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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
R, ED, SDM
(共催)
2005-11-25
15:05
大阪 中央電気倶楽部 GaAs高周波デバイスの湿度に起因した劣化
野上洋一日坂隆行吉田直人三菱電機
AlGaAs/InGaAs PHEMTの高温高湿環境下の劣化機構について調べた。高温高湿環境下で劣化したサンプルはIma... [more] R2005-44 ED2005-179 SDM2005-198
pp.37-41
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