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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
DC 2019-02-27
13:40
東京 機械振興会館 コントローラの遷移故障検出率向上のための状態割当て手法
吉村正義京都産大)・竹内勇希山崎紘史細川利典日大DC2018-78
近年,VLSIの微細化・高速化に伴いタイミング欠陥が増加し,遷移故障モデルにおけるテストが必要不可欠である.しかし,回路... [more] DC2018-78
pp.43-48
DC 2012-06-22
15:45
東京 機械振興会館 論理BISTの電力低減手法と評価
佐藤康夫王 森レイ加藤隆明宮瀬紘平梶原誠司九工大DC2012-14
論理BISTのテスト時電力は通常のスキャンテストよりも高く電力低減が必要であるが,発生パターンのランダム性から,その制御... [more] DC2012-14
pp.33-38
DC 2011-06-24
13:00
東京 機械振興会館 ランダムパターンテストにおける故障検出率分布に関する考察
福本 聡・○新井雅之原 慎哉岩崎一彦首都大東京DC2011-8
本稿では,ランダムパターンテストにおける故障検出率の分布について解析する.
各故障に関する検出と未検出の事象を,それぞ... [more]
DC2011-8
pp.1-4
DE, DC
(共催)
2007-10-16
11:30
東京 機械振興会館 Evaluation Model of Pseudo Random Pattern Quality for Logic BIST
Satoshi FukumotoHarunobu KurokawaMasayuki AraiKazuhiko IwasakiTokyo Metropolitan Univ.DE2007-124 DC2007-21
本稿では,ランダムパターンテストにおける故障検出率分布の確率統計的な解析について議論する.ランダムパターンテストにおいて... [more] DE2007-124 DC2007-21
pp.51-56
NLP 2006-05-11
12:30
熊本 熊本大学工学部 カオス系列を利用したLSI検査用テストパターン生成に関する一検討
泉倉淳志土田隆輔工藤邦彦吉岡大三郎常田明夫井上高宏熊本大
LSIの自己組み込みテスト(BIST)はテスト設備のコストダウンに加えて,実動作速度によるテストの品質向上が期待できるた... [more] NLP2006-1
pp.1-4
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