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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| VLD | 2014-03-03 16:25 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | 改良ランダムオーダースキャンによるセキュアスキャン設計とその評価 ○大屋 優・跡部悠太・史 又華・柳澤政生・戸川 望（早大）  VLD2013-141 |
大規模集積回路のテスト容易化設計の1つであるスキャンチェインを利用したスキャンテストが一般的に行われる. 反面スキャン... [more] |
VLD2013-141 pp.43-48 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2012-11-26 16:00 |
福岡 | 九州大学百年講堂 | 鍵ベース構成のState Dependent Scan Flip-Flopを用いたセキュアスキャンアーキテクチャ ○跡部悠太・史 又華・柳澤政生・戸川 望（早大） VLD2012-67 DC2012-33 |
暗号LSIは機密操作を行うために使用されるため，それ自体は安全である必要がある．スキャンテストは高い故障検出率を持つテス... [more] | VLD2012-67 DC2012-33 pp.45-50 |
| IE, SIP, ICD, VLD, IPSJ-SLDM (共催) [詳細] |
2012-10-19 16:00 |
岩手 | ホテルルイズ（盛岡）【変更】 | 鍵ベース構成のState Dependent Scan Flip-Flopを用いたセキュアスキャンアーキテクチャのRSA暗号回路への実装 ○跡部悠太・史 又華・柳澤政生・戸川 望（早大） VLD2012-57 SIP2012-79 ICD2012-74 IE2012-81 |
スキャンテストは高い故障検出率を持ち，一般的に使われるテスト容易化設計技術である．しかし，スキャンテストで用いられるスキ... [more] | VLD2012-57 SIP2012-79 ICD2012-74 IE2012-81 pp.95-100 |
| VLD, CAS, MSS, SIP (共催) |
2012-07-03 11:40 |
京都 | 京都リサーチパーク | State Dependent Scan Flip Flopを用いたRSA暗号回路へのセキュアスキャンアーキテクチャの実装 ○跡部悠太・史 又華・柳澤政生・戸川 望（早大） CAS2012-21 VLD2012-31 SIP2012-53 MSS2012-21 |
代表的なテスト容易化設計であるスキャンテストは，LSI 内部のFF(フリップフロップ) を直列に接続し，外部から自由に制... [more] | CAS2012-21 VLD2012-31 SIP2012-53 MSS2012-21 pp.115-120 |
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