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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
HWS, VLD
(共催) [詳細]
2020-03-06
14:30
沖縄 沖縄県青年会館
(開催中止,技報発行あり)
パーシャルMAX-SATを用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法
山崎紘史石山悠太松田竜馬細川利典日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大)・四柳浩之橋爪正樹徳島大VLD2019-131 HWS2019-104
従来,VLSIのテストでは,縮退故障モデルや遷移故障モデルが広く用いられてきた.しかしながら,半導体微細化技術の進展に伴... [more] VLD2019-131 HWS2019-104
pp.215-220
CS, CAS
(共催)
2020-02-27
11:45
熊本 崇城大学 3D-ICにおける電源TSVの抵抗性オープン故障の検出手法
蜂屋孝太郎帝京平成大)・黒川 敦弘前大CAS2019-104 CS2019-104
電源マイクロ・バンプ間の抵抗を測定することにより電源TSVの抵抗性オープン故障を検出する方法を提案する.
従来の電源T... [more]
CAS2019-104 CS2019-104
pp.37-41
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC
(共催)
(連催) [詳細]
2019-03-18
09:00
鹿児島 西之表市民会館(種子島) 最大充足化問題を用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法
山崎紘史細川利典日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大)・四柳浩之橋爪正樹徳島大CPSY2018-117 DC2018-99
従来,VLSIのテストでは,縮退故障モデルや遷移故障モデルが広く用いられてきた.しかしながら,半導体微細化技術の進展に伴... [more] CPSY2018-117 DC2018-99
pp.315-320
DC 2018-02-20
09:30
東京 機械振興会館 2パターンテストにおける重み付き故障カバレージに関する一考察
新井雅之日大)・岩崎一彦首都大東京DC2017-77
半導体製造技術の微細化・高集積化に伴い,欠陥レベルの事前見積り値と実製品に対する値との乖離が問題となっている.著者らは,... [more] DC2017-77
pp.1-6
DC 2017-12-15
15:05
秋田 放送大学秋田学習センター ビアオープン故障を考慮した重み付き故障カバレージに関する検討
小林泰生岩崎一彦首都大東京DC2017-74
クリティカルエリアに基づく重み付き故障カバレージを用いて出荷VLSIチップの欠陥レベルを低減させる手法が提案されている.... [more] DC2017-74
pp.31-36
VLD, DC
(共催)
CPM, ICD, IE
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2016-11-30
09:00
大阪 立命館大学大阪いばらきキャンパス 重み付き故障カバレージに基づくテストパターン並替えの高速化手法
犬山慎吾岩崎一彦首都大東京)・新井雅之日大VLD2016-61 DC2016-55
半導体製造技術の微細化,高集積化に伴い,欠陥レベルの事前見積り値と実製品に対する値の乖離が問題となっている.著者らは,ク... [more] VLD2016-61 DC2016-55
pp.99-104
DC 2012-02-13
11:30
東京 機械振興会館 レイアウトを考慮した故障カバレージの高精度見積りに関する一考察
新井雅之清水貴弘岩崎一彦首都大東京DC2011-79
半導体製造技術の微細化・高集積化に伴い,欠陥レベルの事前見積り値と実製品に対する値との乖離が問題となっている.本稿では,... [more] DC2011-79
pp.19-24
DC 2010-02-15
10:25
東京 機械振興会館 抵抗性オープン故障のモデル化とそのテスト生成について
高橋 寛樋上喜信首藤祐太高棟佑司高松雄三愛媛大)・堤 利幸山崎浩二明大)・四柳浩之橋爪正樹徳島大DC2009-68
シグナルインティグリティに関する課題を解決するために,本稿では,抵抗性オープン故障検出のための拡張遅延故障モデルを提案す... [more] DC2009-68
pp.19-24
DC 2010-02-15
16:05
東京 機械振興会館 TEGチップのデジタル測定によるオープン故障のモデル化の検討
堤 利幸・○刈谷泰由紀山崎浩二明大)・橋爪正樹四柳浩之徳島大)・高橋 寛樋上喜信高松雄三愛媛大DC2009-77
LSIの微細化に伴い,LSIテストにおけるオープン故障への対策の重要性が増してきている.しかし,オープン故障の実用的なモ... [more] DC2009-77
pp.75-80
DC 2009-02-16
14:15
東京 機械振興会館 隣接信号線を考慮したオープン故障のテストパターンについて
渡部哲也高橋 寛樋上喜信愛媛大)・堤 利幸山崎浩二明大)・四柳浩之橋爪正樹徳島大)・高松雄三愛媛大DC2008-74
配線の微細化,長距離化に伴って,配線およびビアの断線(オープン)の欠陥によって生じる故障が顕在化している.
オープン故... [more]
DC2008-74
pp.37-42
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(共催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2008-11-17
14:15
福岡 北九州学術研究都市 TEGチップを用いたオープン故障の解析
堤 利幸・○刈谷泰由紀山崎浩二明大)・橋爪正樹四柳浩之徳島大)・高橋 寛樋上喜信高松雄三愛媛大VLD2008-63 DC2008-31
半導体技術の高集積化が進みLSIの故障検出や故障診断が難しくなってきている.特に,オープン故障への対策はLSIの微細化に... [more] VLD2008-63 DC2008-31
pp.19-24
DC 2008-06-20
15:50
東京 機械振興会館 オープン故障診断の性能向上について
山崎浩二堤 利幸明大)・高橋 寛樋上喜信相京 隆愛媛大)・四柳浩之橋爪正樹徳島大)・高松雄三愛媛大DC2008-16
回路の微細化や銅配線の導入により,配線やビアの断線の発生頻度が高まっている.そのため,オープン故障診断法の開発の重要性が... [more] DC2008-16
pp.29-34
DC, CPSY
(共催)
2008-04-23
15:30
東京 東大・武田ホール 耐ソフトエラーラッチの検出不可能な固定故障の影響
中島健吾難波一輝伊藤秀男千葉大CPSY2008-8 DC2008-8
近年のVLSIの微細化に伴い,ソフトエラーの発生率が増加し,ソフトエラー対策技術が重要となってきている.ソフトエラー対策... [more] CPSY2008-8 DC2008-8
pp.43-48
DC 2008-02-08
09:25
東京 機械振興会館 隣接信号線を考慮した動的なオープン故障に対する故障診断法
高橋 寛樋上喜信相京 隆門山周平・○渡部哲也高松雄三愛媛大)・堤 利幸山崎浩二明大)・四柳浩之橋爪正樹徳島大DC2007-68
配線の微細化,長距離化に伴って,配線およびビアの断線(オープン)の欠陥によって生じる故障が顕在化している.
本稿では,... [more]
DC2007-68
pp.7-12
R 2007-09-14
13:10
高知 高知工科大学 [招待講演]故障診断における欠陥モデルの動向 ~ チュートリアル ~
佐藤康夫日立R2007-32
LSI故障診断における故障モデルの動向を中心に最近の診断技術を紹介する.故障診断は,ATEにおけるテスト結果を最もよく説... [more] R2007-32
pp.17-22
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