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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
PRMU, IE, MI, SIP
(共催)
2016-05-19
13:30
愛知 名古屋大学 多重解像度EPI分析法による高精度デプス推定
鈴木貴博高橋桂太藤井俊彰名大SIP2016-2 IE2016-2 PRMU2016-2 MI2016-2
エピポーラ平面画像(EPI画像)の構造テンソル分析は,ライトフィールドデータ(密な多視点画像)において視差を推定するのに... [more] SIP2016-2 IE2016-2 PRMU2016-2 MI2016-2
pp.5-10
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