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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
SDM 2024-10-24
10:00
宮城 東北大学未来情報産業研究館5F [招待講演]グラフェンによる低抵抗微細配線の検討
松本貴士東京エレクトロン
 [more]
HWS, VLD
(共催) [詳細]
2021-03-03
10:25
ONLINE オンライン開催 Evaluation on Approximate Multiplier for CNN Calculation
Yuechuan ZhangMasahiro FujitaTakashi MatsumotoUTokyoVLD2020-68 HWS2020-43
畳み込みニューラルネットワーク(CNN)の精度を向上させるには、通常、より大きなハードウェアとより多くのエネルギー消費が... [more] VLD2020-68 HWS2020-43
pp.7-12
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2019-11-14
09:15
愛媛 愛媛県男女共同参画センター 単発DCストレス測定による負バイアス温度不安定性のAC特性を再現可能なモデル
保坂 巧埼玉大)・西澤真一福岡大)・岸田 亮東京理科大)・松本高士東大)・小林和淑京都工繊大VLD2019-35 DC2019-59
本論文ではコンパクトな負バイアス温度不安定性(NBTI)モデルを提案する.提案モデルは反応拡散(tn)およびホールトラッ... [more] VLD2019-35 DC2019-59
pp.57-62
ET 2019-03-15
10:40
徳島 鳴門教育大学 eラーニングで他者と一緒に演習問題に取り組んでいると感じられるVRシステムの開発と評価
中村修也松本崇志赤倉貴子東京理科大ET2018-106
本研究では,他者と演習問題に取り組んでいると感じられるVR環境をeラーニングシステムとして開発・評価した.
本システム... [more]
ET2018-106
pp.111-116
PRMU, BioX
(共催)
2018-03-18
10:15
東京 青山学院大学 青山キャンパス [招待講演]今なぜ署名か
松本 隆クールデザイン/早大
良いアイデアであっても、時代からの要請がない限りテクノロジーは陽の目を見ない。2018年現在「署名認証」に対する要請が流... [more]
VLD, DC
(共催)
CPM, ICD, IE
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2016-11-28
15:30
大阪 立命館大学大阪いばらきキャンパス 40 nm SiONプロセスにおけるランダムテレグラフノイズ複合欠陥モデルを用いた回路解析手法
籔内美智太郎大島 梓駒脇拓弥小林和淑岸田 亮古田 潤京都工繊大)・Pieter Weckxルーベン・カトリック大/IMEC)・Ben KaczerIMEC)・松本高士東大)・小野寺秀俊京大VLD2016-52 DC2016-46
複合欠陥を考慮したランダムテレグラフノイズ (RTN: Random Telegraph Noise) モデルを用いた回... [more] VLD2016-52 DC2016-46
pp.49-54
MBE, NC
(併催)
2015-12-19
16:15
愛知 名古屋工業大学 SpikePropにおいて余分なスパイクを抑制する学習法 ~ 不要な副結合抑制に関する検討 ~
松本 崇高瀬治彦川中普晴鶴岡信治三重大NC2015-53
Booijらにより提案されたSpikePropは,複数の出力スパイクの時刻を学習できるスパイキングニューラルネットワーク... [more] NC2015-53
pp.43-48
ICD, CPSY
(共催)
2015-12-17
09:40
京都 京都工芸繊維大学 40nmプロセスリングオシレータにおける複合モード欠陥を用いたRTNのモデル化
大島 梓京都工繊大)・Pieter WeckxBen KaczerIMEC)・松本高士東大)・小林和淑京都工繊大)・小野寺秀俊京大ICD2015-63 CPSY2015-76
 [more] ICD2015-63 CPSY2015-76
pp.1-6
ICD, CPSY
(共催)
2015-12-17
16:00
京都 京都工芸繊維大学 [ポスター講演]40nmプロセスリングオシレータにおける複合モード欠陥を用いたRTNのモデル化
大島 梓京都工繊大)・Pieter WeckxBen KaczerIMEC)・松本高士東大)・小林和淑京都工繊大)・小野寺秀俊京大
 [more]
MI 2015-11-11
10:50
奈良 奈良先端大 4DCT画像における左心室の形状トラッキング ~ DPマッチング法とDemonsアルゴリズムによる手法の比較 ~
松本 尚青山正人増谷佳孝広島市大)・山本秀也木原康樹広島大MI2015-60
本稿では,DPマッチング法とDemonsアルゴリズムを用いて,4DCT画像を対象とした左心室の形状トラッキングを行った結... [more] MI2015-60
pp.15-18
SDM 2015-03-02
13:35
東京 機械振興会館 [招待講演]選択成長を用いたCNTビアのインテグレーション
磯林厚伸和田 真伊東 伴斎藤達朗西出大亮石倉太志片桐雅之山崎雄一松本貴士北村政幸渡邉勝仁佐久間尚志・○梶田明広酒井忠司超低電圧デバイス技研組合SDM2014-167
塗布型カーボン犠牲膜をCMPする技術と、ビアホール側面をシーリングする技術を用いて、高い選択性を有するCNTビア形成プロ... [more] SDM2014-167
pp.29-32
MI 2015-03-03
13:40
沖縄 石垣島 ホテルミヤヒラ あいまいな境界情報の入力に基づく対話的臓器領域抽出法
松本 尚富岡義樹青山正人増谷佳孝広島市大MI2014-101
本稿では,3次元医用画像に対する対話的かつ半自動臓器領域抽出の一手法を提案する.本手法では,タッチパネルに表示された画像... [more] MI2014-101
pp.233-236
MBE, NC
(併催)
2014-12-13
13:40
愛知 名古屋大学 SpikePropにおいて余分なスパイクを抑制する学習法 ~ 時間遅れに着目した一検討 ~
松本 崇高瀬治彦川中普晴鶴岡信治三重大NC2014-52
Booijらにより提案されたSpikePropは,複数の出力スパイクの時刻を学習できるスパイキングニューラルネットワーク... [more] NC2014-52
pp.49-53
AP, MW
(併催)
2014-09-19
16:25
東京 東工大 大岡山キャンパス [依頼講演]ディラックコーンメタ表面の異常透過現象について
永井翔太郎松本 隆真田篤志山口大AP2014-107 MW2014-98
金属パッチと金属ビアの2次元周期構造からなるメタ表面の異常透過現象を実験的に評価する. まず, ブリルアンゾーン中のΓ点... [more] AP2014-107 MW2014-98
pp.77-82(AP), pp.71-76(MW)
VLD 2014-03-03
13:00
沖縄 沖縄県青年会館 非均質なリングオシレータを用いたランダムテレグラフノイズの特性解析
西村彰平松本高士京大)・小林和淑京都工繊大)・小野寺秀俊京大VLD2013-134
近年のLSIの微細化に伴い、ランダムテレグラフノイズが組み合わせ回路の遅延に与える影響が増大している。非均質なリングオシ... [more] VLD2013-134
pp.1-6
VLD 2014-03-03
13:25
沖縄 沖縄県青年会館 CMOSトランジスタのランダム・テレグラフ・ノイズが組合せ回路遅延に及ぼす影響
松本高士京大)・小林和淑京都工繊大)・小野寺秀俊京大VLD2013-135
 [more] VLD2013-135
pp.7-12
NC, MBE
(併催)
2013-11-22
13:50
宮城 東北大学 SSAを用いた脳波SSVEPの2クラス判別
白鳥友規南波寛直松本 隆石山敦士早大NC2013-48
脳波(EEG)を用いたSSVEPの2クラス判別問題に信号分離アルゴリズムStationary Subspace Anal... [more] NC2013-48
pp.13-16
MBE, NC
(併催)
2013-03-14
15:05
東京 玉川大学 アルファ波成分を用いた脳波ASSRデータの2クラス判別
南波寛直中村 尭松本 隆早大MBE2012-104
ブレイン・コンピュータインターフェースのひとつに,音声刺激への選択注意を用いたものが提案さ れている.これは短い刺激時間... [more] MBE2012-104
pp.79-82
IBISML 2013-03-05
14:35
愛知 名古屋工業大学 画像領域分割問題に対する階層ディリクレ過程事前分布マルコフ確率場の提案
岸 悠介中村拓磨原田竜弘松本 隆早大IBISML2012-105
最近提案されたIHMRFは領域数未知の画像領域分割問題を解くためのアルゴリズムの一つであるが,複数の画像を独立に処理する... [more] IBISML2012-105
pp.87-94
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2012-11-26
16:00
福岡 九州大学百年講堂 ランダム・テレグラフ・ノイズに起因した組合せ回路遅延ゆらぎに対する基板バイアスの影響
松本高士京大)・小林和淑京都工繊大)・小野寺秀俊京大VLD2012-70 DC2012-36
近年のLSI素子の微細化により、NBTIおよび、RTNなどのゲート絶縁膜の信頼性が回路の信頼性に与える影響がますます深刻... [more] VLD2012-70 DC2012-36
pp.63-68
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