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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
SC 2024-06-07
15:00
福島 会津大学 (福島県, オンライン)
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
マイクロサービスアーキテクチャにおける疑似障害を用いた信頼性テスト技術
西 佑介田口学豊日立SC2024-4
近年、リソースの有効活用や障害の局所化、サービス改修の容易化などの観点から、マイクロサービスアーキテクチャを利用したシス... [more] SC2024-4
pp.19-24
SC 2023-06-02
15:20
福島 会津大学 UBIC 3D Theater (福島県, オンライン)
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
コネクテッドカーソリューション開発を加速するIoVプラットフォーム
伊藤大生西 佑介日立)・新 吉高日立AstemoSC2023-6
 [more] SC2023-6
pp.32-37
ICM, IPSJ-IOT, IPSJ-CSEC
(連催)
2023-05-12
14:00
高知 高知工科大学永国寺キャンパス (高知県, オンライン)
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
ソースコードとシステムの構成の差異を修正する構成ドリフト修正機能
伊藤大生西 佑介日立)・新 吉高日立AstemoICM2023-10
 [more] ICM2023-10
pp.47-52
CPM 2022-03-01
14:45
ONLINE オンライン開催 (オンライン) 酸化物を用いた抵抗変化素子のフォーミング特性の評価
大野知晟西 佑介舞鶴高専CPM2021-77
 [more] CPM2021-77
pp.20-23
EID, SDM
(共催)
ITE-IDY
(連催) [詳細]
2020-12-02
15:00
ONLINE オンライン開催 (オンライン) TiN電極を用いたTa2O5-ReRAM素子におけるデジタルおよびアナログ抵抗変化の共存
山田和尚木本恒暢京大)・西 佑介京大/舞鶴高専EID2020-11 SDM2020-45
本研究では、Ni/Ta2O5/TiN積層構造を有する素子の抵抗変化現象について調べた.同一の素子において、異なる二種類の... [more] EID2020-11 SDM2020-45
pp.42-45
EID, SDM
(共催)
2015-12-14
11:45
京都 龍谷大学 響都ホール 校友会館 (京都府) NiOを用いたReRAMにおけるフォーミング特性の分布
西 佑介木本恒暢京大EID2015-12 SDM2015-95
 [more] EID2015-12 SDM2015-95
pp.13-17
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