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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
DC 2024-02-28
15:05
東京 機械振興会館 論理回路の分岐再収斂構造解析による高消費電力エリア特定に関する研究
山下友哉宮瀬紘平温 暁青九工大DC2023-101
昨今のLSI製造技術の進歩は著しい.LSIが性能優先で開発される際は,LSIの消費電力削減の優先順位は低い場合がある.し... [more] DC2023-101
pp.41-46
DC 2022-03-01
14:20
東京 機械振興会館
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
信号値遷移確率を用いた高消費電力エリア特定技術の計算処理評価に関する研究
星野 龍宇都宮大喜宮瀬紘平温 暁青梶原誠司九工大DC2021-73
近年,LSIの高速化・微細化が進み, LSIが故障しているかどうかを判断するLSIのテストが困難になっている.LSIテス... [more] DC2021-73
pp.51-56
VLD, DC, RECONF, ICD, IPSJ-SLDM
(連催)
(併催) [詳細]
2020-11-17
10:30
ONLINE オンライン開催 LSIの領域毎の信号値遷移確率に基づく電力評価に関する研究
大庭 涼星野 竜宮瀬紘平温 暁青梶原誠司九工大VLD2020-13 ICD2020-33 DC2020-33 RECONF2020-32
LSIテストでは通常動作時に比べて信号値遷移が多く発生するため,消費電力が増加する.消費電力が増加すると過度なIR-dr... [more] VLD2020-13 ICD2020-33 DC2020-33 RECONF2020-32
pp.12-17
DC 2020-02-26
14:35
東京 機械振興会館 メモリ搭載LSIに対するロジック部の消費電力解析に関する研究
児玉優也宮瀬紘平高藤大輝温 暁青梶原誠司九工大DC2019-93
LSIのテスト時は,通常動作時と比べて消費電力が大きくなる.過度なIRドロップは,過度な遅延値を引き起こし,特に実速度テ... [more] DC2019-93
pp.43-48
DC 2019-02-27
10:15
東京 機械振興会館 LSIのホットスポット分布の解析に関する研究
河野雄大宮瀬紘平九工大)・呂 學坤国立台湾科技大)・温 暁青梶原誠司九工大DC2018-74
LSIの通常動作時におけるIR-drop増加に起因する性能低下などの問題は,電源供給ネットワークを強化するなどの手段で設... [more] DC2018-74
pp.19-24
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
CPM, ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2017-11-07
09:25
熊本 くまもと県民交流館パレア On Avoiding Test Data Corruption by Optimal Scan Chain Grouping
Yucong ZhangStefan HolstXiaoqing WenKohei MiyaseSeiji KajiharaKIT)・Jun QianAMDVLD2017-42 DC2017-48
 [more] VLD2017-42 DC2017-48
pp.91-94
DC 2016-02-17
10:25
東京 機械振興会館 論理パスとクロックパスを考慮した実速度スキャンテスト生成手法について
李 富強温 暁青ホルスト シュテファン宮瀬紘平梶原誠司九工大DC2015-87
スキャンキャプチャ時に発生するIR-Dropは論理パスのみならず、クロックパスにも影響を与える。本稿では、論理パスとクロ... [more] DC2015-87
pp.7-12
DC 2014-06-20
14:05
東京 機械振興会館 低キャプチャ電力スキャンテスト生成のためのX埋め込み手法
李 富強温 暁青宮瀬紘平ホルスト シュテファン梶原誠司九工大DC2014-12
低キャプチャ電力のスキャンテストパターンを生成するため,セルの実効電圧降下
(IR-Drop)との関わりの強いローカル... [more]
DC2014-12
pp.15-20
DC 2012-06-22
16:10
東京 機械振興会館 On Per-Cell Dynamic IR-Drop Estimation in At-Speed Scan Testing
Yuta YamatoTomokazu YonedaKazumi HatayamaMichiko InoueNAISTDC2012-15
 [more] DC2012-15
pp.39-44
DC 2009-06-19
14:45
東京 機械振興会館 事前見積りを利用した電力・ノイズ考慮テスト
埜田健治伊藤秀昭畠山一実相京 隆半導体理工学研究センターDC2009-15
低電力設計の進展とともに,テスト時の電力消費とIRドロップの問題は重大化している.過剰な電力消費やIRドロップによるテス... [more] DC2009-15
pp.29-30
CAS, SIP, VLD
(共催)
2007-06-22
10:50
北海道 北海道東海大学 札幌キャンパス マルチメディアホール 製造ばらつきを考慮した電源電圧低下による回路タイミングエラー危険度解析と電源配線最適化
寺尾 誠草野健次川上善之福井正博立命館大)・築山修治中大CAS2007-23 VLD2007-39 SIP2007-53
VLSIの微細化技術の進展により,製造ばらつき、および、回路性能ばらつきが大きな課題となってきている.その中で,LSIを... [more] CAS2007-23 VLD2007-39 SIP2007-53
pp.25-30
ICD, SIP, IE, IPSJ-SLDM
(共催)
2006-10-27
10:00
宮城 宮城県・作並温泉・一の坊 電源配線における多次元最適化問題の一手法
草野健次寺尾 誠石嶋宏亘川上善之福井正博立命館大
VLSIの微細化技術の発展により,悪影響となる物理現象が顕著になっており,システムの安定動作が重要になっている.電源配線... [more] SIP2006-104 ICD2006-130 IE2006-82
pp.19-24
SIP, CAS, VLD
(共催)
2006-06-22
15:50
北海道 北見工業大学 等長配線制約を考慮したシーケンス・ペア法に基づくコンパクション手法
松尾健彦北九州市大)・木田圭治ジーダット)・田代哲也中武繁寿北九州市大
等長配線制約は, ゼロスキューや電圧降下に代わる設計制約としてよく用いられる. 本論文では, 線形計画法(LP)による等... [more] CAS2006-6 VLD2006-19 SIP2006-29
pp.29-34
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