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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-ARC
(連催) [詳細]
2023-08-03
11:20
北海道 函館アリーナ
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
識別可能重み付きハードウェア要素ペア数最大化のためのコントローラの制御信号のドントケア割当て法
大塚裕衣細川利典日大)・吉村正義京都産大)・山崎浩二明大CPSY2023-12 DC2023-12
 [more] CPSY2023-12 DC2023-12
pp.25-30
DC 2023-02-28
11:25
東京 機械振興会館
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
故障診断分解能向上のための複数故障ペア識別パターン生成法
千田祐弥細川利典日大)・山崎浩二明大DC2022-83
故障診断において,高故障検出率かつ多数の故障ペアが識別可能であることが重要である.このことを実現するために,レジスタ転送... [more] DC2022-83
pp.6-11
VLD, DC, RECONF, ICD
(共催)
IPSJ-SLDM
(連催) [詳細]
2022-11-29
09:40
熊本 金沢市文化ホール
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
RTL故障診断容易化設計に基づくテスト生成法
千田祐弥細川利典日大)・山崎浩二明大VLD2022-26 ICD2022-43 DC2022-42 RECONF2022-49
故障診断において,高故障検出率かつ多数の故障ペアが識別可能であることが重要である.このことを実現するために,レジスタ転送... [more] VLD2022-26 ICD2022-43 DC2022-42 RECONF2022-49
pp.43-48
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC
(共催)
(連催) [詳細]
2022-03-10
10:50
ONLINE オンライン開催 故障活性化率に基づく診断分解能向上指向テスト生成法
千田祐弥細川利典日大)・山崎浩二明大CPSY2021-57 DC2021-91
高い欠陥検出率を達成するテスト生成法の1つとして,n回検出テスト生成法が提案されている.さらに,テスト品質尺度として故障... [more] CPSY2021-57 DC2021-91
pp.73-78
DC 2022-03-01
15:45
東京 機械振興会館
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
レジスタ転送レベル回路における故障診断容易化のための コントローラの制御信号のドントケア割当て法の評価
土渕航平徐 浩豊千田裕弥細川利典日大)・山崎浩二明大DC2021-76
 [more] DC2021-76
pp.69-74
DC 2022-03-01
16:10
東京 機械振興会館
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
ニューラルネットワークと故障検出情報を用いたマルチサイクルキャプチャテストにおける論理故障に関する欠陥種類推定法
太田菜月細川利典日大)・山崎浩二明大)・新井雅之山内ゆかり日大DC2021-77
 [more] DC2021-77
pp.75-80
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC
(共催)
(連催) [詳細]
2021-03-26
11:00
ONLINE オンライン開催 ニューラルネットワークを用いた被疑論理故障信号線の欠陥種類推定法
太田菜月細川利典日大)・山崎浩二明大)・山内ゆかり新井雅之日大CPSY2020-61 DC2020-91
特定の故障モデルの故障診断は誤診断や解なしという診断を起こす可能性があるため,スキャン設計回路を対象としたマルチサイクル... [more] CPSY2020-61 DC2020-91
pp.67-72
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC
(共催)
(連催) [詳細]
2021-03-26
11:20
ONLINE オンライン開催 レジスタ転送レベル回路における故障診断容易化のためのコントローラの制御信号のドントケア割当て法
土渕航平細川利典日大)・山崎浩二明大CPSY2020-62 DC2020-92
近年の半導体微細化技術の進歩に伴い,超大規模集積回路において,故障解析は歩留まりの向上のために重要である.被疑故障を事前... [more] CPSY2020-62 DC2020-92
pp.73-78
HWS, VLD
(共催)
2019-02-27
17:10
沖縄 沖縄県青年会館 パケット結合によるDMA転送効率の向上
大輝晶子八田彩希川村智明山崎晃嗣羽田野孝裕宮崎昭彦新田高庸NTTVLD2018-106 HWS2018-69
CPUを介さずに周辺機器やメインメモリなどの間で直接データ転送を行うDMA転送は、コンピュータにネットワーク機能を追加す... [more] VLD2018-106 HWS2018-69
pp.79-84
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
CPM, ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2018-12-06
11:20
広島 サテライトキャンパスひろしま FPGA搭載NICへの40 Gbit/s対応無効DNSパケット自動応答回路の実装によるDNSコンテンツサーバのCPU使用率抑制
大輝晶子八田彩希川村智明NTT)・山崎晃嗣NTT-AT)・羽田野孝裕宮崎昭彦新田高庸NTTVLD2018-55 DC2018-41
汎用サーバ上で動作するDNSソフトで実現したDNSコンテンツサーバのCPU使用率抑制と性能向上を目的として、管理外のドメ... [more] VLD2018-55 DC2018-41
pp.113-118
NS, IN
(併催)
2018-03-01
11:30
宮崎 フェニックス・シーガイア・リゾート ネットワークハードウェア抽象化における処理性能予測に関する実現性評価の一検討
武井勇樹西山聡史八田彩希山崎晃嗣NTTNS2017-186
CPUやFPGA,NPUなどを組み合わせ,ネットワーク機能を適材適所に配備する際には,迅速な処理性能やリソース消費量の予... [more] NS2017-186
pp.109-112
DC 2016-02-17
14:00
東京 機械振興会館 故障励起条件解析を用いたユニバーサル論理故障診断のための被疑故障ランキング法
高野秀之細川利典山崎紘史日大)・山崎浩二明大DC2015-91
 [more] DC2015-91
pp.31-36
NS, IN
(併催)
2015-03-03
14:30
沖縄 沖縄コンベンションセンタ 圧縮センシングを用いた時空間階層化トラヒック観測手法
辻 喜宏大下裕一村田正幸阪大)・山崎晃嗣宮崎昭彦NTTIN2014-162
 [more] IN2014-162
pp.243-248
DC 2015-02-13
16:00
東京 機械振興会館 マルチサイクルキャプチャテスト集合を用いた単一論理故障の故障診断法の評価
高野秀之山崎紘史細川利典日大)・山崎浩二明大DC2014-86
スキャンテストのテスト品質を向上させる手法としてマルチサイクルキャプチャテストが提案されている.しかしながら,マルチサイ... [more] DC2014-86
pp.49-54
DC 2014-02-10
16:00
東京 機械振興会館 マルチサイクルキャプチャテスト生成を用いた低消費電力指向遷移故障テスト生成法
山崎紘史川連裕斗西間木 淳平井淳士細川利典日大)・吉村正義九大)・山崎浩二明大DC2013-89
ディープサブミクロン時代の実速度スキャンテストにおいて,キャプチャ時の消費電力の増加が問題となっている.キャプチャ時の高... [more] DC2013-89
pp.61-66
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2013-11-29
14:35
鹿児島 鹿児島県文化センター ストリーミング処理のためのプロセッサ構成に関する検討
関原悠介山崎晃嗣宮崎昭彦NTTVLD2013-101 DC2013-67
データストリーミングの高速化に伴い,パケットデータ等の転送システムに求められる処理性能は年々向上している.高速なパケット... [more] VLD2013-101 DC2013-67
pp.287-292
VLD, IPSJ-SLDM
(連催)
2013-05-16
09:50
福岡 北九州国際会議場 接続性を考慮した完全並走配線最長化手法
山崎浩治・○小平行秀会津大VLD2013-3
近年,LSIシステムにおける回路の高速化,微細化のため,PCB配線設計では差動ペア配線が多用され,かつ高い精度での信号遅... [more] VLD2013-3
pp.13-18
DC 2013-02-13
13:30
東京 機械振興会館 半断線故障検出のための信号遅延の特性評価
大栗裕人四柳浩之橋爪正樹徳島大)・堤 利幸山崎浩二明大)・樋上善信高橋 寛愛媛大DC2012-84
半断線故障が発生すると,故障配線の信号遅延により回路性能が低下する場合がある. しかし,故障配線に信号遷移を与える検査入... [more] DC2012-84
pp.25-30
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2012-11-28
16:25
福岡 九州大学百年講堂 テスト圧縮効率化のためのテスト生成法の一考察
楠山友紀乃山崎達也細川利典日大)・吉村正義九大)・山崎浩二明大VLD2012-105 DC2012-71
近年,VLSIの大規模化,複雑化にともない,テスト対象となる故障モデル数と故障数の増加により,テストパターン数が増大して... [more] VLD2012-105 DC2012-71
pp.267-272
DC 2012-06-22
14:20
東京 機械振興会館 [招待講演]シグナルインティグリティ不良に対する実証的研究の試み
高橋 寛樋上喜信愛媛大)・堤 利幸山崎浩二明大)・四柳浩之橋爪正樹徳島大DC2012-12
本研究では,電磁界シミュレーションおよび半断線故障TEGの製作・測定に基づいてシグナルインティグリティ不良の原因となる配... [more] DC2012-12
pp.21-26
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