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すべての研究会開催スケジュール (検索条件: 最近10年)
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2023-02-28 14:25 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
グラフニューラルネットワークと深層強化学習による論理回路のテストポイント選択法 ○魏 少奇・塩谷晃平・王 森レイ・甲斐 博・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大）  DC2022-87 |
大規模集積回路のテスト品質を向上するためには，回路の中に可観測性や可制御性を向上できるテストポイント（Test Poin... [more] | DC2022-87 pp.27-32 |
| R | 2021-05-28 13:00 |
ONLINE | オンライン開催 | ［招待講演］車載システム向けのテスト容易化設計法 ○高橋 寛（愛媛大） |
先進自動運転のための車載コンピュータにおいては機能安全規格に基づくテストが必要である．新しいテスト環境であるフィールドに... [more] | |
| DC, SS (共催) |
2019-10-24 16:00 |
熊本 | 熊本大学 | n回状態遷移被覆に基づく非スキャンオンラインテスト法 ○池ヶ谷祐輝・石山悠太・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大） SS2019-19 DC2019-47 |
VLSIの経年劣化による障害を回避する手段の一つとして，通常動作時に回路の出力や内部信号線の値を監視するオンラインテスト... [more] | SS2019-19 DC2019-47 pp.37-42 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) CPM, ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2018-12-06 13:00 |
広島 | サテライトキャンパスひろしま | TDC組込み型バウンダリスキャンにおける遅延付加部の分割による検査時間の削減 ○平井智士・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） VLD2018-56 DC2018-42 |
ICの新たな集積方法として，TSV(Through-Silicon-Via)を用いた3次元積層技術が注目されている． ... [more] |
VLD2018-56 DC2018-42 pp.119-124 |
| DC | 2018-02-20 10:35 |
東京 | 機械振興会館 | TDC組込み型バウンダリスキャンにおける遅延付加部のリオーダによる配線長の低減 ○平井智士・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） DC2017-79 |
3次元積層ICにおけるダイ間配線の新しい実装方法として，TSV(Through-Silicon-Via)が注目されている... [more] | DC2017-79 pp.13-18 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) CPM, ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2017-11-06 15:20 |
熊本 | くまもと県民交流館パレア | コントローラ拡大を用いたレジスタ転送レベルにおけるテストパターン数削減のためのハードウェア要素のテストレジスタ割当て法 ○武田 俊・細川利典・山崎紘史（日大）・吉村正義（京都産大） VLD2017-37 DC2017-43 |
近年, VLSIのテストコスト増大に伴い，DFT設計を用いたテストパターン数削減手法が重要視されている．特に， VLSI... [more] | VLD2017-37 DC2017-43 pp.61-66 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2015-12-03 15:00 |
長崎 | 長崎県勤労福祉会館 | テスト容易でオンライン誤り検出可能な桁上げ選択加算器 ○鬼頭信貴（中京大） VLD2015-72 DC2015-68 |
テストが容易で，さらに動作中に故障による回路出力の誤りを検出可能(オンライン誤り検出可能)な桁上げ選択加算器を提案する．... [more] | VLD2015-72 DC2015-68 pp.225-230 |
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