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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
VLD, DC, RECONF, ICD, IPSJ-SLDM
(連催)
(併催) [詳細]
2021-12-01
09:20
ONLINE オンライン開催 TCADを用いた回路とレイアウト構造によるフリップフロップのソフトエラー耐性の評価
小谷萌香中島隆一京都工繊大)・井置一哉ローム)・古田 潤小林和淑京都工繊大VLD2021-17 ICD2021-27 DC2021-23 RECONF2021-25
本稿では130 nmプロセスのフリップフロップ(FF)とトランジスタと配線を追加した面積,遅延,電力オーバーヘッドの小さ... [more] VLD2021-17 ICD2021-27 DC2021-23 RECONF2021-25
pp.1-6
DC, CPSY
(共催)
IPSJ-ARC
(連催) [詳細]
2021-10-11
16:00
ONLINE オンライン開催 DICEの相補性に基づくエッジトリガ型D-FF
松浦徳己難波一輝千葉大CPSY2021-15 DC2021-15
近年のVLSI(Very Large Scale IC)は微細化,高集積化,動作電圧の低下に伴いソフトエラーの発生確率が... [more] CPSY2021-15 DC2021-15
pp.19-24
DC, CPSY
(連催)
IPSJ-ARC
(連催) [詳細]
2020-10-12
14:10
ONLINE オンライン開催 C-elementを用いた耐ソフトエラー性を有するSRラッチ
中田惟吹難波一輝千葉大CPSY2020-19 DC2020-19
近年のVLSIは微細化,高集積化が進んでいる.それに伴い消費電力,臨海電荷量が低下している.そのため,ソフトエラーの発生... [more] CPSY2020-19 DC2020-19
pp.12-15
SAT, RCS
(併催)
2020-08-21
10:55
ONLINE オンライン開催 [奨励講演]Software Defined Satelliteの実現に向けた要素技術
谷 重紀山下靖貴早馬道也半谷政毅有賀 博三菱電機SAT2020-20
衛星搭載通信ミッション機器のデジタル化によって実現されるSoftware Defined Satellite (SDS)... [more] SAT2020-20
pp.53-57
RECONF 2020-05-28
14:20
ONLINE オンライン開催 FPGAを用いた自動運転システムにおけるソフトエラー評価の検討
田中知成廖 望密山幸男高知工科大RECONF2020-6
本論文では,SRAMベースのFPGAを用いた自動運転システムにおけるソフトエラーの影響をシステムレベルで評価することを目... [more] RECONF2020-6
pp.31-35
NS, IN
(併催)
2020-03-06
15:10
沖縄 Royal Hotel 沖縄残波岬
(開催中止,技報発行あり)
誤り訂正・検出機能を備えた通信機器のソフトエラー試験結果報告
舘野瑞樹渡邊宏介NTTNS2019-251
通信機器の小型化・高性能化により、半導体デバイスの高集積化・微細化が進み、宇宙線由来の中性子が引き起こすソフトエラーへの... [more] NS2019-251
pp.419-423
DC 2020-02-26
16:35
東京 機械振興会館 耐電源ノイズ用ラッチのソフトエラー耐性
木下湧矢三浦幸也首都大東京DC2019-97
近年,VLSI回路の微細化や電源電圧の低下に伴い,ソフトエラーによる信頼性の低下が問題となっている.ソフトエラーの影響は... [more] DC2019-97
pp.67-72
SAT, SANE
(併催)
2020-02-20
13:50
沖縄 大濱信泉記念館(石垣市) CNN DAEによるデジタルペイロードのソフトエラー耐性向上
谷 重紀山下靖貴内田 繁有賀 博三菱電機SAT2019-81
通信衛星や観測衛星の運用柔軟性を向上するため,軌道上でデジタル信号処理によって通信諸元を変更するデジタルペイロード型の衛... [more] SAT2019-81
pp.69-74
DC 2019-02-27
15:10
東京 機械振興会館 耐過渡故障を指向した線形有限状態機械のストカスティック数による状態符号化
前田有希市原英行岩垣 剛井上智生広島市大DC2018-81
確率を用いた計算手法であるストカスティックコンピューティング(SC) は,低面積,低消費電力,耐過渡故障性などの利点から... [more] DC2018-81
pp.61-66
SDM, ICD
(共催)
ITE-IST
(連催) [詳細]
2018-08-07
11:30
北海道 北海道大学大学院情報科学研究科 M棟M151 FDSOIプロセスにおけるスタック構造を用いたNMOSおよびPMOSトランジスタのソフトエラー耐性の実測による比較
山田晃大古田 潤小林和淑京都工繊大SDM2018-28 ICD2018-15
集積回路素子の微細化に伴いソフトエラーによる集積回路の信頼性低下が問題となっている.本研究では,65nm FDSOI (... [more] SDM2018-28 ICD2018-15
pp.15-20
VLD, HWS
(併催)
2018-02-28
16:55
沖縄 沖縄県青年会館 コンポーネント間近接制約に基づいた混合誤り訂正機構の信頼性評価
呉 政訓金子峰雄北陸先端大VLD2017-102
LSIの微細化に伴った様々な問題の中,ソフトエラーは信頼性低下の主な要因の一つとされている.配線や部品の間隔が狭くなるに... [more] VLD2017-102
pp.79-84
VLD, HWS
(併催)
2018-02-28
17:20
沖縄 沖縄県青年会館 FDSOIに適したスタック構造におけるソフトエラー対策手法の提案・評価と微細化による影響の評価
丸岡晴喜山田晃大榎原光則古田 潤小林和淑京都工繊大VLD2017-103
トランジスタサイズの微細化に伴い、ソフトエラーにより集積回路の信頼性が低下している。本稿では65 nm FDSOI プロ... [more] VLD2017-103
pp.85-90
VLD, HWS
(併催)
2018-02-28
17:45
沖縄 沖縄県青年会館 65 nm FDSOIプロセスのトランジスタモデルの違いによるフリップフロップのソフトエラー耐性の実測と評価
榎原光則丸岡晴喜山田晃大古田 潤小林和淑京都工繊大VLD2017-104
ムーアの法則に従い, 集積回路 (LSI)が微細化することで, PCやスマートフォン
といった高性能な製品を作れるよう... [more]
VLD2017-104
pp.91-96
VLD 2017-03-03
13:25
沖縄 沖縄県青年会館 コンポーネント間近接制約に基づいた混合誤り訂正機構と回路面積評価
呉 政訓金子峰雄北陸先端大VLD2016-129
VLSI の微細化に伴ったソフトエラーによる信頼性低下がより深刻化している.これまで,システムレベルの対策として,比較・... [more] VLD2016-129
pp.151-156
VLD, DC
(共催)
CPM, ICD, IE
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2016-11-28
14:15
大阪 立命館大学大阪いばらきキャンパス TCADシミュレーションを用いたFDSOIプロセスの耐ソフトエラー回路構造の検討
山田晃大丸岡晴喜梅原成宏古田 潤小林和淑京都工繊大VLD2016-49 DC2016-43
集積回路はムーアの法則に従って微細化してきたが,それに伴いソフトエラーに
よる信頼性の低下が問題となっている.既にソ... [more]
VLD2016-49 DC2016-43
pp.31-36
VLD, DC
(共催)
CPM, ICD, IE
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2016-11-28
14:40
大阪 立命館大学大阪いばらきキャンパス PHITS-TCADシミュレーションによるFinFETとFDSOIのソフトエラー耐性の評価
梅原成宏古田 潤小林和淑京都工繊大VLD2016-50 DC2016-44
集積回路の微細化に伴い,ソフトエラーによる信頼性の低下が問題となっている.近年,SOIやFinFETのような従来と異なる... [more] VLD2016-50 DC2016-44
pp.37-41
VLD, DC
(共催)
CPM, ICD, IE
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2016-11-28
15:05
大阪 立命館大学大阪いばらきキャンパス 重イオン照射測定によるFDSOIにおけるFFのソフトエラー耐性の評価
一二三 潤梅原成宏丸岡晴喜古田 潤小林和淑京都工繊大VLD2016-51 DC2016-45
微細プロセスではレイアウト構造を変更することで様々な影響が及ぶ.本研究では 28 nm と 65 nm の FDSOI ... [more] VLD2016-51 DC2016-45
pp.43-48
MSS, CAS
(共催)
IPSJ-AL
(連催) [詳細]
2016-11-25
09:00
兵庫 神戸情報大学院大学 高位合成における信頼性を考慮したクロックスキュー調整に関する一検討
井上恵介金沢高専CAS2016-68 MSS2016-48
宇宙から飛来する中性子線やチップのシールド金属から放射される
アルファ線が回路の一時的な故障を引き起こす問題はソフトエ... [more]
CAS2016-68 MSS2016-48
pp.79-82
ICD, SDM
(共催)
ITE-IST
(連催) [詳細]
2016-08-02
09:00
大阪 中央電気倶楽部 [招待講演]超低電圧SRAMのソフトエラー耐性
橋本昌宜阪大SDM2016-54 ICD2016-22
本報告では、SRAMのソフトエラー耐性について議論する。特に、ニアスレッショルド回路やサブスレッショルド回路が対象とする... [more] SDM2016-54 ICD2016-22
pp.53-58
VLD, CAS, MSS, SIP
(共催)
2016-06-17
15:50
青森 弘前市立観光館 多数決イネーブルラッチを用いた非同期式回路の耐故障性に関する一検討
今井 雅弘前大)・米田友洋NIICAS2016-33 VLD2016-39 SIP2016-67 MSS2016-33
ソフトエラーやハードウェアトロイなど様々な要因により、LSI内においてビット反転が生じ、システムが誤動作する問題がある。... [more] CAS2016-33 VLD2016-39 SIP2016-67 MSS2016-33
pp.179-184
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