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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2020-02-26 10:25 |
東京 | 機械振興会館 | 畳み込みニューラルネットワークを活用したLSIテスト不良予測 ○岡 龍之介・大竹哲史（大分大）・熊木光一（ルネサス エレクトロニクス）  DC2019-87 |
近年，LSI は高集積化技術の発展や低価格化を要因として信頼性を保証するテストに関するコストが増大している．これまでに，... [more] | DC2019-87 pp.7-12 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) CPM, ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2017-11-06 14:55 |
熊本 | くまもと県民交流館パレア | 機械学習を用いたフェールチップ判別における適用識別器と判別確度の決定法 ○柚留木大地・大竹哲史（大分大）・中村芳行（ルネサス エレクトロニクス） VLD2017-36 DC2017-42 |
今日，半導体技術の進歩によるLSIの高集積化によりLSIの低価格化が進んでいる． LSIの品質を保ちつつ，テストコスト... [more] |
VLD2017-36 DC2017-42 pp.55-60 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC (共催) (連催) [詳細] |
2017-03-10 09:30 |
沖縄 | 具志川農村環境改善センター | フェイルダイ特性を考慮したLSIテスト結果予測の精度向上に関する研究 ○佐藤敬済・井上美智子（奈良先端大） CPSY2016-144 DC2016-90 |
LSIは様々なテストを経て, すべてのテストをパスした製品のみを出荷している. しかし, 大量の製品に対して, 数多くの... [more] | CPSY2016-144 DC2016-90 pp.291-296 |
| DC | 2017-02-21 12:00 |
東京 | 機械振興会館 | 機械学習を用いたフェールチップ判別の性能向上に関する検討 ○柚留木大地・大竹哲史（大分大）・中村芳行（ルネサス システムデザイン） DC2016-77 |
今日，半導体技術の進歩によるLSIの高集積化によりLSIの低価格化が進んでいる． LSIの品質を保ちつつ，テストコスト... [more] |
DC2016-77 pp.17-22 |
| DC | 2016-06-20 16:15 |
東京 | 機械振興会館 | ［招待講演］国際会議報告：VTS2016 ○畠山一実（群馬大/クリエイトロン） DC2016-16 |
2016年4月に米国ネバダ州ラスベガスで開催された第34回VLSIテストシンポジウム(VTS2016)について報告する．... [more] | DC2016-16 pp.37-42 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC (連催) (併催) [詳細] |
2016-03-25 15:45 |
長崎 | 福江文化会館・勤労福祉センター | LSIテストにおけるフェイル予測のためのばらつき補正に関する検討 ○小河 亮（奈良先端大）・中村芳行（ルネサス セミコンダクタパッケージ&テストソリューションズ）・井上美智子（奈良先端大） CPSY2015-158 DC2015-112 |
近年，データマイニングを用いたテストコスト削減手法が注目を集めている．LSIは多数のテスト工程を経て市場に出荷される．こ... [more] | CPSY2015-158 DC2015-112 pp.271-276 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2015-12-01 15:45 |
長崎 | 長崎県勤労福祉会館 | ［フェロー記念講演］VLSIテスト技術によるシステムディペンダビリティ向上への期待 ○梶原誠司（九工大） VLD2015-44 CPM2015-128 ICD2015-53 CPSY2015-64 DC2015-40 RECONF2015-51 |
VLSIの製造不良の検出を目的に行われる生産テストの技術は，テスト品質向上（故障検出能力の向上）とコスト削減を主眼に研究... [more] | VLD2015-44 CPM2015-128 ICD2015-53 CPSY2015-64 DC2015-40 RECONF2015-51 pp.43-44(VLD), pp.9-10(CPM), pp.9-10(ICD), pp.19-20(CPSY), pp.43-44(DC), pp.19-20(RECONF) |
| DC | 2010-02-15 16:05 |
東京 | 機械振興会館 | TEGチップのデジタル測定によるオープン故障のモデル化の検討 堤 利幸・○刈谷泰由紀・山崎浩二（明大）・橋爪正樹・四柳浩之（徳島大）・高橋 寛・樋上喜信・高松雄三（愛媛大） DC2009-77 |
LSIの微細化に伴い，LSIテストにおけるオープン故障への対策の重要性が増してきている．しかし，オープン故障の実用的なモ... [more] | DC2009-77 pp.75-80 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (共催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2008-11-17 14:15 |
福岡 | 北九州学術研究都市 | TEGチップを用いたオープン故障の解析 堤 利幸・○刈谷泰由紀・山崎浩二（明大）・橋爪正樹・四柳浩之（徳島大）・高橋 寛・樋上喜信・高松雄三（愛媛大） VLD2008-63 DC2008-31 |
半導体技術の高集積化が進みLSIの故障検出や故障診断が難しくなってきている．特に，オープン故障への対策はLSIの微細化に... [more] | VLD2008-63 DC2008-31 pp.19-24 |
| SANE | 2008-06-26 16:30 |
茨城 | JAXA筑波宇宙センター | 宇宙用論理LSIで発生する放射線誘起スパイクノイズの研究(仮) ○牧野高紘（総研大）・柳川善光（東大）・小林大輔（総研大/JAXA）・福田盛介（JAXA）・廣瀬和之・池田博一（総研大/JAXA）・斎藤宏文（東大/JAXA）・小野田 忍・平尾敏雄・大島 武（原子力機構）・高橋大輔・石井 茂・草野将樹・池淵 博・黒田能克（三菱重工） SANE2008-25 |
放射線によって論理LSI内に誘起されるスパイクノイズがソフトエラー源として顕在化してきている． 論理LSIはチップ内部... [more] |
SANE2008-25 pp.67-72 |
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