |
金沢市文化ホール (熊本県, オンライン) (ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催) |
RTL故障診断容易化設計に基づくテスト生成法 ○千田祐弥・細川利典(日大)・山崎浩二(明大) VLD2022-26 ICD2022-43 DC2022-42 RECONF2022-49 |
故障診断において,高故障検出率かつ多数の故障ペアが識別可能であることが重要である.このことを実現するために,レジスタ転送... [more] |
VLD2022-26 ICD2022-43 DC2022-42 RECONF2022-49 pp.43-48 |
VLD, DC, RECONF, ICD (共催) IPSJ-SLDM (連催) [詳細] |
2022-11-29 10:05 |
熊本 |
金沢市文化ホール (熊本県, オンライン) (ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催) |
組込み自己テストにおける複数ランダムパターンレジスタント縮退故障のシード生成法 ○三浦 怜・細川利典(日大)・吉村正義(京都産大) VLD2022-27 ICD2022-44 DC2022-43 RECONF2022-50 |
[more] |
VLD2022-27 ICD2022-44 DC2022-43 RECONF2022-50 pp.49-54 |
CPSY, DC (共催) IPSJ-ARC (連催) [詳細] |
2022-10-12 14:00 |
新潟 |
湯沢東映ホテル (新潟県, オンライン) (ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催) |
並列テストのためのコントローラの制御信号のドントケア割当てアルゴリズム ○徐 浩豊・細川利典(日大)・吉村正義(京都産大)・新井雅之(日大) CPSY2022-24 DC2022-24 |
近年,VLSIのテストコスト増大に伴い,テストパターン数の削減が重要になっている.そのため,テスト並列化を考慮したテスト... [more] |
CPSY2022-24 DC2022-24 pp.37-42 |