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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| HWS, VLD (共催) |
2023-03-01 13:50 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
リーク電流の製造ばらつきを利用したLRPUFの超低電圧に向けた回路の最適化とシミュレーション評価 ○畑 俊吉・宇佐美公良（芝浦工大）  VLD2022-77 HWS2022-48 |
LSI の個体識別技術であるPUF(Physically Unclonable Function)を、センサノードなどの... [more] | VLD2022-77 HWS2022-48 pp.25-30 |
| HWS | 2022-04-26 13:30 |
東京 | 産業技術総合研究所 臨海副都心センター（別館） （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
静電容量センサの出力分布に着目したID生成手法に関する基礎検討 ○鍛治秀伍・太刀掛彩希・藤本大介・林 優一（奈良先端大） HWS2022-4 |
IC内部の定電流源とA/Dコンバータにより構成された静電容量センサを用いて個体を識別することにより、外部の計測機器を用い... [more] | HWS2022-4 pp.19-23 |
| VLD, HWS (共催) [詳細] |
2022-03-08 09:55 |
ONLINE | オンライン開催 | 製造装置に起因する不連続な特性ばらつきを考慮したウェハ空間特性ばらつきモデル化 ○長尾匠真（奈良高専）・新谷道広（奈良先端大）・山口賢一・岩田大志（奈良高専）・中村友紀・梶山賀生・栄木 誠（ソニーセミコンダクタマニュファクチャリング）・井上美智子（奈良先端大） VLD2021-92 HWS2021-69 |
ウェハ面上に製造された集積回路（Large-scale integrated circuit，LSI）の性能を予測する統... [more] | VLD2021-92 HWS2021-69 pp.87-92 |
| VLD, HWS (共催) [詳細] |
2022-03-08 10:20 |
ONLINE | オンライン開催 | リーク電流の製造ばらつきを利用したLR-PUFの機械学習攻撃に対する耐性評価 ○笈川智秋・宇佐美公良（芝浦工大） VLD2021-93 HWS2021-70 |
LSIの個体識別技術の一つに、半導体の物理的特徴を利用したPUF（Physically Unclonable Funct... [more] | VLD2021-93 HWS2021-70 pp.93-98 |
| NLP, MICT, MBE (共催) NC (併催) [詳細] |
2022-01-23 09:25 |
ONLINE | オンライン開催 | 蓄電池セル内のばらつき解析のための並列接続シミュレータの一検討 ○和田楓真・鈴木慶一郎・礒田有哉・福井正博（立命館大） NLP2021-120 MICT2021-95 MBE2021-81 |
近年、環境意識の高まりとともに蓄電池の需要は世界的に高まっており、それに伴って蓄電池における内部セル解析の重要性が増して... [more] | NLP2021-120 MICT2021-95 MBE2021-81 pp.225-230 |
| VLD, DC, RECONF, ICD, IPSJ-SLDM (連催) (併催) [詳細] |
2021-12-02 14:20 |
ONLINE | オンライン開催 | RF回路の同時測定におけるウェハー面上ダイ特性ばらつきモデル化 ○ミア リアーズ ウル ハック（島根大）・新谷道広（奈良先端大） VLD2021-42 ICD2021-52 DC2021-48 RECONF2021-50 |
少数の測定結果からウェーハ全体のチップ特性予測手法は，量産テストのテスト品質を損なうことなくテ ストコストを削減する手法... [more] | VLD2021-42 ICD2021-52 DC2021-48 RECONF2021-50 pp.144-149 |
| HWS, ICD (共催) [詳細] |
2021-10-19 15:25 |
ONLINE | オンライン開催 | 静電容量センサを用いたプリント基板の個体差の検出に関する基礎検討 ○太刀掛彩希・鍛治秀伍・藤本大介・林 優一（奈良先端大） HWS2021-50 ICD2021-24 |
Physical Unclonable Function (PUF) を用いた個体識別技術は、半導体デバイスやプリント基... [more] | HWS2021-50 ICD2021-24 pp.49-52 |
| EE, IEE-SPC (連催) |
2021-07-19 10:55 |
ONLINE | オンライン開催 | 負荷非依存E級インバータにおける周波数制御 ○小宮山裕太郎・グエン キエン（千葉大）・三島大地・伊藤勇輝・上松 武（オムロン）・関屋大雄（千葉大） EE2021-8 |
研究では，周波数制御を適用した負荷非依存E級インバータを提案する．負荷非依存E級インバータに対して出力電圧が一定に維持さ... [more] | EE2021-8 pp.6-11 |
| SIP, CAS, VLD, MSS (共催) |
2021-07-06 10:00 |
ONLINE | オンライン開催 | リーク電流を利用したPUFの回路構造の提案とシミュレーション評価 ○笈川智秋・宇佐美公良（芝浦工大） CAS2021-9 VLD2021-9 SIP2021-19 MSS2021-9 |
LSIの個体識別技術の一つに、半導体の物理的特徴を利用したPUF(Physically Unclonable Funct... [more] | CAS2021-9 VLD2021-9 SIP2021-19 MSS2021-9 pp.42-47 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC (共催) (連催) [詳細] |
2021-03-26 10:40 |
ONLINE | オンライン開催 | 自己参照に基づく直接密度比推定を用いた教師なし再利用FPGA検出 ○井阪友哉（関西学院大）・新谷道広（奈良先端大）・アフメド フォイサル（プライム大）・井上美智子（奈良先端大） CPSY2020-60 DC2020-90 |
Field-programmable gate-array（FPGA）の回路性能は使用により経時的に劣化することから，F... [more] | CPSY2020-60 DC2020-90 pp.61-66 |
| DC | 2021-02-05 10:30 |
ONLINE | オンライン開催 | FPGAの配線遅延の影響を考慮した製造ばらつき測定方法の検討 ○堤 信吾・三浦幸也（都立大） DC2020-69 |
FPGAとはユーザが任意の論理機能を実装できるLSIである．FPGAにおいても製造ばらつきが問題になってきており，これを... [more] | DC2020-69 pp.1-6 |
| DC | 2021-02-05 10:55 |
ONLINE | オンライン開催 | ランダムばらつきを考慮した電力サイドチャネルの学習によるハードウェアトロイ回路の検出手法 ○井上美智子・Riaz-Ul-Haque Mian（奈良先端大） DC2020-70 |
サプライチェーンのグローバル化，複雑化により半導体集積回路へのハードウェアトロイ回路の混入が懸念されてる． 本稿では，... [more] |
DC2020-70 pp.7-11 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2019-11-14 15:05 |
愛媛 | 愛媛県男女共同参画センター | 省エネルギー二値化ニューラルネットワーク向けMTJベース積和演算回路の構成 ○千葉智貴・夏井雅典・羽生貴弘（東北大） ICD2019-32 IE2019-38 |
本稿では，二値化ニューラルネットワークハードウェアへの適用に向けた，次世代不揮発記憶素子を活用した積和演算および活性化関... [more] | ICD2019-32 IE2019-38 pp.19-24 |
| SDM | 2019-11-08 10:30 |
東京 | 機械振興会館 | ［招待講演］不純物の離散性に伴った半導体デバイスモデリングの基本的側面 II ～ 半導体ナノ構造におけるランダム不純物 ～ ○佐野伸行（筑波大） SDM2019-75 |
半導体デバイスにドープされた離散的で空間に局在した不純物のデバイスシミュレーションにおける取り扱い方法は、デバイス特性ば... [more] | SDM2019-75 pp.33-38 |
| SANE | 2019-04-16 13:55 |
神奈川 | 防衛大学校 | 送受信回路で用いるICのばらつきについて ○有馬 聖・名坂純哉・杉本 司・中村浩司・熊木武志（立命館大）・小林正明（AOC Japan） SANE2019-9 |
近年の情報通信技術は半導体素子や通信処理アルゴリズムの発達によって格段に進歩してきた．それに伴い，モバイルノートパソコン... [more] | SANE2019-9 pp.43-46 |
| HWS, VLD (共催) |
2019-02-28 16:45 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | 製造・実装ばらつきに起因する放射スペクトルの違いを用いた電子機器の個体識別手法に関する基礎検討 ○鍛治秀伍（奈良先端大）・衣川昌宏（仙台高専）・藤本大介（奈良先端大）・Laurent Sauvage・Jean-Luc Danger（Telecom ParisTech）・林 優一（奈良先端大） VLD2018-120 HWS2018-83 |
電子機器内部のICやその他の素子などの偽造や複製による模造品の流通によって、電子機器の機能や性能が維持・保証できなくなり... [more] | VLD2018-120 HWS2018-83 pp.163-167 |
| ICD, CPSY, CAS (共催) |
2018-12-23 09:30 |
沖縄 | ホテルアトールエメラルド宮古島 | ［ポスター講演］リチウムイオン蓄電池劣化シミュレータを用いた電池パックのセル間初期ばらつきと劣化の関係に対する一検討 ○中嶋 基・Godine Raja Sekhar・林 磊・有馬理仁・福井正博（立命館大） CAS2018-92 ICD2018-76 CPSY2018-58 |
リチウムイオン蓄電池の需要の増加とともに，蓄電池を安全かつ効率的に運用することが求められている．環境への配慮などにより，... [more] | CAS2018-92 ICD2018-76 CPSY2018-58 pp.65-68 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) CPM, ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2018-12-07 09:25 |
広島 | サテライトキャンパスひろしま | トランジスタサイズを変えた記憶保持特性の異なるフリップフロップ群を利用したばらつき評価 ○深澤研人・西澤真一・伊藤和人（埼玉大） VLD2018-66 DC2018-52 |
トランジスタの特性ばらつきをフリップフロップの記憶保持特性を用いて推定する．集積回路中に記憶素子として存在するスキャンフ... [more] | VLD2018-66 DC2018-52 pp.189-193 |
| SDM | 2018-10-18 14:00 |
宮城 | 東北大学未来情報産業研究館５Ｆ | ソースとドレインが非対称のMOSFETを用いた電気的特性ばらつきの統計的解析 ○市野真也・寺本章伸・黒田理人・間脇武蔵・諏訪智之・須川成利（東北大） SDM2018-62 |
高精度アナログデバイス回路の実現に支障をきたす，しきい値電圧ばらつきやランダムテレグラフノイズ（RTN）といったMOSト... [more] | SDM2018-62 pp.51-56 |
| SDM, ICD (共催) ITE-IST (連催) [詳細] |
2018-08-09 13:45 |
北海道 | 北海道大学大学院情報科学研究科 M棟M151 | SRAMの安定性自己修復手法における複数回ストレス印加の効果 ○水谷朋子・竹内 潔・更屋拓哉・小林正治・平本俊郎（東大） SDM2018-49 ICD2018-36 |
ランダムしきい値電圧 (VTH) ばらつきにより劣化したSRAMセルの安定性を向上させる「安定性自己修復技術」において，... [more] | SDM2018-49 ICD2018-36 pp.121-126 |
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