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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| US | 2020-09-28 13:50 |
ONLINE | オンライン開催 | 直線集束ビーム超音波材料解析システムによる材料均質性評価のための高速スキャン法 ○大橋雄二・横田有為・山路晃広・吉野将生・黒澤俊介・鎌田 圭・佐藤浩樹・豊田智史・花田 貴・吉川 彰（東北大）  US2020-34 |
直線集束ビーム超音波材料解析(LFB-UMC)システムにおいて高速スキャン法を用いた新しい材料均質性評価法を提案し，その... [more] | US2020-34 pp.41-44 |
| SDM | 2016-06-29 15:05 |
東京 | キャンパス・イノベーションセンター東京 | タンタル酸ナノシート/SiO2/Si界面バンドオフセットにおけるUV照射の効果 ○速水脩平・豊田智史・福田勝利（京大）・菅谷英生（パナソニック）・森田将史・中田明良・内本喜晴・松原英一郎（京大） SDM2016-42 |
ReRAMの材料設計を行う際の指針として、絶縁層とSi基板の界面バンドオフセットはリーク電流の抑制を考える上で重要なパラ... [more] | SDM2016-42 pp.53-58 |
| SDM | 2006-06-22 10:30 |
広島 | 広島大学, 学士会館 | 角度分解光電子分光を用いたSiO2/SiN積層膜の窒素濃度分布の解析 ○豊田智史・岡林 潤・尾嶋正治（東大）・劉 国林・劉 紫園・池田和人・臼田宏治（半導体理工学研究センター） |
酸窒化膜の窒素濃度分布および化学結合状態はトランジスタの特性および構造を理解するために重要である。角度分解光電子分光法は... [more] | SDM2006-55 pp.77-80 |
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