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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| NLP, MSS (共催) |
2024-03-13 17:45 |
その他 | 機械振興会館 | 順序回路神経細胞モデルを用いた昆虫の聴覚系モデル ○大滝蒼太・鳥飼弘幸（法政大）  MSS2023-85 NLP2023-137 |
本研究では、順序回路神経細胞モデルを用いた昆虫の聴覚系モデルを設計する． [more] | MSS2023-85 NLP2023-137 p.70 |
| HWS, VLD (共催) [詳細] |
2020-03-06 13:00 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 （開催中止，技報発行あり） |
順序回路への故障注入に起因した不均一な頻度分布を持つ誤り出力を用いた故障利用解析 ○岡本拓実・藤本大介（奈良先端大）・崎山一男・李 陽（電通大）・林 優一（奈良先端大） VLD2019-128 HWS2019-101 |
暗号モジュールに対する故障利用解析は、故障注入とそれに伴い生ずる誤り出力の解析からなる。故障注入法としてクロックグリッチ... [more] | VLD2019-128 HWS2019-101 pp.197-201 |
| SCE | 2020-01-17 13:15 |
神奈川 | 横浜市開港記念会館 | ［ポスター講演］Methodology for Automating Data Feedback Circuit Synthesis for a 4- bit Counter in Adiabatic Quantum-Flux-Parametron Logic ○Ro Saito（YNU）・Christopher L. Ayala・Olivia Chen（YNU IAS）・Tomoyuki Tanaka・Tomohiro Tamura・Nobuyuki Yoshikawa（YNU） SCE2019-58 |
[more] | SCE2019-58 pp.117-119 |
| DC | 2018-02-20 11:40 |
東京 | 機械振興会館 | kサイクルテストに基づく有限状態機械のテスト生成法 ○木下湧矢・細川利典（日大）・藤原秀雄（阪学院大） DC2017-81 |
半導体集積技術の発達に伴い，VLSIの大規模化，複雑化が急速に進んでいる．これに伴い，効率の良い順序回路のテスト生成技術... [more] | DC2017-81 pp.25-30 |
| DC | 2017-02-21 14:25 |
東京 | 機械振興会館 | 到達不能状態を用いたSATベース順序回路のテスト不能故障判定法 ○二関森人・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） DC2016-79 |
スキャン設計回路は，ハードウェアオーバヘッドやテスト実行時間の増加が課題として挙げられている．上述の課題を解決するために... [more] | DC2016-79 pp.29-34 |
| NLP | 2016-03-24 13:25 |
京都 | 京都産業大学 | 非同期セルオートマトン神経系モデルによるボルツマンマシンの実装 ○松原 崇・上原邦昭（神戸大） NLP2015-143 |
Deep Boltzmann Machineなど確率的な挙動を含む人工ニューラルネットワークが，様々なベンチマークにおい... [more] | NLP2015-143 pp.7-10 |
| NLP | 2012-01-24 09:20 |
福島 | 會津稽古堂 | 非同期順序回路シナプスモデルとそのスパイクタイミング依存シナプス可塑性 ○浦本拓実・鳥飼弘幸（阪大） NLP2011-134 |
順序回路を用いてスパイクタイミング依存シナプス可塑性(STDP)を実現するシナプスモデルを提案する。従来の２本のスパイク... [more] | NLP2011-134 pp.57-62 |
| NLP | 2012-01-24 09:45 |
福島 | 會津稽古堂 | 非同期順序回路内有毛細胞モデルとその応答特性 ○石本裕典・鳥飼弘幸（阪大） NLP2011-135 |
哺乳類の内耳では，音波を受けた基底膜が振動し，内有毛細胞の電位が変化することで機械的刺激を電気的エネルギーに変換している... [more] | NLP2011-135 pp.63-68 |
| DC, CPSY (共催) |
2011-04-12 13:00 |
東京 | 首都大学東京秋葉原サテライトキャンパス | 同時多重に発生する過渡故障に耐性を持つ順序回路の提案と評価 福本 聡・○今井健太・小日向秀雄・新井雅之（首都大東京） CPSY2011-1 DC2011-1 |
著者らの研究グループが提案したレジスタ二重化による順序回路高信頼化手法の拡張について検討する．レジスタの三重化によって，... [more] | CPSY2011-1 DC2011-1 pp.1-4 |
| DC | 2011-02-14 14:10 |
東京 | 機械振興会館 | 機能的時間展開モデルを用いたデータパス回路のテスト生成法 ○早川鉄平・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2010-65 |
近年，より抽象度の高い動作記述を用いて大規模集積回路の設計が行われている．動作記述から動作合成を用いて生成されるレジスタ... [more] | DC2010-65 pp.39-44 |
| VLD, IPSJ-SLDM (連催) |
2010-05-19 16:10 |
福岡 | 北九州国際会議場 | 順序回路のソフトエラー耐性評価における高精度な近似評価手法 ○城林直樹・赤峰悠介・吉村正義・松永裕介（九大） VLD2010-2 |
ソフトエラー耐性を考慮した論理回路の設計においてソフトエラー耐性評価手法 が必要となる．順序回路における評価手法の1... [more] |
VLD2010-2 pp.25-30 |
| VLD, IPSJ-SLDM (連催) |
2010-05-19 16:35 |
福岡 | 北九州国際会議場 | 有限状態機械の分割に基づく定常状態確率の近似計算手法 ○長谷川 創・赤峰悠介・吉村正義・松永裕介（九大） VLD2010-3 |
順序回路のソフトエラー耐性を評価する手法の一つとして，マルコフモデルを用いて状態遷移の振る舞いを解析し評価する手法が提案... [more] | VLD2010-3 pp.31-36 |
| VLD | 2010-03-12 13:55 |
沖縄 | 沖縄県男女共同参画センター | 順序回路のソフトエラー耐性評価手法の状態数削減による高速化 ○赤峰悠介・吉村正義・松永裕介（九大） VLD2009-126 |
ソフトエラー耐性を考慮した論理回路の設計では，ソフトエラー耐性評価手法が必要となる．著者らは，順序回路を対象とした評価手... [more] | VLD2009-126 pp.163-168 |
| ED, SDM (共催) |
2010-02-23 10:35 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | ラップゲート制御GaAsナノワイヤ3分岐接合を用いた順序回路の試作 ○柴田 啓・中田大輔・白鳥悠太（北大）・葛西誠也（北大/JST） ED2009-207 SDM2009-204 |
ゲート制御したナノワイヤ3分岐接合（TBJ）集積による新しい順序回路について述べる。TBJは３本のナノワイヤを接合しただ... [more] | ED2009-207 SDM2009-204 pp.65-70 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2009-12-03 10:00 |
高知 | 高知市文化プラザ | 順序回路のソフトエラー耐性評価における近似手法の計算精度および実行時間の評価 ○赤峰悠介・吉村正義・松永裕介（九大） VLD2009-49 DC2009-36 |
ソフトエラー耐性を考慮した論理回路の設計ではソフトエラー耐性評価手法が必要となる．順序回路を対象とした評価手法の一つとし... [more] | VLD2009-49 DC2009-36 pp.55-60 |
| DC | 2009-02-16 10:25 |
東京 | 機械振興会館 | スキャンテストにおけるテスト不可能故障の検出を削減するためのテスト生成法 吉村正義（九大）・○小河宏志（日大）・大森悠翔（富士通マイクロエレクトロニクス）・細川利典（日大）・山崎浩二（明大） DC2008-69 |
スキャンテストは，VLSIのテスト方式として広く普及しているが，回路構造の情報のみを利用したテスト法で，シフト動作によっ... [more] | DC2008-69 pp.7-12 |
| DC | 2008-02-08 10:25 |
東京 | 機械振興会館 | マルチサイクルキャプチャテストを用いたフルスキャン設計回路の縮退故障テスト生成 大森悠翔・○小河宏志・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・山崎浩二（明大） DC2007-70 |
スキャンテストは，VLSIのテスト方式として広く普及しているが，回路構造の情報のみを利用したテスト法で，シフト動作によっ... [more] | DC2007-70 pp.19-24 |
| ICD, CPM (共催) |
2005-09-08 11:20 |
東京 | 機械振興会館 | 組合せ回路および順序回路に対する診断用テスト圧縮法 ○樋上喜信（愛媛大）・Kewal K Saluja（Univ. of Wisconsin-madision）・高橋 寛・小林真也・高松雄三（愛媛大） |
近年，論理回路のテストや故障診断におけるコスト削減が重要になってきている． テストや故障診断のコストは，印加されるテス... [more] |
CPM2005-89 ICD2005-99 pp.25-30 |
| ICD, CPM (共催) |
2005-01-28 14:00 |
東京 | 機械振興会館 | 順序回路に対するテスト系列中のドントケア値発見とテスト圧縮・消費電力削減への応用について ○樋上喜信（愛媛大）・梶原誠司（九工大）・小林真也・高松雄三（愛媛大） |
本稿では，順序回路のテスト系列に対して，縮退故障検出率を低下させることなく，ドントケアとなる外部入力値を発見する手法を提... [more] | CPM2004-169 ICD2004-214 pp.41-46 |
| ICD, CPM (共催) |
2005-01-28 16:45 |
東京 | 機械振興会館 | 経路追跡手法による多重故障診断の実回路への適用 ○船津幸永・住友洋志・重田一樹・石山敏夫（NECエレクトロニクス） |
近年の微細化・大規模化の進んだLSIにおいて、CADベースの故障診断技術は、故障解析を容易化できる技術として非常に重要な... [more] | CPM2004-174 ICD2004-219 pp.71-76 |
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