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すべての研究会開催スケジュール (検索条件: すべての年度)
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| EMD | 2024-12-11 13:30 |
福岡 | JR博多シティ (福岡県) | Relationship between molybdenum disulfide content and brush wear characteristics in the sliding of copper slip rings and silver-graphite brushes ○Yuta Kikuchi・Shota Kanazawa・Makoto Takanezawa・Takahiro Ueno（NIT）  EMD2024-22 |
電気摺動接触機構は，静止物体から移動物体（回転体）への電流通電を行う機構である．現在ではブラシの長寿命化や電流伝達信頼性... [more] | EMD2024-22 pp.7-10 |
| DC | 2024-02-28 15:05 |
東京 | 機械振興会館 (東京都) | 論理回路の分岐再収斂構造解析による高消費電力エリア特定に関する研究 ○山下友哉・宮瀬紘平・温 暁青（九工大） DC2023-101 |
昨今のLSI製造技術の進歩は著しい．LSIが性能優先で開発される際は，LSIの消費電力削減の優先順位は低い場合がある．し... [more] | DC2023-101 pp.41-46 |
| IA | 2023-01-25 15:45 |
大阪 | 関西学院大学 大阪梅田キャンパス (大阪府) (大阪府, オンライン) （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
Predicting the drop out of Prince of Songkla University students using machine learning methods ○Theerayuth Prasompong・Suwimon Bureekarn・Chidchanok Choksuchat（PSU） IA2022-73 |
In point of students, ‘dropout’ problem in higher education ... [more] | IA2022-73 pp.36-42 |
| DC | 2022-03-01 14:20 |
東京 | 機械振興会館 (東京都, オンライン) （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
信号値遷移確率を用いた高消費電力エリア特定技術の計算処理評価に関する研究 ○星野 龍・宇都宮大喜・宮瀬紘平・温 暁青・梶原誠司（九工大） DC2021-73 |
近年，LSIの高速化・微細化が進み, LSIが故障しているかどうかを判断するLSIのテストが困難になっている．LSIテス... [more] | DC2021-73 pp.51-56 |
| MBE, IEE-MBE (連催) |
2021-06-25 13:30 |
ONLINE | オンライン開催 (オンライン) | 電気刺激応答モデルを利用したファジィFES制御器の調整の検討 ○井口俊吾・渡邉高志（東北大）・Achmad Arifin（ITS） MBE2021-6 |
機能的電気刺激（FES）を利用して麻痺者の歩行時の足関節動作を補助するファジィFES制御器の開発を行っているが，電気刺激... [more] | MBE2021-6 pp.1-5 |
| VLD, DC, RECONF, ICD, IPSJ-SLDM (連催) (併催) [詳細] |
2020-11-17 10:30 |
ONLINE | オンライン開催 (オンライン) | LSIの領域毎の信号値遷移確率に基づく電力評価に関する研究 ○大庭 涼・星野 竜・宮瀬紘平・温 暁青・梶原誠司（九工大） VLD2020-13 ICD2020-33 DC2020-33 RECONF2020-32 |
LSIテストでは通常動作時に比べて信号値遷移が多く発生するため，消費電力が増加する．消費電力が増加すると過度なIR-dr... [more] | VLD2020-13 ICD2020-33 DC2020-33 RECONF2020-32 pp.12-17 |
| DC | 2020-02-26 14:35 |
東京 | 機械振興会館 (東京都) | メモリ搭載LSIに対するロジック部の消費電力解析に関する研究 ○児玉優也・宮瀬紘平・高藤大輝・温 暁青・梶原誠司（九工大） DC2019-93 |
LSIのテスト時は，通常動作時と比べて消費電力が大きくなる．過度なIRドロップは，過度な遅延値を引き起こし，特に実速度テ... [more] | DC2019-93 pp.43-48 |
| DC | 2019-02-27 10:15 |
東京 | 機械振興会館 (東京都) | LSIのホットスポット分布の解析に関する研究 ○河野雄大・宮瀬紘平（九工大）・呂 學坤（国立台湾科技大）・温 暁青・梶原誠司（九工大） DC2018-74 |
LSIの通常動作時におけるIR-drop増加に起因する性能低下などの問題は，電源供給ネットワークを強化するなどの手段で設... [more] | DC2018-74 pp.19-24 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) CPM, ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2017-11-07 09:25 |
熊本 | くまもと県民交流館パレア (熊本県) | On Avoiding Test Data Corruption by Optimal Scan Chain Grouping ○Yucong Zhang・Stefan Holst・Xiaoqing Wen・Kohei Miyase・Seiji Kajihara（KIT）・Jun Qian（AMD） VLD2017-42 DC2017-48 |
[more] | VLD2017-42 DC2017-48 pp.91-94 |
| IA, IN (併催) |
2016-12-15 16:20 |
広島 | 広島市立大学 講堂小ホール (広島県) | 攻撃パケットの送信元アドレスと属性情報の特定による廃棄要請メッセージの生成 ○與五澤 守・宮口侑己・江口 健・岸 有哉・石川 毅・堤智 昭・佐野 香・八槇博史・上野洋一郎・君山博之・米崎直樹・佐々木良一・小林 浩（東京電機大） IA2016-69 |
年々巧妙化・組織化している世界規模でのサイバー攻撃は，インターネット利用における大きな脅威となっており，... [more] | IA2016-69 pp.35-40 |
| DC | 2016-02-17 10:25 |
東京 | 機械振興会館 (東京都) | 論理パスとクロックパスを考慮した実速度スキャンテスト生成手法について ○李 富強・温 暁青・ホルスト シュテファン・宮瀬紘平・梶原誠司（九工大） DC2015-87 |
スキャンキャプチャ時に発生するIR-Dropは論理パスのみならず、クロックパスにも影響を与える。本稿では、論理パスとクロ... [more] | DC2015-87 pp.7-12 |
| LOIS, ISEC, SITE (共催) |
2015-11-06 16:20 |
神奈川 | 神奈川大学 1号館804会議室 (神奈川県) | 自律分散型インターネットセキュリティ基盤の実現性検討 ○小林 浩・八槇博史・上野洋一郎・佐野 香・佐々木良一（東京電機大） ISEC2015-46 SITE2015-33 LOIS2015-40 |
年々過激化・巧妙化するサイバー攻撃が，大きな脅威になっている．これまでの自分を守るセキュリティでは限界がある．攻撃や不正... [more] | ISEC2015-46 SITE2015-33 LOIS2015-40 pp.67-74 |
| EMD | 2015-11-06 10:45 |
宮城 | 東北大学工学部青葉記念会館 (宮城県) | Effect of Lubricant Oil on Sliding Characteristics and on Long-Time Sliding Test of Au Coating Slip Ring for Current Power Supply ○Yutaka Takemasa・Takahiro Ueno・Koichiro Sawa（NIT） EMD2015-77 |
[more] | EMD2015-77 pp.59-62 |
| ICSS | 2015-03-03 13:50 |
沖縄 | 名桜大学（沖縄県名護市） (沖縄県) | マルチレイヤ・バインディング(MLB)ルータによるサイバー攻撃対策技術 ～ 廃棄要請プロトコル（DRP）の提案とOpenFlowを用いた実装評価 ～ ○江口 健・長友勝太・横山裕士・佐野 香・八槇博史・上野洋一郎・小林 浩（東京電機大） ICSS2014-65 |
近年のサイバー攻撃はこれまでの「自分を守る」セキュリティ技術では防ぐことは難しく，「インターネット全体での取り組み」が必... [more] | ICSS2014-65 pp.13-18 |
| DC | 2014-06-20 14:05 |
東京 | 機械振興会館 (東京都) | 低キャプチャ電力スキャンテスト生成のためのX埋め込み手法 ○李 富強・温 暁青・宮瀬紘平・ホルスト シュテファン・梶原誠司（九工大） DC2014-12 |
低キャプチャ電力のスキャンテストパターンを生成するため，セルの実効電圧降下 （IR-Drop）との関わりの強いローカル... [more] |
DC2014-12 pp.15-20 |
| ICD | 2012-12-18 10:20 |
東京 | 東工大蔵前会館 ロイアルブルーホール (東京都) | テスト時ピーク電力最適化に向けた28nmHKMGプロセスのデジタルVdrop検出センサー ○五十嵐満彦・高沢義生・五十嵐康人・松下博明・竹内 幹（ルネサス エレクトロニクス） ICD2012-115 |
フルデジタルで実装やテスト時の使用が容易なダイナミックVdropセンサーを提案する。このセンサーは2.4Kゲート規模で、... [more] | ICD2012-115 pp.97-102 |
| DC | 2012-06-22 16:10 |
東京 | 機械振興会館 (東京都) | On Per-Cell Dynamic IR-Drop Estimation in At-Speed Scan Testing ○Yuta Yamato・Tomokazu Yoneda・Kazumi Hatayama・Michiko Inoue（NAIST） DC2012-15 |
[more] | DC2012-15 pp.39-44 |
| OFT | 2010-10-25 15:55 |
埼玉 | 日本工業大学 (埼玉県) | クマゼミ対策ドロップ光ケーブルの開発 ○伊藤直人・大野昌史・佐山忠嘉・竹田大樹・塩原 悟・岡田直樹（フジクラ） OFT2010-36 |
光ドロップケーブルにおいて，西日本地域を中心にクマゼミの産卵管による断線被害が報告されている。クマゼミによる産卵実験及び... [more] | OFT2010-36 pp.39-44 |
| DC | 2009-06-19 14:45 |
東京 | 機械振興会館 (東京都) | 事前見積りを利用した電力・ノイズ考慮テスト ○埜田健治・伊藤秀昭・畠山一実・相京 隆（半導体理工学研究センター） DC2009-15 |
低電力設計の進展とともに，テスト時の電力消費とIRドロップの問題は重大化している．過剰な電力消費やIRドロップによるテス... [more] | DC2009-15 pp.29-30 |
| OCS | 2009-02-02 14:15 |
静岡 | 東レ研修センタ（三島） (静岡県) | Hierarchical Optical Path Network Design Considering Waveband Add/Drop Ratio Restriction and Network Cost Analysis on Different Network Parameter ○Hai-Chau Le・Hiroshi Hasegawa・Ken-ichi Sato（Nagoya Univ.） OCS2008-109 |
We have developed a hierarchical optical path network design... [more] | OCS2008-109 pp.13-18 |
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