| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 研究会 開催スケジュール |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
すべての研究会開催スケジュール (検索条件: すべての年度)
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| EMCJ | 2024-11-15 14:20 |
海外 | Kumwell Academy（タイ） (海外(アジア)) | 電磁界プローブとRFトランシーバを用いた基板表面の2Dポインティングベクトル計測 ○竹下祐平・岩瀬 功・田中 誠・鵜生高徳（デンソー）  EMCJ2024-80 |
製品の電磁ノイズ課題が発生時，従来はプリント基板表面の電磁界を測定し，電磁界分布の可視化によってノイズ源を特定し，励振源... [more] | EMCJ2024-80 pp.41-44 |
| WPT | 2024-03-14 10:40 |
京都 | 京都大学(宇治キャンパス) (京都府, オンライン) （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
ワイヤレス給電システムにおける磁界測定精度の向上に関する研究 ○唐 云翀・袁 巧微（東北工大） WPT2023-37 |
無線電力伝送（WPT）システムの開発において、不要放射が定められた電磁両立性（EMC）基準に満たすことは不可欠です。この... [more] | WPT2023-37 pp.12-15 |
| EMCJ | 2021-07-01 15:00 |
ONLINE | オンライン開催 (オンライン) | ESD電流の検出に向けた各種磁界プローブの提案 ○小林遼太・小林 剛・佐々木雄一（三菱電機） EMCJ2021-21 |
電子機器の高性能化やシステムの複雑化に伴い, EMC設計／対策の重要性が年々高くなっている. 筆者は, ESD試験を対象... [more] | EMCJ2021-21 pp.24-29 |
| EMCJ | 2014-04-18 13:55 |
富山 | 富山大 (富山県) | ICチップレベルの高周波電磁ノイズ計測に用いる高感度オンチップ集積化アクティブ磁界プローブの開発 ○重田洋二郎・佐藤徳之・荒井 薫・山口正洋（東北大）・影山慎吾（トッパン） EMCJ2014-3 |
ICチップレベルの高空間分解能と高感度を両立可能なオンチップ集積化アクティブ磁界プローブを開発した．とくにLTE Ban... [more] | EMCJ2014-3 pp.13-18 |
| EMCJ, IEE-EMC (連催) |
2013-12-20 10:30 |
愛知 | (株)デンソー (愛知県) | 3軸磁界プローブによる車室内のポインティングベクトル計測 ○深川康弘・福井伸治・河野秀一・小澤達矢（日本自動車部品総研） EMCJ2013-101 |
従来，車両の電磁ノイズの伝搬を解明するために，電界，磁界の計測が主に行われていたが，発生源からどのように電磁エネルギーが... [more] | EMCJ2013-101 pp.5-8 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2012-11-28 10:30 |
福岡 | 九州大学百年講堂 (福岡県) | デジタルLSIにおけるLSIチップ・パッケージ・ボードを統合した電源雑音協調評価 ○吉川薫平・佐々木悠太（神戸大）・市川浩司（デンソー）・齊藤義行（パナソニック）・永田 真（神戸大） VLD2012-91 DC2012-57 |
近年,LSIの高集積化や低動作電圧化が進むにつれ,電源雑音がシステムの性能に決定的な影響を与えるようになっている. こ... [more] |
VLD2012-91 DC2012-57 pp.183-188 |
| EMCJ | 2012-04-20 15:10 |
石川 | 金沢大学角間キャンパス (石川県) | デジタルLSIの電源ノイズに関するオンボードおよびオンチップ測定の統合評価 ○吉川薫平・佐々木悠太（神戸大）・市川浩司（デンソー）・永田 真（神戸大/JST） EMCJ2012-7 |
近年,LSIシステムの動作における雑音環境の悪化が進んでおり,システムにおける雑音対策やEMC対策が重要となっている. ... [more] |
EMCJ2012-7 pp.37-42 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2011-11-30 09:25 |
宮崎 | ニューウェルシティ宮崎 (宮崎県) | デジタルLSIにおけるオンチップ・オンボード電源雑音の評価・協調解析手法 ○吉川薫平・佐々木悠太（神戸大）・市川浩司（デンソー）・齊藤義行（パナソニック）・永田 真（神戸大/JST） CPM2011-163 ICD2011-95 |
ICの電源雑音は、チップ・パッケージ・ボードを統合したPDN(Power Delivery Network)のインピーダ... [more] | CPM2011-163 ICD2011-95 pp.73-78 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2010-11-29 10:40 |
福岡 | 九州大学医学部百年講堂 (福岡県) | CMOSデジタルLSIにおける電源雑音の周波数成分評価 ○吉川薫平・松本 大・佐々木悠太（神戸大）・永田 真（神戸大/JST） CPM2010-124 ICD2010-83 |
近年のVLSIの大規模化・高集積化・低動作電圧化によりチップ内部の電流密度上昇や雑音マージンの低下がおこり,電源雑音が顕... [more] | CPM2010-124 ICD2010-83 pp.1-6 |
| EMCJ, ITE-BCT (共催) |
2010-03-12 15:20 |
東京 | 機械振興会館 (東京都) | 低雑音増幅器を用いたオンチップ集積化磁界プローブの設計及び試作 ○難波志織・小舘 航・山口正洋（東北大）・川人祥二（静岡大）・石原 昇（東工大） EMCJ2009-132 |
チップ内の電源配線上の高調波ノイズ評価を最終目標として，LSIチップの近傍磁界を測定するために，CMOS 0.18 μm... [more] | EMCJ2009-132 pp.37-42 |
| ICD | 2009-12-14 10:00 |
静岡 | 静岡大学（浜松） (静岡県) | ［招待講演］イメージセンサ ～ その魅力と設計の難しさ ～ ○青山 聡・朴 鍾皓・渡辺恭志（ブルックマンテクノロジ）・川人祥二（ブルックマンテクノロジ/静岡大） ICD2009-76 |
画像をはじめとする様々な情報入力のキーデバイスとなるイメージセンサは、非常に多くの分野において各種デバイスが用いられてい... [more] | ICD2009-76 pp.1-5 |
| EMCJ, MW, IEE-MAG (共催) |
2009-10-22 14:20 |
岩手 | 岩手大学・八幡平ロイヤルホテル (岩手県) | 中間周波数帯測定用プローブの校正システムの検討 ○松浦貴史（首都大東京）・藤井勝巳（NICT）・鈴木敬久・多氣昌生（首都大東京）・山中幸雄（NICT） EMCJ2009-48 MW2009-97 |
中間周波数帯(300Hz$\sim$10MHz)に適応した磁界プローブ校正用のために、 扱いやすく高精度な校正システム... [more] |
EMCJ2009-48 MW2009-97 pp.25-30 |
| MW | 2009-06-30 13:30 |
愛知 | 名工大 (愛知県) | 非接触測定による動作中ICの電流分布に関する実験的検討 ○渡辺拓人・橋本 修（青学大） MW2009-23 |
近年，電子機器の急速な発展に伴いLSI(Large Scale Integration)の微細化が急速に進んでいる．しか... [more] | MW2009-23 pp.25-30 |
| EMCJ | 2008-07-17 13:40 |
東京 | 機械振興会館 (東京都) | 配線パターンを変化させた基板による多電源ピンLECCS-coreモデルの評価 ○東 亮太・五百旗頭健吾（岡山大）・津田剛宏・市川浩司・中村克己（デンソー）・豊田啓孝・古賀隆治（岡山大） EMCJ2008-33 |
我々の研究グループではIC/LSIの電源系を流れる高周波電流をシミュレーションするため，EMCマクロモデルである多電源ピ... [more] | EMCJ2008-33 pp.43-48 |
| EMCJ | 2008-03-07 11:00 |
東京 | 機械振興会館 (東京都) | DAST結晶を使用したループコイル型光磁界プローブの特性 ○大場裕行・太田博康・荒井賢一（NICT） EMCJ2007-120 |
マイクロ波帯域での高周波磁界測定を目的に，ループコイルと電気光学結晶としてDAST結晶を組み合わせたループコイル型光磁界... [more] | EMCJ2007-120 pp.19-24 |
| EMCJ, MW (共催) |
2006-10-26 11:10 |
青森 | 八戸工業大学 (青森県) | 高周波キャリア型磁界プローブによるGHz磁界検出 (その3) ○萓野良樹・佐々木雄紀（秋田大）・丹 健二・駒木根隆士（秋田県産技総研センター）・井上 浩（秋田大） EMCJ2006-54 MW2006-110 |
近年，プリント回路基板や集積回路等の電子機器の近傍磁界測定は，電磁干渉妨害(ElectroMagnetic Interf... [more] | EMCJ2006-54 MW2006-110 pp.19-24 |
| ICD, ITE-IST (共催) |
2006-07-28 12:00 |
静岡 | 静岡大学(浜松キャンパス内) (静岡県) | 高感度集積化磁界プローブによる高周波磁気イメージング ○青山 聡・川人祥二（静岡大）・山口正洋（東北大） |
近傍磁界計測のための新しいタイプの高感度、高空間分解能を持ったアクティブ型磁界プローブを開発した。 CMOS-SOI(... [more] |
ICD2006-72 pp.67-72 |
| EMCJ | 2006-07-27 15:25 |
東京 | 機械振興会館 (東京都) | 光電界センサを用いたアンテナ放射素子の電流分布測定 ○城本昌幸・松田祐征・前田忠彦（立命館大） EMCJ2006-31 |
これまで筆者らは, 素子可変光電界センサを保持する直方体樹脂部分の材質及び形状について検討してきた. 素子可変光電界セン... [more] | EMCJ2006-31 pp.71-76 |
| EMCJ | 2006-04-18 14:30 |
東京 | 青山学院大学 青山キャンパス (東京都) | 高周波キャリア型磁界プローブによるGHz磁界検出 (その2) ○萓野良樹（秋田大）・丹 健二・山川清志・駒木根隆士（秋田県産技総研センター）・井上 浩（秋田大） EMCJ2006-4 |
近年，プリント回路基板や集積回路等の電子機器の近傍磁界測定は，電磁干渉妨害(ElectroMagnetic Interf... [more] | EMCJ2006-4 pp.19-23 |
| ICD | 2005-07-15 15:20 |
愛知 | 豊橋技術科学大学 (愛知県) | CMOS-SOI技術を用いた集積化アクティブ磁界プローブ ○青山 聡・川人祥二（静岡大）・安井健史・山口正洋（東北大） |
本研究では0.15umCMOS-SOIプロセスを用いて、検出コイル、プリアンプを集積化したアクティブ磁界プローブを開発し... [more] | ICD2005-63 pp.45-50 |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]