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IEICE: 電子情報通信学会
A: 基礎・境界
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H: ヒューマンCG
(第二種) A: 基礎・境界
(第二種) N: NOLTA
(第二種) B: 通信
(第二種) C: エレクトロニクス
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(第二種) H: ヒューマンCG
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光エレクトロニクス研究会 (OPE)
超伝導エレクトロニクス研究会 (SCE)
シリコン材料・デバイス研究会 (SDM)
人工知能と知識処理研究会 (AI)
クラウドネットワークロボット研究会 (CNR)
コンピュテーション研究会 (COMP)
合意と共創研究会 (Consen)
コンピュータシステム研究会 (CPSY)
ディペンダブルコンピューティング研究会 (DC)
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マルチメディア情報ハイディング・エンリッチメント研究会 (EMM)
教育工学研究会 (ET)
情報論的学習理論と機械学習研究会 (IBISML)
情報通信システムセキュリティ研究会 (ICSS)
画像工学研究会 (IE)
知能ソフトウェア工学研究会 (KBSE)
ライフインテリジェンスとオフィス情報システム研究会 (LOIS)
MEとバイオサイバネティックス研究会 (MBE)
医用画像研究会 (MI)
ニューロコンピューティング研究会 (NC)
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パターン認識・メディア理解研究会 (PRMU)
リコンフィギャラブルシステム研究会 (RECONF)
サービスコンピューティング研究会 (SC)
音声研究会 (SP)
ソフトウェアサイエンス研究会 (SS)
ソフトウェアインタプライズモデリング研究会 (SWIM)
ヒューマンコミュニケーション基礎研究会 (HCS)
ヒューマン情報処理研究会 (HIP)
メディアエクスペリエンス・バーチャル環境基礎研究会 (MVE)
福祉情報工学研究会 (WIT)
センサネットワーク研究会 (SN)
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バイオメトリックシステムセキュリティ研究会 (BS)
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新世代ネットワーク研究会 (NwGN)
ネットワークソフトウェア研究会 (NWS)
光応用電磁界計測研究会 (PEM)
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量子情報技術研究会 (QIT)
シリコンフォトニクス研究会 (SIPH)
テラヘルツ応用システム研究会 (THz)
合意と共創研究会 (Consensus)
サイバーワールド時限研究会 (CW)
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誘電・絶縁材料研究会 (IEE-DEI)
電子デバイス技術委員会 (IEE-EDD)
電子材料研究会 (IEE-EFM)
電磁環境技術委員会 (IEE-EMC)
電磁界理論技術委員会 (IEE-EMT)
家電・民生技術委員会 (IEE-HCA)
産業電力電気応用研究会(解散) (IEE-IEA)
次世代産業システム (IEE-IIS)
情報システム研究会 (IEE-IS)
ITS研究会 (IEE-ITS)
マグネティックス研究会 (IEE-MAG)
医用・生体工学技術委員会 (IEE-MBE)
マイクロマシン・センサシステム研究会 (IEE-MSS)
光・量子デバイス技術委員会 (IEE-OQD)
スマートファシリティ研究会 (IEE-SMF)
半導体電力変換研究会 (IEE-SPC)
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放送技術研究会 (ITE-BCT)
コンシューマエレクトロニクス研究会 (ITE-CE)
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情報ディスプレイ研究会 (ITE-IDY)
情報センシング研究会 (ITE-IST)
メディア工学研究会 (ITE-ME)
マルチメディアストレージ研究会 (ITE-MMS)
スポーツ情報処理研究会 (ITE-SIP)
アクセシビリティ研究会 (IPSJ-AAC)
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研究会
発表日時
開催地
タイトル・著者
抄録
資料番号
HWS
,
VLD
(共催)
[詳細]
2020-03-06
14:30
沖縄
沖縄県青年会館
(開催中止,技報発行あり)
パーシャルMAX-SATを用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法
○
山崎紘史
・
石山悠太
・
松田竜馬
・
細川利典
(
日大
)・
吉村正義
(
京都産大
)・
新井雅之
(
日大
)・
四柳浩之
・
橋爪正樹
(
徳島大
)
VLD2019-131 HWS2019-104
従来,VLSIのテストでは,縮退故障モデルや遷移故障モデルが広く用いられてきた.しかしながら,半導体微細化技術の進展に伴...
[more]
VLD2019-131
HWS2019-104
pp.215-220
CS
,
CAS
(共催)
2020-02-27
11:45
熊本
崇城大学
3D-ICにおける電源TSVの抵抗性オープン故障の検出手法
○
蜂屋孝太郎
(
帝京平成大
)・
黒川 敦
(
弘前大
)
CAS2019-104 CS2019-104
電源マイクロ・バンプ間の抵抗を測定することにより電源TSVの抵抗性オープン故障を検出する方法を提案する.
従来の電源T...
[more]
CAS2019-104
CS2019-104
pp.37-41
CPSY
,
DC
(共催)
IPSJ-SLDM
,
IPSJ-EMB
,
IPSJ-ARC
(共催)
(連催)
[詳細]
2019-03-18
09:00
鹿児島
西之表市民会館(種子島)
最大充足化問題を用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法
○
山崎紘史
・
細川利典
(
日大
)・
吉村正義
(
京都産大
)・
新井雅之
(
日大
)・
四柳浩之
・
橋爪正樹
(
徳島大
)
CPSY2018-117 DC2018-99
従来,VLSIのテストでは,縮退故障モデルや遷移故障モデルが広く用いられてきた.しかしながら,半導体微細化技術の進展に伴...
[more]
CPSY2018-117
DC2018-99
pp.315-320
DC
2018-02-20
09:30
東京
機械振興会館
2パターンテストにおける重み付き故障カバレージに関する一考察
○
新井雅之
(
日大
)・
岩崎一彦
(
首都大東京
)
DC2017-77
半導体製造技術の微細化・高集積化に伴い,欠陥レベルの事前見積り値と実製品に対する値との乖離が問題となっている.著者らは,...
[more]
DC2017-77
pp.1-6
DC
2017-12-15
15:05
秋田
放送大学秋田学習センター
ビアオープン故障を考慮した重み付き故障カバレージに関する検討
○
小林泰生
・
岩崎一彦
(
首都大東京
)
DC2017-74
クリティカルエリアに基づく重み付き故障カバレージを用いて出荷VLSIチップの欠陥レベルを低減させる手法が提案されている....
[more]
DC2017-74
pp.31-36
VLD
,
DC
(共催)
CPM
,
ICD
,
IE
(共催)
CPSY
,
RECONF
(併催)
[詳細]
2016-11-30
09:00
大阪
立命館大学大阪いばらきキャンパス
重み付き故障カバレージに基づくテストパターン並替えの高速化手法
○
犬山慎吾
・
岩崎一彦
(
首都大東京
)・
新井雅之
(
日大
)
VLD2016-61 DC2016-55
半導体製造技術の微細化,高集積化に伴い,欠陥レベルの事前見積り値と実製品に対する値の乖離が問題となっている.著者らは,ク...
[more]
VLD2016-61
DC2016-55
pp.99-104
DC
2012-02-13
11:30
東京
機械振興会館
レイアウトを考慮した故障カバレージの高精度見積りに関する一考察
○
新井雅之
・
清水貴弘
・
岩崎一彦
(
首都大東京
)
DC2011-79
半導体製造技術の微細化・高集積化に伴い,欠陥レベルの事前見積り値と実製品に対する値との乖離が問題となっている.本稿では,...
[more]
DC2011-79
pp.19-24
DC
2010-02-15
10:25
東京
機械振興会館
抵抗性オープン故障のモデル化とそのテスト生成について
○
高橋 寛
・
樋上喜信
・
首藤祐太
・
高棟佑司
・
高松雄三
(
愛媛大
)・
堤 利幸
・
山崎浩二
(
明大
)・
四柳浩之
・
橋爪正樹
(
徳島大
)
DC2009-68
シグナルインティグリティに関する課題を解決するために,本稿では,抵抗性オープン故障検出のための拡張遅延故障モデルを提案す...
[more]
DC2009-68
pp.19-24
DC
2010-02-15
16:05
東京
機械振興会館
TEGチップのデジタル測定によるオープン故障のモデル化の検討
堤 利幸
・○
刈谷泰由紀
・
山崎浩二
(
明大
)・
橋爪正樹
・
四柳浩之
(
徳島大
)・
高橋 寛
・
樋上喜信
・
高松雄三
(
愛媛大
)
DC2009-77
LSIの微細化に伴い,LSIテストにおけるオープン故障への対策の重要性が増してきている.しかし,オープン故障の実用的なモ...
[more]
DC2009-77
pp.75-80
DC
2009-02-16
14:15
東京
機械振興会館
隣接信号線を考慮したオープン故障のテストパターンについて
○
渡部哲也
・
高橋 寛
・
樋上喜信
(
愛媛大
)・
堤 利幸
・
山崎浩二
(
明大
)・
四柳浩之
・
橋爪正樹
(
徳島大
)・
高松雄三
(
愛媛大
)
DC2008-74
配線の微細化,長距離化に伴って,配線およびビアの断線(オープン)の欠陥によって生じる故障が顕在化している.
オープン故...
[more]
DC2008-74
pp.37-42
VLD
,
DC
,
IPSJ-SLDM
(共催)
ICD
,
CPM
(共催)
CPSY
,
RECONF
(併催)
[詳細]
2008-11-17
14:15
福岡
北九州学術研究都市
TEGチップを用いたオープン故障の解析
堤 利幸
・○
刈谷泰由紀
・
山崎浩二
(
明大
)・
橋爪正樹
・
四柳浩之
(
徳島大
)・
高橋 寛
・
樋上喜信
・
高松雄三
(
愛媛大
)
VLD2008-63 DC2008-31
半導体技術の高集積化が進みLSIの故障検出や故障診断が難しくなってきている.特に,オープン故障への対策はLSIの微細化に...
[more]
VLD2008-63
DC2008-31
pp.19-24
DC
2008-06-20
15:50
東京
機械振興会館
オープン故障診断の性能向上について
○
山崎浩二
・
堤 利幸
(
明大
)・
高橋 寛
・
樋上喜信
・
相京 隆
(
愛媛大
)・
四柳浩之
・
橋爪正樹
(
徳島大
)・
高松雄三
(
愛媛大
)
DC2008-16
回路の微細化や銅配線の導入により,配線やビアの断線の発生頻度が高まっている.そのため,オープン故障診断法の開発の重要性が...
[more]
DC2008-16
pp.29-34
DC
,
CPSY
(共催)
2008-04-23
15:30
東京
東大・武田ホール
耐ソフトエラーラッチの検出不可能な固定故障の影響
○
中島健吾
・
難波一輝
・
伊藤秀男
(
千葉大
)
CPSY2008-8 DC2008-8
近年のVLSIの微細化に伴い,ソフトエラーの発生率が増加し,ソフトエラー対策技術が重要となってきている.ソフトエラー対策...
[more]
CPSY2008-8
DC2008-8
pp.43-48
DC
2008-02-08
09:25
東京
機械振興会館
隣接信号線を考慮した動的なオープン故障に対する故障診断法
高橋 寛
・
樋上喜信
・
相京 隆
・
門山周平
・○
渡部哲也
・
高松雄三
(
愛媛大
)・
堤 利幸
・
山崎浩二
(
明大
)・
四柳浩之
・
橋爪正樹
(
徳島大
)
DC2007-68
配線の微細化,長距離化に伴って,配線およびビアの断線(オープン)の欠陥によって生じる故障が顕在化している.
本稿では,...
[more]
DC2007-68
pp.7-12
R
2007-09-14
13:10
高知
高知工科大学
[招待講演]故障診断における欠陥モデルの動向 ~ チュートリアル ~
○
佐藤康夫
(
日立
)
R2007-32
LSI故障診断における故障モデルの動向を中心に最近の診断技術を紹介する.故障診断は,ATEにおけるテスト結果を最もよく説...
[more]
R2007-32
pp.17-22
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タイトル順
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