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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
R 2021-05-28
13:00
ONLINE オンライン開催 [招待講演]車載システム向けのテスト容易化設計法
高橋 寛愛媛大
先進自動運転のための車載コンピュータにおいては機能安全規格に基づくテストが必要である.新しいテスト環境であるフィールドに... [more]
DC, SS
(共催)
2019-10-24
16:00
熊本 熊本大学 n回状態遷移被覆に基づく非スキャンオンラインテスト法
池ヶ谷祐輝石山悠太細川利典日大)・吉村正義京都産大SS2019-19 DC2019-47
VLSIの経年劣化による障害を回避する手段の一つとして,通常動作時に回路の出力や内部信号線の値を監視するオンラインテスト... [more] SS2019-19 DC2019-47
pp.37-42
DC 2019-02-27
10:55
東京 機械振興会館 製造検査時における組込み自己テスト回路を利用した効率的なPUF回路のチャレンジレスポンス対の生成と評価
三野智貴新谷道広井上美智子奈良先端大DC2018-75
近年,半導体部品市場における偽造IC チップの流通が問題になっている.その対策として,物理複製困難(Physically... [more] DC2018-75
pp.25-30
DC 2014-02-10
12:25
東京 機械振興会館 メルセンヌ・ツイスタアルゴリズムにもとづいた効果的なテストパターン生成器の提案
里中沙矢香岩田大志山口賢一奈良高専DC2013-86
高い信頼性かつ低コストな出荷テストを行うために,BISTではテストパターン生成器としてLFSRが広く用いられている.しか... [more] DC2013-86
pp.43-48
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2012-11-26
13:00
福岡 九州大学百年講堂 [招待講演]組込み自己テストによるフィールド高信頼化について
梶原誠司九工大VLD2012-65 DC2012-31
出荷後のシステムにおいて,パワーオン時間等の空き時間を利用したオンラインテストにより回路の遅延を測定することで,回路の遅... [more] VLD2012-65 DC2012-31
pp.37-42
DC 2012-06-22
13:50
東京 機械振興会館 高信頼組込み自己テストのための耐故障テスト生成器に関する考察
深澤祐樹岩垣 剛市原英行井上智生広島市大DC2012-11
BIST回路(テスト生成器や応答圧縮器など)の故障は,
被テスト回路に対するテスト実行結果の判定を誤らせる可能性があり... [more]
DC2012-11
pp.15-20
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2011-11-30
11:20
宮崎 ニューウェルシティ宮崎 組込み自己テストにおける温度均一化制御
村田絵理奈良先端大)・大竹哲史大分大/JST)・中島康彦奈良先端大VLD2011-86 DC2011-62
LSI の微細化及び高速化に伴い,製造不良や出荷後の劣化による微小遅延欠陥がチップの信頼性に関わる重要な問題となっている... [more] VLD2011-86 DC2011-62
pp.197-202
DC 2011-06-24
13:30
東京 機械振興会館 テスト可能な応答圧縮器におけるマルチサイクルシグネチャの効果について
深澤祐樹市原英行井上智生広島市大DC2011-9
組込み自己テスト(BIST)手法において,筆者らは文献[8]にて被テスト回路と同時にテスト可能な符号化応答圧縮器を提案し... [more] DC2011-9
pp.5-10
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2010-11-29
16:25
福岡 九州大学医学部百年講堂 画像伸張回路を用いた組込みテスト生成に関する実験的考察
岩本由香吉川祐樹市原英行井上智生広島市大VLD2010-63 DC2010-30
近年,LSIテスト手法の1つとして組込み自己テストが利用されている.組込み自己テストでは,LSI内部にテストベクトル系列... [more] VLD2010-63 DC2010-30
pp.43-48
DC, CPSY
(共催)
2009-04-21
15:45
東京 首都大秋葉原サテライトキャンパス 組込み自己テストにおけるテスト可能な応答圧縮器の設計について
深澤祐樹吉川祐樹市原英行井上智生広島市大CPSY2009-7 DC2009-7
組込み自己テスト(BIST)手法において,テスト生成器や応答圧縮器などのBIST回路が故障すると被テスト回路のテストを適... [more] CPSY2009-7 DC2009-7
pp.37-42
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