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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
ED, SDM, CPM
(共催)
2024-05-24
15:50
北海道 北海道大学クラーク会館(札幌キャンパス)
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
パワーサイクルセンサの感度向上に向けた新規構造の検討
大亀幸樹山北祐輝西澤伸一齋藤 渉九大
(ご登録済みです.開催日以降に掲載されます) [more]
SDM 2021-06-22
14:40
ONLINE オンライン開催 [依頼講演]二次元材料をチャネルとするFET
若林 整東工大SDM2021-24
 [more] SDM2021-24
pp.13-15
ICD, CPSY
(共催)
2016-12-16
16:10
東京 東京工業大学 等温点及びバックゲートバイアス制御を用いた広温度領域対応ISFETアレイの解析
多木 真徐 祖楽河原尊之東京理科大ICD2016-99 CPSY2016-105
高感度なpHセンサであるISFETは半導体技術の進歩により容易にアレイ化でき,製造,農業,医療,食品,環境などの分野で応... [more] ICD2016-99 CPSY2016-105
pp.155-160
ED 2015-08-03
13:30
東京 機械振興会館 PMMA濃厚ブラシを用いたpH不感応デバイスの開発
清水一輝豊橋技科大)・Baek Sungchul京大)・太齋文博・○岩田達哉石田 誠豊橋技科大)・辻井敬亘京大)・澤田和明豊橋技科大ED2015-47
本紙では、pH計測システムにおいて溶液電位を固定する為の参照電極に変わる、PMMA濃厚ブラシを用いた溶液電位のみを計測で... [more] ED2015-47
pp.1-4
ED, SDM, CPM
(共催)
2012-05-18
09:00
愛知 豊橋技術科学大学ベンチャー・ビジネス・ラボラトリー 半導体ドレイン層及び狭チャネルメサ幅による縦型InGaAsチャネルMISFETの高電圧利得化
柏野壮志平井 準池田俊介藤松基彦宮本恭幸東工大ED2012-26 CPM2012-10 SDM2012-28
我々はヘテロ接合電子ランチャと真性半導体チャネルを有する縦型MISFETの研究を行っている。この構造により7 MA/cm... [more] ED2012-26 CPM2012-10 SDM2012-28
pp.43-48
SDM 2010-06-22
14:10
東京 東京大学(生産研An棟) High-k/III‐V界面の組成・構造とMIS特性との関係
安田哲二宮田典幸卜部友二石井裕之板谷太郎前田辰郎産総研)・山田 永福原 昇秦 雅彦住友化学)・大竹晃浩物質・材料研究機構)・星井拓也横山正史竹中 充高木信一東大SDM2010-42
ゲート長が10 nm以下となる技術世代において駆動力向上と低消費電力化を可能にする技術としてIII-V族半導体をチャネル... [more] SDM2010-42
pp.49-54
ED 2010-06-17
13:50
石川 北陸先端大 電気化学的手法によるInP多孔質構造の形成と高感度化学センサへの応用
佐藤威友吉澤直樹岡崎拓行橋詰 保北大ED2010-35
電気化学的手法により自己組織化形成されるn-InP多孔質構造の形成条件を最適化し、孔径約100nmで深さ10ミクロン以上... [more] ED2010-35
pp.11-15
SDM 2009-11-12
15:55
東京 機械振興会館 CMOSバイオセンサー応用のためのデバイスモデリングとシミュレーション
宇野重康中里和郎名大SDM2009-141
CMOS バイオセンシングにおいて中心的役割を担うIon-sensitive Field-Effect Transist... [more] SDM2009-141
pp.33-37
SDM, ED
(共催)
2009-06-25
09:30
海外 海雲台グランドホテル(釜山、韓国) [招待講演]InGaAs/InP MISFET with epitaxially grown source
Yasuyuki MiyamotoToru KanazawaHisashi SaitoKazuhito FuruyaTokyo Inst. of Tech.ED2009-72 SDM2009-67
Recently, III-V thin films have been identified as potential... [more] ED2009-72 SDM2009-67
pp.99-103
SDM 2009-06-19
15:10
東京 東京大学(生産研An棟) 低しきい値pMISFETに向けたAl2O3を堆積させたHfO2ゲート絶縁膜のアニールプロセスの検討
諸岡 哲松木武雄三瀬信行神山 聡生田目俊秀栄森貴尚奈良安雄由上二郎池田和人大路 譲半導体先端テクノロジーズSDM2009-38
Al2O3/HfO2/SiON構造ゲート絶縁膜を形成するためのアニールプロセスとVfb, EOT及びVtバラツキとの関係... [more] SDM2009-38
pp.67-70
SDM 2009-06-19
15:40
東京 東京大学(生産研An棟) LaまたはAl添加によるHfSiOn/SiO2界面のダイポール変調に起因する移動度低下と閾値電圧シフトとの相関関係
辰村光介石原貴光犬宮誠治中嶋一明金子明生後藤正和川中 繁木下敦寛東芝SDM2009-39
high-k/SiO2界面のダイポール変調に起因するリモートクーロン散乱(RCS)による移動度低下と閾値電圧シフト(ΔV... [more] SDM2009-39
pp.71-76
MBE 2006-07-14
10:55
岡山 岡山大学医学部 ISFETセンシングシステムによる迅速細胞機能評価法の開発
毛利 聡中村通宏成瀬恵治岡山大
イオン感応性電界効果トランジスタ(ISFET)を用いたpHおよびPCO2センサによるCO2、NaHCO3、乳酸(LA)分... [more] MBE2006-29
pp.1-4
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