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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| VLD, DC (共催) CPM, ICD, IE (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2016-11-28 14:15 |
大阪 | 立命館大学大阪いばらきキャンパス | TCADシミュレーションを用いたFDSOIプロセスの耐ソフトエラー回路構造の検討 ○山田晃大・丸岡晴喜・梅原成宏・古田 潤・小林和淑（京都工繊大）  VLD2016-49 DC2016-43 |
集積回路はムーアの法則に従って微細化してきたが，それに伴いソフトエラーに よる信頼性の低下が問題となっている．既にソ... [more] |
VLD2016-49 DC2016-43 pp.31-36 |
| RECONF | 2013-09-19 09:50 |
石川 | 北陸先端科学技術大学院大学 | 再構成型デバイスMPLDにおけるパストランジスタ・ロジックによる面積削減の検討 ○吉田雄揮・道田拓巳・谷川一哉・弘中哲夫（広島市大）・下舞賢一・石黒 隆（太陽誘電） RECONF2013-28 |
再構成型デバイスMPLD(Memory-based Programmable Logic Device)は基本要素である... [more] | RECONF2013-28 pp.49-54 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (共催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2008-11-17 16:15 |
福岡 | 北九州学術研究都市 | FPGAのスイッチマトリクスを対象とするソフトエラー対策 ○洪 勇基・中西正樹・山下 茂・中島康彦（奈良先端大） RECONF2008-45 |
近年，プロセス微細化によりソフトエラーの問題がさらに深刻化するといわれている．特にSRAMにおいてソフトエラーの問題は深... [more] | RECONF2008-45 pp.39-44 |
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