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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
ISEC 2013-12-11
14:55
東京 機械振興会館 ICカードへの電磁波照射攻撃事例におけるフォールト生起プロセス
土屋 遊大野 仁松本 勉横浜国大ISEC2013-77
暗号モジュールに部分的なフォールトを誘発し状況を観察することによりモジュール内部の暗号鍵を暴くフォールト攻撃は強力な攻撃... [more] ISEC2013-77
pp.25-31
IT, ISEC, WBS
(共催)
2013-03-08
10:30
大阪 関西学院大学 大阪梅田キャンパス 非加工接触型ICカードのレーザー照射によるフォールト攻撃
大野 仁土屋 遊遠山 毅岸川 剛齋藤翔平横浜国大)・佐々木明彦森田テック)・佐藤 証東大)・松本 勉横浜国大IT2012-93 ISEC2012-111 WBS2012-79
 [more] IT2012-93 ISEC2012-111 WBS2012-79
pp.195-202
ISEC 2012-12-12
14:55
東京 機械振興会館 DPA Contest v3で用いたYNUの消費電力波形取得技術
松本 勉岸川 剛大野 仁齋藤翔平土屋 遊横浜国大)・佐々木明彦森田テック)・○遠山 毅横浜国大ISEC2012-76
 [more] ISEC2012-76
pp.29-36
EMD 2012-11-30
10:45
千葉 千葉工業大学 Arc Length of Break Arcs Magnetically Blown-out at Arc Extinction
Hitoshi OnoJunya SekikawaShizuoka Univ.EMD2012-66
 [more] EMD2012-66
pp.13-18
EMCJ, EMD
(共催)
2012-07-20
13:40
東京 機械振興会館 壁により移動範囲を制限される開離時アークの磁気吹き消し
小野 仁関川純哉静岡大EMCJ2012-43 EMD2012-18
直流電源電圧200-450V,回路電流10Aの抵抗性負荷回路において,Ag接点対を等速開離させ,開離時アークを発生させる... [more] EMCJ2012-43 EMD2012-18
pp.13-18
EMD 2011-11-17
08:45
秋田 秋田大学 手形キャンパス Reignition of Break Arcs Magnetically Blown-Out in a 450V DC Resistive Circuit
Hitoshi OnoJunya SekikawaTakayoshi KubonoShizuoka UnivEMD2011-66
 [more] EMD2011-66
pp.1-6
EMD, EMCJ
(共催)
2011-07-15
13:10
東京 機械振興会館 高電圧直流回路内で横磁界により駆動される開離時アークの消弧直前の電圧の時間変化
小野 仁関川純哉窪野隆能静岡大EMCJ2011-63 EMD2011-22
 [more] EMCJ2011-63 EMD2011-22
pp.13-18
AP 2007-10-19
13:25
青森 弘前大 Pol-InSAR画像解析におけるESPRIT法を用いた散乱モデル分解法の精度向上
小野田 仁山田寛喜山口芳雄新潟大AP2007-99
近年,地球環境の変動を広域に亘り観測する手段としてマイクロ波リモートセンシングが注目されている.地表面の解析手法の一つに... [more] AP2007-99
pp.69-74
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