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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
VLD, DC
(共催)
CPM, ICD, IE
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2016-11-28
14:15
大阪 立命館大学大阪いばらきキャンパス TCADシミュレーションを用いたFDSOIプロセスの耐ソフトエラー回路構造の検討
山田晃大丸岡晴喜梅原成宏古田 潤小林和淑京都工繊大VLD2016-49 DC2016-43
集積回路はムーアの法則に従って微細化してきたが,それに伴いソフトエラーに
よる信頼性の低下が問題となっている.既にソ... [more]
VLD2016-49 DC2016-43
pp.31-36
RECONF 2013-09-19
09:50
石川 北陸先端科学技術大学院大学 再構成型デバイスMPLDにおけるパストランジスタ・ロジックによる面積削減の検討
吉田雄揮道田拓巳谷川一哉弘中哲夫広島市大)・下舞賢一石黒 隆太陽誘電RECONF2013-28
再構成型デバイスMPLD(Memory-based Programmable Logic Device)は基本要素である... [more] RECONF2013-28
pp.49-54
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(共催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2008-11-17
16:15
福岡 北九州学術研究都市 FPGAのスイッチマトリクスを対象とするソフトエラー対策
洪 勇基中西正樹山下 茂中島康彦奈良先端大RECONF2008-45
近年,プロセス微細化によりソフトエラーの問題がさらに深刻化するといわれている.特にSRAMにおいてソフトエラーの問題は深... [more] RECONF2008-45
pp.39-44
 3件中 1~3件目  /   
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