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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
HWS 2024-04-19
15:00
東京 三菱電機(株) 東京ビル26階 ダイヤモンドプラザR
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
サイドチャネル情報を用いた誤りバイト数推定に基づく故障利用攻撃の効率化に関する基礎検討
大貫和基西山 輝藤本大介林 優一奈良先端大HWS2024-2
機器に対して電磁妨害波を印加することで、暗号モジュールに物理的に接近することなく秘密鍵解析に必要な特定のバイト数のみの誤... [more] HWS2024-2
pp.3-7
ICSS 2023-11-16
15:20
石川 ITビジネスプラザ武蔵(金沢) + オンライン開催
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
AES暗号処理装置に対する増分故障解析の攻撃検証と評価
玉川未蘭布田裕一東京工科大)・三重野武彦エプソンアヴァシス)・岡崎裕之信州大ICSS2023-56
近年,暗号実装装置に対し,ハードウェア障害を利用して情報漏洩を促す故障利用攻撃の影響が懸念されている.Trevor E.... [more] ICSS2023-56
pp.35-41
LQE, OPE, CPM, EMD, R
(共催)
2023-08-24
16:40
宮城 東北大学 電気通信研究所本館 オープンセミナールーム(M153)
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
[招待講演]チップ部品の故障モードと解析手法 ~ 解析事例と微細化への対応 ~
斎藤 彰村田製作所R2023-25 EMD2023-20 CPM2023-30 OPE2023-69 LQE2023-16
システムの巨大化に伴い,それを支える部品やセットにも高信頼性化が求められている.チップ部品にとって電気特性が最重要ではあ... [more] R2023-25 EMD2023-20 CPM2023-30 OPE2023-69 LQE2023-16
pp.45-50
HWS, ICD
(共催) [詳細]
2021-10-19
10:50
ONLINE オンライン開催 周波数・振幅・位相を制御した連続正弦波を用いた暗号モジュールへの故障注入に関する基礎検討
西山 輝藤本大介キム ヨンウ林 優一奈良先端大HWS2021-43 ICD2021-17
連続正弦波を用いた意図的な電磁妨害による故障注入手法は、機器への侵襲や改変を必要とせずに差分故障解析に利用可能な故障を暗... [more] HWS2021-43 ICD2021-17
pp.13-18
EMD, R
(共催)
2021-02-12
15:00
ONLINE オンライン開催 [招待講演]電子デバイスに対する信頼性物理の諸課題 ~ 物理的に解明が必要な故障メカニズム ~
門田 靖リコーR2020-37 EMD2020-28
半導体デバイスをはじめ電子デバイスの多くは,市場の様々な分野・用途で使われている.現在市場で発生している電子デバイスの故... [more] R2020-37 EMD2020-28
pp.19-24
ICD, HWS
(共催) [詳細]
2020-10-26
13:00
ONLINE オンライン開催 即時に故障検出可能な高効率AESハードウェアの検討
柳生佑介上野 嶺本間尚文東北大HWS2020-31 ICD2020-20
本稿では,即時に故障検出可能な高効率AESハードウェアアーキテクチャの設計について述べる.
提案アーキテクチャは,差分... [more]
HWS2020-31 ICD2020-20
pp.36-41
EMCJ 2019-07-18
13:35
東京 機械振興会館 意図的な電磁妨害がIC通信に与える影響に関する基礎検討
西山 輝岡本拓実藤本大介林 優一奈良先端大EMCJ2019-23
数Vの意図的な電磁妨害により機器を破壊せず誤動作を誘発するLow-Power Intentional Electroma... [more] EMCJ2019-23
pp.29-33
R 2017-07-28
12:45
北海道 稚内サンホテル n素子並列システムにおけるカスケード故障の尤度比検定を用いた発生検知に関する一考察
太田修平木村光宏法政大R2017-14
並列システムにおいて,各素子がカスケード故障を起こす場合,そのシステムは独立故障を想定した場合の信頼性を発揮できない.従... [more] R2017-14
pp.1-6
VLD, IPSJ-SLDM
(連催)
2015-05-14
15:25
福岡 北九州国際会議場 クロックグリッチに基づく故障解析に耐性を持つAES暗号回路
平野大輔史 又華戸川 望柳澤政生早大VLD2015-7
近年,暗号回路への攻撃手法として,故障解析が脅威となっている.回路への故障の発生方法には,レーザー照射や電圧変動,クロッ... [more] VLD2015-7
pp.51-55
EMCJ 2014-07-10
15:45
東京 機械振興会館 サイドチャネル情報を用いた故障発生タイミング特定手法の実現可能性に関する検討
中村 紘林 優一水木敬明本間尚文青木孝文曽根秀昭東北大EMCJ2014-23
連続正弦波を用いた意図的な電磁妨害による故障注入手法では,暗号モジュール内部の処理にランダムなタイミングでデータ誤りが発... [more] EMCJ2014-23
pp.37-42
EMCJ, IEE-EMC
(連催)
2014-06-20
11:00
兵庫 神戸大 暗号モジュールにおけるサイドチャネル情報を用いた故障発生タイミング特定手法
中村 紘林 優一水木敬明本間尚文青木孝文曽根秀昭東北大EMCJ2014-11
連続正弦波を用いた意図的な電磁妨害による暗号機器への故障注入手法では,暗号処理時の特定のタイミングで故障を発生させること... [more] EMCJ2014-11
pp.7-12
VLD 2014-03-03
16:00
沖縄 沖縄県青年会館 故障解析に耐性を持つラッチを利用したAES暗号回路
史 又華谷口寛彰戸川 望柳澤政生早大VLD2013-140
暗号技術は複雑な数学的理論を安全性の根拠としているため安全性が高いとされている.しかし近年,暗号アルゴリズムに対してでは... [more] VLD2013-140
pp.37-42
R 2013-11-14
14:00
大阪 中央電気倶楽部 故障解析をサポートする最新のエックス線技術 ~ エックス線検査の基礎から応用まで、革新技術による観察応用事例 ~
夏原正仁島津製作所R2013-74
X線検査の基礎から応用まで、革新技術による観察応用事例を豊富に取り上げ解説致します。はんだ接合部の検査や、熱サイクル評価... [more] R2013-74
pp.1-3
ICM 2013-03-15
14:10
鹿児島 屋久島環境文化村センター 大規模ネットワークの情報可視化方式に関する検討
立石直規田原光穂丹治直幸瀬社家 光NTTICM2012-74
NWサービスの多様化に伴い、ルータ・スイッチや各種サーバ等様々な装置が用いられるようになり、NWの階層構成が複雑になって... [more] ICM2012-74
pp.89-94
IT 2013-01-21
13:40
東京 電気通信大学 命令バイパスDFAを用いたCLEFIAの鍵導出法
伊藤宏樹吉川英機神永正博志子田有光東北学院大IT2012-53
差分故障解析(DFA)はハードウェアに対して, 外部から強制的に誤動作を発生させて,得られた異常暗号文と正常暗号文を利用... [more] IT2012-53
pp.25-30
SSS 2012-09-20
13:00
東京 機械振興会館 市民による、想定外事故原因究明への取り組み ~ 確証バイアスの影響を避けた分析作業 ~
草間 昇 SSS2012-11
素人であるがために、思考を停止することが下手な“市民”による、福島第一原発事故の不具合解析を紹介する.
福島原発事故... [more]
SSS2012-11
pp.1-4
R 2011-05-13
15:45
高知 高知市文化プラザ「かるぽーと」 [招待講演]レーザ励起による準静電界を用いた故障解析手法
伊藤誠吾滝口清昭東大R2011-12
電界は放射電界(Radiation Field)と誘導電界(Induction Field)、それと準静電界(QEF:Q... [more] R2011-12
pp.23-28
LQE 2009-12-11
11:25
東京 機械振興会館 地下3階2号室 OBICモニタを使ったInAs/InP MQW-DFBレーザの安定動作の解析
竹下達也佐藤具就満原 学近藤康洋大橋弘美NTTLQE2009-143
2.3$\micron$m波長InAs/InP-MQW-DFBレーザで推定寿命$10^5$h以上(@45℃3mW)の長期... [more] LQE2009-143
pp.25-30
R 2008-06-20
14:55
東京 機械振興会館 LSIの評価・解析を通した品質意識の向上 ~ 大学での試み ~
真田 克高知工科大R2008-19
大学にて学生への品質意識をどこまで向上させることができるか試行錯誤している。当研究室はLSIの故障解析・診断技術を中心と... [more] R2008-19
pp.25-30
OPE, CPM, R
(共催)
2008-04-18
14:05
東京 機械振興会館 光励起電流モニタを使ったRu添加SIBH-InGaAsP-DFBレーザの摩耗劣化の解析
竹下達也伊賀龍三須郷 満近藤康洋NTTR2008-3 CPM2008-3 OPE2008-3
光励起電流測定法を用い、高温におけるInGaAsP-DFBレーザの劣化姿態が研究された。Ru添加InP SIBHを導入し... [more] R2008-3 CPM2008-3 OPE2008-3
pp.11-16
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