| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 研究会 開催スケジュール |
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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| SDM | 2022-10-19 10:20 |
ONLINE | オンライン開催に変更 | ［招待講演］エックス線光学素子のニーズ ～ 新プロセス技術への期待 ～ ○矢代 航（東北大）  SDM2022-54 |
波長が1Å前後の硬Ｘ線、冷熱中性子などは、物質との相互作用が小さいため、物体内部のイメージングなどに広く利用されてきた。... [more] | SDM2022-54 pp.1-4 |
| SDM, ICD (共催) ITE-IST (連催) [詳細] |
2018-08-07 11:30 |
北海道 | 北海道大学大学院情報科学研究科 M棟M151 | FDSOIプロセスにおけるスタック構造を用いたNMOSおよびPMOSトランジスタのソフトエラー耐性の実測による比較 ○山田晃大・古田 潤・小林和淑（京都工繊大） SDM2018-28 ICD2018-15 |
集積回路素子の微細化に伴いソフトエラーによる集積回路の信頼性低下が問題となっている．本研究では，65nm FDSOI (... [more] | SDM2018-28 ICD2018-15 pp.15-20 |
| IBISML | 2017-11-10 13:00 |
東京 | 東京大学 | ［ポスター講演］カウントデータに関する多次元ヒストグラムのビン幅最適化 ○武藤健介・坂本浩隆・松浦慧介・有馬孝尚・岡田真人（東大） IBISML2017-69 |
J-PARC MLFのチョッパー分光器による非弾性中性子散乱実験により，４次元観測空間上での中性子散乱カウントデータが大... [more] | IBISML2017-69 pp.255-260 |
| SCE | 2016-08-09 13:40 |
埼玉 | 埼玉大(大宮ソニックシティ） | 直列接続超伝導細線検出器アレイのSFQ読み出しとディジタル信号処理 ○内藤亮介・神谷恭平・上阪 岬・田中雅光・藤巻 朗（名大） SCE2016-21 |
超伝導細線検出器（SSLD）と単一磁束量子（SFQ）回路を組み合わせ，100万画素中性子イメージングセンサを目指して研究... [more] | SCE2016-21 pp.45-50 |
| ICD, SDM (共催) ITE-IST (連催) [詳細] |
2016-08-02 09:00 |
大阪 | 中央電気倶楽部 | ［招待講演］超低電圧SRAMのソフトエラー耐性 ○橋本昌宜（阪大） SDM2016-54 ICD2016-22 |
本報告では、SRAMのソフトエラー耐性について議論する。特に、ニアスレッショルド回路やサブスレッショルド回路が対象とする... [more] | SDM2016-54 ICD2016-22 pp.53-58 |
| R | 2015-11-19 14:25 |
大阪 | 大阪中央電気倶楽部 | ソフトエラーの同時発生範囲の測定方法 ○益田 昇・安永守利（筑波大） R2015-57 |
中性子線による半導体集積回路のソフトエラーでは1 粒子の中性子線が複数の回路に同時にエラーを起こす場合があり，これを対策... [more] | R2015-57 pp.5-10 |
| RCC, MICT (共催) |
2015-05-28 15:20 |
東京 | 機械振興会館 | 通信装置向けFPGAのソフトエラー高速リカバリ技術 ○新保健一・鳥羽忠信・上薗 巧・伊部英史（日立） RCC2015-9 MICT2015-9 |
通信インフラを流れるデータトラフィック量の急増に伴い，高速・大容量の通信装置開発が求められている．通信装置には設計の柔軟... [more] | RCC2015-9 MICT2015-9 pp.37-42 |
| SCE | 2014-10-15 15:10 |
宮城 | 東北大学・電気通信研究所 | 500個直列接続した超伝導マイクロストリップ検出器の光応答 ○上阪 岬・喜多祐真・神谷恭平（名大）・アリ ボズベイ（TOBB ETU）・藤巻 朗（名大） SCE2014-38 |
超伝導ストリップ線検出器は高空間分解能という特長を持つ。我々は、この原理をベースに、さらなる高速応答が可能な直流電流バイ... [more] | SCE2014-38 pp.23-26 |
| ICD | 2013-04-12 16:20 |
茨城 | 産業技術総合研究所 つくばセンター | マルチビットアップセット耐性を有するNMOS内側レイアウトを用いた6T SRAM ○吉本秀輔・和泉慎太郎・川口 博・吉本雅彦（神戸大） ICD2013-23 |
本論文では，マルチビットアップセット耐性を有するNMOS内側レイアウトを有する6T SRAMセルレイアウトを提案する．提... [more] | ICD2013-23 pp.121-126 |
| ITS, IE (共催) ITE-AIT, ITE-HI, ITE-ME (共催) (連催) [詳細] |
2013-02-19 10:20 |
北海道 | 北海道大学 | DPFにおけるPM計測のための3次元中性子トモグラフィ法の開発 ○松島宏典（久留米高専）・川上拓朗（熊本大）・江崎昇二（久留米高専）・内村圭一（熊本大）・Cotton Jim（マクマスタ大）・Harvel Glenn（オンタリオ工科大）・Chang Jen-Shih（マクマスタ大） ITS2012-47 IE2012-127 |
CO_2削減に貢献するディーゼル車の排出ガス中には，問題となる粒子状物質（PM:Particulate Matter）が... [more] | ITS2012-47 IE2012-127 pp.275-280 |
| ICD | 2012-12-18 10:55 |
東京 | 東工大蔵前会館 ロイアルブルーホール | ［招待講演］ソフトエラー評価技術と対策技術 ○上村大樹（富士通セミコンダクター） ICD2012-116 |
ソフトエラーとは一過性のエラーのことで、宇宙線起因の中性子線、IC材料中の放射性不純物起因のα線により発生する。近年微細... [more] | ICD2012-116 pp.103-108 |
| ICD | 2012-12-18 11:45 |
東京 | 東工大蔵前会館 ロイアルブルーホール | 65 nmプロセスにおける低消費電力冗長化FF（BCDMR-ACFF）の設計と評価 ○増田政基・久保田勘人・山本亮輔（京都工繊大）・古田 潤（京大）・小林和淑（京都工繊大）・小野寺秀俊（京大） ICD2012-117 |
集積回路の微細化に伴い、ソフトエラーが問題となっている。対策として冗長化を行なうが、面積・消費電力が増大する。面積を削減... [more] | ICD2012-117 pp.109-113 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2012-11-28 14:55 |
福岡 | 九州大学百年講堂 | 中性子起因SEMTの電源電圧及び基板バイアス依存性測定 ○原田 諒（阪大）・密山幸男（高知工科大）・橋本昌宜・尾上孝雄（阪大） VLD2012-100 DC2012-66 |
本稿では，中性子起因一過性複数パルス(SEMT) の測定結果を示す．まずSEMT 測定回路を提案し，65nmプロセスで試... [more] | VLD2012-100 DC2012-66 pp.237-241 |
| ITS, IE (共催) ITE-AIT, ITE-HI, ITE-ME (共催) (連催) [詳細] |
2012-02-21 10:20 |
北海道 | 北海道大学 | 3次元中性子トモグラフィ法を用いた炭素煤堆積非破壊計測法の開発 ○松島宏典・江崎昇二（久留米高専）・内村圭一（熊本大）・Cotton Jim（マクマスタ大）・Harvel Glenn（オンタリオ工科大） ITS2011-52 IE2011-128 |
近年，欧州では，低燃費ながら高出力を保てることから，中大型車を中心にディーゼル車の普及が進んでいる．しかし，ディーゼル車... [more] | ITS2011-52 IE2011-128 pp.269-274 |
| ICD | 2011-12-16 14:50 |
大阪 | 大阪大学会館 | マルチビットアップセット耐性及びシングルビットアップセット耐性を備えた8T SRAMセルレイアウト ○梅木洋平・吉本秀輔・天下卓郎・川口 博（神戸大）・吉本雅彦（神戸大/JST） ICD2011-134 |
本論文ではマルチビット・アップセット(MBU)を軽減する分割ワード線構造における新規8TSRAMセルレイアウトを提案する... [more] | ICD2011-134 pp.161-166 |
| SDM | 2010-11-12 13:50 |
東京 | 機械振興会館 | インバータセルにおけるSingle-Event-Transientパルス発生のモデリング ○田中克彦・中村英之・上村大樹・竹内 幹・福田寿一・熊代成孝・最上 徹（MIRAI-Selete） SDM2010-180 |
宇宙線中性子起因の二次イオンが発生させた電荷によって生じたエラー信号パルスが組み合わせ回路中を伝播する Single E... [more] | SDM2010-180 pp.47-52 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2009-12-02 13:50 |
高知 | 高知市文化プラザ | ［招待講演］最新半導体デバイスの環境中性子線エラー ～ デザインルール22nmへのインパクトと対策 ～ ○伊部英史・新保健一・谷口 斉・鳥羽忠信（日立） CPM2009-139 ICD2009-68 |
メモリ、論理ゲートなど半導体デバイスの環境中性子線によるエラーのメカニズム、各種エラーモードの現状と22nmデザインルー... [more] | CPM2009-139 ICD2009-68 pp.29-34 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2009-12-03 10:00 |
高知 | 高知市文化プラザ | 情報システム装置の中性子照射試験とフィールドエラーとの相関 ○新保健一・鳥羽忠信・伊部英史・西井浩士（日立） CPM2009-143 ICD2009-72 |
中性子照射試験により情報システム装置のソフトエラー耐性評価を行った．メモリ構成の異なる２台の装置のソフトエラー比について... [more] | CPM2009-143 ICD2009-72 pp.51-55 |
| ITE-MMS, ITE-CE, MRIS (共催) |
2009-01-15 13:30 |
大阪 | パナソニック 松心会館 | 超高記録密度塗布型磁気記録媒体用Fe16N2超微粒子の開発 ○佐々木勇治・井上鉄太郎・渡辺利幸・土井嗣裕・岸本幹雄（日立マクセル）・奥 隆之・加倉井和久（原子力機構） MR2008-51 |
新しい磁気記録媒体用の磁性粉末としてFe16N2超微粒子を開発した．18nm程度の球状超微粒子であり，表面は酸化物，内部... [more] | MR2008-51 pp.5-9 |
| DC, CPSY (共催) |
2008-04-23 15:00 |
東京 | 東大・武田ホール | 電子システムの環境中性子線起因のエラーの現状と対策 ○伊部英史（日立） CPSY2008-7 DC2008-7 |
地上における民生用半導体デバイスのソフトエラーの主因として環境中性子線の影響が２０００年前後から顕在 化しはじめ、各種... [more] |
CPSY2008-7 DC2008-7 pp.37-42 |
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