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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| SDM, ICD (共催) ITE-IST (連催) [詳細] |
2019-08-07 16:30 |
北海道 | 北海道大学 情報科学院 3F A31 | ［招待講演］28nmスプリットゲートMONOS型フラッシュメモリを用いた高温動作かつ低エラー率を実現するPUF技術 ○下井貴裕・斉藤朋也・長瀬寛和・伊豆名雅之・神田明彦・伊藤 孝・河野隆司（ルネサス エレクトロニクス）  SDM2019-39 ICD2019-4 |
28nmスプリットゲートMONOS（SG-MONOS）型フラッシュメモリを用いた、ハードウェアセキュリティ向けの高信頼の... [more] | SDM2019-39 ICD2019-4 pp.15-19 |
| SDM | 2018-10-17 14:00 |
宮城 | 東北大学未来情報産業研究館５Ｆ | ［招待講演］次世代車載マイコン対応Fin-FET MONOS ○津田是文・斉藤朋也・長瀬寛和・川嶋祥之・吉冨敦司・岡西 忍・林 倫弘・丸山卓也・井上真雄・村中誠志・加藤茂樹・萩原琢也・齊藤博和・山口 直・門島 勝・丸山隆弘・三原竜善・柳田博史・園田賢一郎・山口泰男・山下朋弘（ルネサス エレクトロニクス） SDM2018-52 |
[more] | SDM2018-52 pp.1-5 |
| SDM | 2018-01-30 14:00 |
東京 | 機械振興会館 | ［招待講演］16/14nmノード混載フラッシュメモリに向けた狭いVth分布を持つFinFET Split-Gate MONOSアレイの信頼性及びスケーラビリティ ○津田是文・斉藤朋也・長瀬寛和・川嶋祥之・吉冨敦司・岡西 忍・林 倫弘・丸山卓也・井上真雄・村中誠志・加藤茂樹・萩原琢也・齊藤博和・山口 直・門島 勝・丸山隆弘・三原竜善・柳田博史・園田賢一郎・山下朋弘・山口泰男（ルネサス エレクトロニクス） SDM2017-94 |
本論文ではFinFET構造を持つSG-MONOSアレイの信頼性及びスケーラビリティについて述べる．FinFET SG-M... [more] | SDM2017-94 pp.13-16 |
| SDM | 2017-10-26 13:00 |
宮城 | 東北大学未来研 | ［依頼講演］28nmスプリットゲートMONOS型フラッシュメモリを用いた高温動作かつ低エラー率を実現するPUF技術 ○下井貴裕・斉藤朋也・長瀬寛和・伊豆名雅之・神田明彦・伊藤 孝・河野隆司（ルネサス エレクトロニクス） SDM2017-58 |
28nmスプリットゲートMONOS（SG-MONOS）型フラッシュメモリを用いた、ハードウェアセキュリティ向けの高信頼の... [more] | SDM2017-58 pp.45-49 |
| MW | 2009-09-25 13:50 |
東京 | 電通大 | 3次元ソレノイド型インダクタを用いた低電力・超小型LC-VCO ○田辺 昭・肱岡健一郎・長瀬寛和・林 喜宏（NECエレクトロニクス） MW2009-83 |
3次元ソレノイド型インダクタを用いて、低電力・超小型の5GHzのLC-VCOとそれを組み込んだPLLを開発した。90nm... [more] | MW2009-83 pp.55-60 |
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